【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光谱的模拟方法，特别是一种阴影地物光谱的模拟方法。
技术介绍
阴影不仅是可见光学图像的重要组成部分，也是高光谱影像中的重要影响因素， 例如目前的热点效应研究、光谱尺度研究、目标识别都不能忽视阴影的影响。目前在阴影地物光谱的定量分析和模拟方面研究很少，多集中在阴影检测领域， 而阴影检测方法也主要集中在基于统计分析的检测和基于对比分析的检测，没有从深层次的光谱角度对阴影进行研究。同时由于不同波段的阴影强度受到地物反射率和入射光强度的影响存在很大差异，如果不能得到这种波段差异，就很难正确还原或是模拟阴影地物的真实光谱，也就难以探测阴影下的目标和消除阴影的影响。在高光谱模拟方面，阴影对地物光谱的影响也是不容忽视的，它决定模拟图像的真实感和层次感。以往采用简单的图像特征进行阴影处理，精度不高，无法还原阴影内地物的光谱信息，容易出现目标遗漏，直接影响了高光谱模拟的精度。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术的目的是提供一种基于阴影光谱亮度衰减系数的。为实现上述目的，本专利技术采取以下技术方案一种阴影地物光谱的模拟方法，其特征在于步骤如下步骤1，采用野外地物光...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林伟，陈玉华，王吉远，苏荣华，余松林，
申请(专利权)人：中国人民解放军六一五一七部队，
类型：发明
国别省市：
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