一种继电器阵列式导通绝缘测试电路制造技术

技术编号:7499935 阅读:471 留言:0更新日期:2012-07-11 00:35
本实用新型专利技术属于测试电路,具体涉及一种继电器阵列式导通绝缘测试电路。它包括选通电路和测量电路,其中选通电路,包括顺次连接的数字I/O模块、译码器、光电耦合器、驱动电路和继电器,其中数字I/O模块包括用于接收外部信号光电耦合器,光电耦合器的一个输出端与三极管的基极连接,三极管的发射极与地连接,三极管的集电极与二极管的正极连接,该二极管的负极通过电感与光电耦合器的另一个输出连接。二极管的负极还与正5V电源连接,二极管的正极通过电阻R1与正5V电源连接,同时二极管的正极作为数字I/O模块的输出。本实用新型专利技术的效果是:测试所需时间少,避免人工测试的误判。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

一种继电器阵列式导通绝缘测试电路
本新型属于测试电路,具体涉及一种继电器阵列式导通绝缘测试电路。技术背景导通绝缘测试是所有电器设备正式使用前必不可少的步骤。传统的电器测试过程是由工作人员手持试电笔或万用表对每个测试点进行逐一测试。测试过程长,测试过程产生错误的可能性大。当需要测试的测试点很多时(达到100个以上),测试过程将变得非常缓慢,无法满足工程需要。
技术实现思路
本技术针对现有技术的缺陷,提供一种继电器阵列式导通绝缘测试电路。本技术是这样实现的一种继电器阵列式导通绝缘测试电路包括选通电路和测量电路,其中选通电路,包括顺次连接的数字I/O模块、译码器、光电耦合器、驱动电路和继电器,其中数字I/O模块包括用于接收外部信号光电耦合器,光电耦合器的一个输出端与三极管的基极连接,三极管的发射极与地连接,三极管的集电极与二极管的正极连接,该二极管的负极通过电感与光电耦合器的另一个输出连接。二极管的负极还与正5V电源连接,二极管的正极通过电阻Rl与正5V电源连接,同时二极管的正极作为数字I/O模块的输出ο译码器的输出与光电耦合器的一个输入端连接,光电耦合器的另一个输入端通过电阻R2与正5V电源连接,光电耦合器的一个输出端与正12V电源连接,另一个输出端作为光电耦合器的输出。光电耦合器的输出端通过电阻R3和电阻R4与地连接,电阻R3与电阻R4的连接点与驱动器的输入端连接。驱动器的一个输出端与地连接,另一个输出端作为驱动器的输出端。驱动器的输出端与继电器的输入端连接,继电器的另一端与高电压12V连接。如上所述的一种继电器阵列式导通绝缘测试电路,其中,测量电路包括输入电源, 输入电源依次与电阻RS、继电器JK1、被测试产品RX、继电器JK2和电阻R连接,电阻R的另一端与地连接,所述的继电器JKl和继电器JK2的通断受前述的选通电路的控制。如上所述的一种继电器阵列式导通绝缘测试电路,其中,驱动器选择的是 MOTOROLA公司的UL拟803A,继电器是国营八九一厂的JRW-210MA,光电耦合器是TOSHIBA公司的 TLP181。如上所述的一种继电器阵列式导通绝缘测试电路,其中,所述电阻的阻值如下表所示权利要求1.一种继电器阵列式导通绝缘测试电路,其特征在于包括选通电路和测量电路,其中选通电路,包括顺次连接的数字I/O模块、译码器、光电耦合器、驱动电路和继电器,其中数字I/O模块包括用于接收外部信号光电耦合器,光电耦合器的一个输出端与三极管的基极连接,三极管的发射极与地连接,三极管的集电极与二极管的正极连接,该二极管的负极通过电感与光电耦合器的另一个输出连接。二极管的负极还与正5V电源连接,二极管的正极通过电阻Rl与正5V电源连接,同时二极管的正极作为数字I/O模块的输出。译码器的输出与光电耦合器的一个输入端连接,光电耦合器的另一个输入端通过电阻 R2与正5V电源连接,光电耦合器的一个输出端与正12V电源连接,另一个输出端作为光电耦合器的输出。光电耦合器的输出端通过电阻R3和电阻R4与地连接,电阻R3与电阻R4的连接点与驱动器的输入端连接。驱动器的一个输出端与地连接,另一个输出端作为驱动器的输出端。驱动器的输出端与继电器的输入端连接,继电器的另一端与高电压12V连接。2.如权利要求1所述的一种继电器阵列式导通绝缘测试电路,其特征在于测量电路包括输入电源,输入电源依次与电阻RSJS电器JKl、被测试产品RX、继电器JK2和电阻R连接,电阻R的另一端与地连接,所述的继电器JKl和继电器JK2的通断受前述的选通电路的控制。3.如权利要求2所述的一种继电器阵列式导通绝缘测试电路,其特征在于驱动器选择的是M0T0K0LA公司的UL拟803A,继电器是国营八九一厂的JRW-210MA,光电耦合器是 TOSHIBA 公司的 TLP181。4.如权利要求3所述的一种继电器阵列式导通绝缘测试电路,其特征在于所述电阻的阻值如下表所示专利摘要本技术属于测试电路,具体涉及一种继电器阵列式导通绝缘测试电路。它包括选通电路和测量电路,其中选通电路,包括顺次连接的数字I/O模块、译码器、光电耦合器、驱动电路和继电器,其中数字I/O模块包括用于接收外部信号光电耦合器,光电耦合器的一个输出端与三极管的基极连接,三极管的发射极与地连接,三极管的集电极与二极管的正极连接,该二极管的负极通过电感与光电耦合器的另一个输出连接。二极管的负极还与正5V电源连接,二极管的正极通过电阻R1与正5V电源连接,同时二极管的正极作为数字I/O模块的输出。本技术的效果是测试所需时间少,避免人工测试的误判。文档编号G01R31/12GK202305638SQ20112042283公开日2012年7月4日 申请日期2011年10月31日 优先权日2011年10月31日专利技术者张天琪, 张洋, 郭军 申请人:中国运载火箭技术研究院, 北京天高智机技术开发公司, 北京精密机电控制设备研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:郭军张天琪张洋
申请(专利权)人:北京天高智机技术开发公司北京精密机电控制设备研究所中国运载火箭技术研究院
类型:实用新型
国别省市:

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