一种基于受体部分光漂白和供体受体交替激发的FRET效率定量检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于受体部分光漂白和供体受体交替激发的FRET效率定量检测方法，其涉及一种定量检测方法，特别是涉及一种基于受体部分光漂白和供体受体交替激发的FRET效率定量检测方法，本发明专利技术通过部分光漂白受体，用供体、受体两种激发光交替激发样品，采集受体部分光漂白前后供体通道和受体通道的荧光强度，即可定量获得供体-受体对的FRET效率。该方法直接对待测样品进行检测，不需要任何辅助样品和额外的系统校正与补偿，不仅可以定量检测供体受体浓度比为1:1时FRET效率,而且还可以有效解决一个供体与多个受体存在时的FRET效率定量检测。该方法操作简单，对样品光损伤小，可以对同一个样品进行多次重复检测，可应用于样品中供体受体对FRET效率的快速定量检测中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种定量检测方法，特别是涉及一种基于受体部分光漂白和供体受体交替激发的FRET效率定量检测方法。
技术介绍
荧光共振能量转移(FRET)是一个依赖于距离的光物理进程，处于激发态的荧光团通过偶极子间的相互作用将能量以非辐射的方式转移给邻近的受体分子。FRET效率(E) 是因发生FRET效应而使供体转移给受体的能量百分比，因E与供受体间距离的六次方成反t匕，对距离的变化非常敏感，测量尺度在纳米范围，FRET技术被广泛应用于研究生物学、化学、医学问题如蛋白质间相互作用和构象的变化。目前应用最为广泛的是荧光寿命测量法(FLIM)和敏化受体发射法(E-FRET)。荧光寿命测量法是目前较为精确的方法，其他E的计算方法一般都以荧光寿命法作为对照，然而荧光寿命测量法所用仪器比较贵重，对激光器和人员技能要求较高，而且测量时间比较长，容易对样品进行光漂白。此外，E-FRET方法能够较为精确的测量E，但受光漂白程度、系统参数、供体激发光串扰和受体发射光串扰的影响，不仅需要多个辅助样品而且整个实验过程中需保证系统参数不变。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种操作简单的、适用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈同生，于怀娜，
申请(专利权)人：华南师范大学，
类型：发明
国别省市：