一种测试数据编码压缩方法技术

本发明专利技术涉及一种测试数据编码压缩方法。所述方法包括以下步骤：以2的正整数次方L为数据段长度对原始测试数据进行分段，如果最后一个数据段长度不足L位，则在其尾部填充无关位以补足剩余位数，得到若干数据段；分别对若干数据段进行外部相容性分析，并根据外部相容性分析结果分别对数据段中的无关位进行回溯赋值；对无外部相容性的数据段进行内部相容性分析，得到数据段的内部编码类型并生成对应的内部基准数据段；根据编码规则和外部相容性分析结果或根据编码规则、外部相容性分析结果、内部编码类型和内部基准数据段得到数据段的编码码字。本发明专利技术实现了测试数据的二重压缩，提高了测试数据压缩率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数据编码技术，特别涉及。
技术介绍
自动化测试设备(Automatic Test Equipment, ATE)用于检测集成电路功能的完整性，是集成电路生产制造的最后流程，以确保集成电路生产制造的品质。随着集成电路设计规模的增大，待测试数据量呈现指数级增长、这导致了传统外部ATE面临着存储空间不足，输入输出时的带宽有限及数据测试时间过长等严峻的问题， 测试成本越来越高。测试数据压缩是解决上述问题的有效方法之一，通过压缩测试数据可以减少数据传输时间以及降低对ATE存储容量的要求。编码压缩方法是测试数据压缩中最常用的方法之一，常见的编码压缩方法包括Golomb编码、FDR编码、扩展的FDR编码、选择性哈夫曼编码、最优选择性哈夫曼编码和9C码等等。待测试数据中通常包含大量的无关位(X-bit)，这些无关位可以被任意赋值为O 或1，而不会影响故障覆盖率。因此，采用适当的编码压缩方法并结合相应的无关位填充策略能够有效提高数据压缩率。图形游程(Pattern Run Length, PRL)编码方法通过把原始数据划分为数据段并利用该数据段间的相容性关系来进行编码，针对无关位比重较大的测试集能够获取更高的压缩率。2010 年 2 月由 Maoxiang Yi, Huaguo Liang, Lei Zhang,和 Wenfa Zhan 等人在美国电子电气工程师协会(IEEE Trans)的学术期刊上发表的“ANovel-ploiting Strategy for Improving Performance of Test Data Compression” 文章中提出了一种 PRL 编码框架下的无关位传播与回溯赋值机制，以一种无关位传播方式来更新基准数据段。上述机制的缺点在于，针对与基准值不具有相容性关系的数据段没有压缩性，且编码所需要数据量较大，成为压缩率的瓶颈。2010 年由 Cheng-Ho Chang, Lung-Jen Lee, Wang-Dauh Tseng 等人在国际计算机研讨会(ICS)上发表的“2n_Pattern Run Length for Test Data Compression”,文章中提出了一种2n-PRL编码方法，以2n为划分的数据段长度，实现外部编码和内部编码的二重压缩效果。上述编码方法的缺点在于，该编码方法在执行外部编码时数据量较大，影响了压缩率。
技术实现思路
本专利技术的目的是解决上述现有技术中存在的问题。为实现上述目的，本专利技术提供了。所述方法包括以下步骤以2的正整数次方L为数据段长度对原始测试数据进行分段，如果最后一个数据段长度不足L位，则在其尾部填充无关位以补足剩余位数，得到若干数据段；分别对若干数据段进行外部相容性分析，并根据外部相容性分析结果分别对数据段中的无关位进行回溯赋值；对无外部相容性的数据段进行内部相容性分析，得到数据段的内部编码类型并生成对应的内部基准数据段；根据编码规则和外部相容性分析结果或根据编码规则、外部相容性分析结果、内部编码类型和内部基准数据段得到数据段的编码码字。本专利技术在PRL编码框架下，以2n为数据段长度对原始测试数据进行划分，使用了较短码字对外部相容性分析结果为不确定情况、相等情况和互补情况的数据段进行编码， 并且对无外部相容性的数据段进行了基于内部基准数据段的游程编码，实现了测试数据的二重压缩，提高了测试数据压缩率。附图说明图I为本专利技术实施例流程图；图2为本专利技术实施例数据段外部相容性分析和数据段无关位回溯赋值流程图；图3为本专利技术实施例无外部相容性的数据段内部相容性的分析和内部编码类型判断流程图。具体实施例方式下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。图I为本专利技术实施例基于无关位(用X表示)填充的测试数据编码压缩方法流程图。如图I所示，该方法包括步骤100-400。该方法首先定义测试数据的三种位运算，包括异或( ),求交(n )和求反 (!)，其运算规则分别为异或(十)l/0/X十X= X ,1 十0 = 1 ,0十0 = 1 十 1 = 0 ;求交(n) i/x n I = i,o/x n o = o, x/x = x ；由于本专利技术方法中不涉及O与I做“求交”运算的情况，故在这里没有给出定义。求反(！)！1 = 0, ! 0 = 1, ! X = X。根据上述位运算规则的定义来定义数据段的异或( ),求交(n )和求反(！) 运算规则。假设长度均为s位的两个数据段分别为a = ( , a2，. . .，as)，b = (b1 b2，...， bs),定义两个长度均为s位的数据段a和b进行“异或”操作，其结果仍为一个长度为s位的数据段，且该数据段中每个数据位均为a和b中对应的数据位做“异或”操作得到的结果， gpa十6 = (ax 十矣，a2 @b2”..，as 十之)；两个长度均为s位的数据段a和b进行“求交”操作，其结果仍为一个长度为s位的数据段，且该数据段中每个数据位均为a和b中对应的数据位做“求交”操作得到的结果， 即 a n b — (% n &2 n b。， ，Bs n bs)；对长度为s位的数据段a进行“求反”操作，其结果仍为一个长度为s的数据段， 且该数据段中每个数据位均为a中对应的数据位做“求反”操作得到的结果，即！ a = ( !， ! &2， ￡lg) o根据上述数据段“异或”运算操作的规则来定义某数据段(用a表示)相对于某基准数据段(用b表示)做相容性分析的结果情况。如果a与b进行“异或”操作得到的结果中每个数据位均为无关位X，则定义a相对于b的相容性分析结果为不确定情况，称为U-case ;否则，如果其中每个数据位不是X就是0，则定义a相对于b的相容性分析结果为相等情况，称为E-case ;否则，如果其中每个数据位不是I就是X，则定义a相对于b的相容性分析结果为互补情况，称为C-case ;否则，如果其中的数据位既有0也有I，则定义a相对于b的相容性分析结果无相容性,称为N-case。以下针对本专利技术实施例基于无关位填充的测试数据编码压缩方法流程图进行详细阐述在步骤100，以2的正整数次方2n为数据段长度对原始测试数据进行分段，如果最后一个数据段长度不足2"位，则在其尾部填充无关位以补足剩余位数，得到若干数据段。假设原始测试数据共有T位，选择一个正整数n，以数据段长度L = 2n对其进行划分，划分后的数据段依次为P。，P1, P2, . . . Pm-(共M个数据段)，如果最后一个数据段不足2n 位，则在其尾部填充无关位X以补足剩余位数。在一个例子中，假设原始测试数据为15位，即101000110001111，如果选取的正整数n为3，则数据段长度为L = 23 = 8。按此长度进行划分，划分后的数据段依次为Ptl和 P1, Po = 10100011, P1 = 0001111X。在步骤200，分别对在步骤100得到的数据段进行外部相容性分析，并根据外部相容性分析结果分别对数据段中的无关位(用X表示)进行回溯赋值。在步骤200中，对某测试数据段相对于某基准数据段进行相容性分析称为外部相容性分析，所使用的基准数据段称作外部基准数据段。对应的，在步骤300中，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴殿丞，王东辉，洪缨，侯朝焕，
申请(专利权)人：中国科学院声学研究所，
类型：发明
国别省市：