【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种逻辑内建自测试系统，属于集成电路板级生产测试领域。
技术介绍
随着集成电路的工艺尺寸的日益缩小和电路复杂度的不断提高，特别是片上系统 (System-on-Chip, SoC)的出现和广泛应用，超大规模集成电路的集成度已经发展到一个芯片上可以集成几千万个晶体管以上的程度。所以，探索和应用低成本、高效率的测试技术和测试系统已成为芯片测试中的一个重要课题。逻辑内建自测试(Logic Built-in Self-Test, LBIST)方法就是将测试仪的部分功能转移到集成电路的内部，用嵌入到集成电路中的测试电路来提高输入测试向量和分析响应功能，最后输出简单的测试结构。现有的逻辑内建自测试系统虽然较以前传统的依赖于自动化测试设备 (Automatic Test Equipment, ATE)的测试方法来说，已经实现了测试成本的大幅降低和测试效率的显著提升，但是，现有的逻辑内建自测试系统还存在测试资源分散及测试周期冗长的问题，具体说明如下。现有的逻辑内建自测试系统一般首先需要测试人员去收集大量的为测试做准备的原数据，比如网表文件、库文件、边界扫描文件、...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：唐飞，
申请(专利权)人：苏州工业园区谱芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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