一种光纤光栅拉伸机构制造技术

本实用新型专利技术属于光纤光栅的应用技术领域，涉及一种光纤光栅拉伸机构。拉伸机构包括：左光纤绕筒、右光纤绕筒、左位移微调平台、右位移微调平台、左位移微调平台微调测微头、左位移微调平台粗调测微头、右位移微调平台粗调测微头、右位移微调平台微调测微头及底板，左光纤绕筒安装在左位移微调平台上，右光纤绕筒固定在右位移微调平台上，左位移微调平台和右位移微调平台分别安装固定在底板左右两端，左位移微调平台微调测微头和左位移微调平台粗调测微头安装在左位移微调平台的外侧，右位移微调平台粗调测微头和右位移微调平台微调测微头安装在右位移微调平台的外侧。本实用新型专利技术可以完全按照不同设计需求对波长进行任意调节。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于光纤光栅的应用
，涉及一种光纤光栅拉伸机构。
技术介绍
通过紫外写入技术，相位掩模写入法使得光纤某一段的折射率呈周期性的变化，该段折射率已经被改变的光纤称为光纤光栅。当光纤光栅所处环境的温度、压力、应变、振动等物理参量改变时，会造成通过光纤光栅或被光纤光栅反射的光波长改变。由于光纤光栅对温度、压力、应变、振动等多种物理参量具备灵敏特性，光纤光栅可被用作测量这些物理参量的传感器。根据具体测量要求，光纤光栅可通过不同封装形式而开发成温度、压力、应变或振动等各种传感器。在光纤光栅封装成为传感器的过程中，常常需要通过预拉伸对光纤光栅中心反射波长进行调制。传统方式采用加载砝码的方式，该方法不能实现对光栅中心反射波长的任意可调。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术的不足，提出一种能对光栅中心反射波长任意调制的光纤光栅拉伸机构。本技术的技术方案是，拉伸机构包括左光纤绕筒、右光纤绕筒、左位移微调平台、右位移微调平台、左位移微调平台微调测微头、左位移微调平台粗调测微头、右位移微调平台粗调测微头、右位移微调平台微调测微头及底板，左光纤绕筒安装在左位移微调平台上，右光纤绕筒固定在右位移微调平台上，左位移微调平台和右位移微调平台分别安装固定在底板左右两端，左位移微调平台微调测微头和左位移微调平台粗调测微头安装在左位移微调平台的外侧，右位移微调平台粗调测微头和右位移微调平台微调测微头安装在右位移微调平台的外侧。所述的左位移微调平台和右位移微调平台上的左位移微调平台粗调测微头和右位移微调平台粗调测微头的调节量分别为10 μ m/刻度，左位移微调平台微调测微头和右位移微调平台微调测微头的调节量分别为O. 5 μ m/刻度。本技术具有优点和有益效果是本技术将光纤光栅两端尾纤分别缠绕固定在左右两个光纤绕筒上，左右光纤绕筒分别安装固定在左右位移微调平台上。通过调节粗调和微调测微头调节平台位移量，从而带动光纤绕筒拉伸光纤。光纤光栅在拉应力作用下，光栅反射波长受到调制。将光纤一端尾纤接入光波长解调设备，可以实时观察波长改变量，当波长改变量达到预先 设定值时，停止调节实现了光纤光栅反射波长的精确调制，调制精度可以达到皮米量级。本技术克服了传统方式的不足，可以完全按照不同设计需求对波长进行任意调节。附图说明图I是本技术的结构示意图。具体实施方式如图I所示，本技术主要部件包括左光纤绕筒I、左位移微调平台2、右位移微调平台3、右光纤绕筒4、左位移微调平台微调测微头5、左位移微调平台粗调测微头6、底板7、右位移微调平台粗调测微头8、右位移微调平台微调测微头9。在实施操作前分别将左位移微调平台2和右位移微调平台3对称安装在底板7左右两端相距Im位置。将左光纤绕筒I安装固定在左位移微调平台2上，将右光纤绕筒4安装固定在右位移微调平台3上。将光纤光栅10左右两端尾纤分别缠绕固定在左光纤绕筒I和右光纤绕筒4上,光纤光栅10悬空放置于中部。光纤一端尾纤接入光波长解调设备11。在进行光栅预拉伸时，首先调节右位移微调平台3上的粗调测微头8 (根据操作者习惯也可选择左位移微调平台进行调节)，同时观察波长解调设备11上波长变化量。当波长改变量接近设计值时，调节右位移微调平台3上的微调测微头9对波长进行精细调节，当波长值达到该变量时停止调节。光栅波长调制过程完成。权利要求1.一种光纤光栅拉伸机构，其特征在于，拉伸机构包括左光纤绕筒(I)、右光纤绕筒(4)、左位移微调平台(2)、右位移微调平台(3)、左位移微调平台微调测微头(5)、左位移微调平台粗调测微头￠)、右位移微调平台粗调测微头(8)、右位移微调平台微调测微头(9)及底板(7)，左光纤绕筒(I)安装在左位移微调平台(2)上，右光纤绕筒(4)固定在右位移微调平台(3)上，左位移微调平台(2)和右位移微调平台(3)分别安装固定在底板(7)左右两端，左位移微调平台微调测微头(5)和左位移微调平台粗调测微头(6)安装在左位移微调平台(2)的外侧，右位移微调平台粗调测微头(8)和右位移微调平台微调测微头(9)安装在右位移微调平台(3)的外侧。2.根据权利要求I所述的光纤光栅拉伸机构，其特征在于所述的左位移微调平台(2)和右位移微调平台(3)上的左位移微调平台粗调测微头(6)和右位移微调平台粗调测微头(8)的调节量分别为IOym/刻度，左位移微调平台微调测微头(5)和右位移微调平台微调测微头(9)的调节量分别为0. 5 y m/刻度。专利摘要本技术属于光纤光栅的应用
，涉及一种光纤光栅拉伸机构。拉伸机构包括左光纤绕筒、右光纤绕筒、左位移微调平台、右位移微调平台、左位移微调平台微调测微头、左位移微调平台粗调测微头、右位移微调平台粗调测微头、右位移微调平台微调测微头及底板，左光纤绕筒安装在左位移微调平台上，右光纤绕筒固定在右位移微调平台上，左位移微调平台和右位移微调平台分别安装固定在底板左右两端，左位移微调平台微调测微头和左位移微调平台粗调测微头安装在左位移微调平台的外侧，右位移微调平台粗调测微头和右位移微调平台微调测微头安装在右位移微调平台的外侧。本技术可以完全按照不同设计需求对波长进行任意调节。文档编号G02B7/00GK202372686SQ201120471829公开日2012年8月8日 申请日期2011年11月18日 优先权日2011年11月18日专利技术者张博, 柯有新, 田俊华 申请人:武汉航空仪表有限责任公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：田俊华，张博，柯有新，
申请(专利权)人：武汉航空仪表有限责任公司，
类型：实用新型
国别省市：