一种下行干扰确定方法及装置制造方法及图纸

技术编号:7684138 阅读:212 留言:0更新日期:2012-08-16 08:05
本发明专利技术提供一种下行干扰确定方法及装置,该方法应用于包括全向发射定向接收(OTSR)基站的系统,包括:对主服务小区的选定像素点,计算各小区发射信号覆盖到该选定像素点的参考信号接收功率,其中,所述OTSR基站下的各OTSR天线功分小区作为单独的小区分别计算;从所述各小区中选取所述像素点的干扰小区;根据所述选取的干扰小区发射信号覆盖到所述像素点的参考信号接收功率,确定所述像素点的下行总干扰。该装置包括:计算模块、选取模块和确定模块。通过本发明专利技术可以精确模拟LTE网络中OTSR基站配置的下行干扰仿真,以及后期的网络性能评估和容量仿真。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:范国田顾军刘康康张宇李晟俞胜兵
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1