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一种金卤灯及包括该金卤灯的照明装置制造方法及图纸

技术编号:7669928 阅读:161 留言:0更新日期:2012-08-11 04:58
本实用新型专利技术适用于照明领域,提供了一种金卤灯及包括该金卤灯的照明装置。金卤灯包括灯壳、与所述灯壳相连接的灯头以及与所述灯头相连接并位于所述灯壳内的发光件,其特征在于,所述灯壳包括透光部和用于与所述灯头相连接的尾部,以及位于所述尾部和透光部之间的反光部,所述反光部的内表面设有反射层,所述尾部的内表面或外表面设有遮光层,所述反射层与遮光层无缝衔接。本实用新型专利技术在金卤灯的尾部设置了遮光层,光线无法经尾部漏出,可避免形成杂散光照射在被检查物体表面,有效的改善了物体表面检查的精确性。该金卤灯特别适合用在用于表面缺陷检查的照明装置中,以提高表面检查的精确性。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于照明领域,尤其涉及ー种适合用于表面检查的金卤灯及包括该金卤灯的照明装置
技术介绍
表面检查 是指检查物体表面是否存在微小突起、异物、划痕等缺陷,例如液晶面板的表面缺陷检查。现有技术中存在ー种在暗室内通过特定波长范围的光照射物体表面,然后通过肉眼观察是否存在缺陷的检查方法,这种检查方法对照明光的亮度要求较高,同时要求避免杂散光的干扰。现有用于表面检查的照明灯具通常具有如图I所示的结构,在灯壳11的内表面设有反射层,用于将光线以较小角度反射到物体表面上,但是因为这种灯具的尾部111不会參与反射,并且在エ艺上在尾部111镀反射膜也较困难,因此尾部111通常不设反射层,因此这种灯具存在漏光的现象,光线漏射出去对照明光强的影响并不大,重要的是漏出的光线会构成杂散光经过ー些物体反射或散射到被检查物体表面,杂散光的干扰对检查结果的影响是不可忽视的。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种金卤灯,g在解决传统的表面检查灯具易漏光而影响检查结果的问题。本技术是这样实现的,一种金卤灯,包括灯壳、与所述灯壳相连接的灯头以及与所述灯头相连接并位于所述灯壳内的发光件,其特征在于,所述灯壳包括透光部和用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:尹龙贤
申请(专利权)人:尹龙贤
类型:实用新型
国别省市:

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