环测实验装置制造方法及图纸

一种环测实验装置，用于待测元件性能测试，其包括一本体及一调温装置，该本体包括一盖体及一腔体，该盖体与腔体配合形成一容置空间；该调温装置包括一加热装置，该加热装置设于本体上以使容置空间内的温度升高。所述环测实验装置结构简单，造价较低，可配合待测元件进行设计，减轻了实验室研究开发的经济负担，从而使功能测试项目易于进行。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种环测实验装置，尤其是关于一种结构简单、可配合待测样品设计的环测实验装置。
技术介绍
随着时代的进步，各种电子产品在我们日常生活中的地位越来越重要，而电子产品及其各种元件的成品和半成品在一般功能测试之后，还必须经过严格的环境测试以确保相关元件在各种不同气候状态下仍具有正常元件或模块所应具有的功能，因此环境测试对电子元件、模块尤其是应用于较高速率或是工作环境比较恶劣的设备的电子元件、模块的功能评估具有必要性。然而，市场上一般的环境测试装置价格昂贵，结构复杂，甚至需要搭配载台设备，而又不一定能完全吻合实验室在开发产品所需功能测试项目的要求，增大了实验室研究开发的经济负担，并使功能测试项目因成本太高而难于进行。
技术实现思路
针对上述问题，有必要提供一种结构简单、造价较低的环测实验装置。一种环测实验装置，用于待测元件性能测试，其包括一本体及一调温装置，该本体包括一盖体及一腔体，该盖体与腔体配合形成一容置空间；该调温装置包括一加热装置，该加热装置设于本体上以使容置空间内的温度升高。相较于现有技术，所述环测实验装置结构简单，造价较低，可配合待测元件进行设计，减轻了实验室研究开发的经济负担，从而使功能测试项目易于进行。附图说明图1是本专利技术环测实验装置较佳实施方式的组装立体图；图2是本专利技术环测实验装置较佳实施方式的部分剖面图。具体实施方式请参阅图1及图2所示，本专利技术环测实验装置的较佳实施方式用于对离型膜、光通信元件、电子元件等相关待测元件26进行环境测试，该环测实验装置包括一本体10、一调温装置(图未标)及一温度感测装置24。本体10为一壳体，由导热性能较佳的材料制成，该本体10包括一盖体102及一腔体104。本体10的形状及大小与待测元件26相配合，能将待测元件26放入即可。盖体102为一薄板，与腔体104相配合；腔体104为一闭合腔体，通过打开盖体102可将待测元件26装入腔体104或从腔体104中取出。调温装置包括一降温装置(图未标)及一加热装置22，该调温装置通过使用适量制冷剂及适量冲换剂(图未示)实现降温和置换气体，其中，制冷剂为液态氮或液态二氧化碳等液态气体，冲换剂为氮气或二氧化碳等气体，且该制冷剂与冲换剂可分别容置于一专用容器(图未示)。该降温装置包括多个传输管12、14、16、18及多个调节阀20，该多个传输管12、14、16、18为本体10外壁突起的管道，分散分布于腔体104外壁的不同部位，其中，传输管12与传输管14居于本体10底端附近，传输管16与传输管18居于传输管12与传输管14上方。该多个传输管12、14、16、18两端开放，一端与腔体104连通，另一端与外界连通。调节阀20为一控制阀门，该调节阀20分别连接所述传输管12、14、16、18，通过调整调节阀20可以控制液体或气体流出或流入。加热装置22为一加热线圈，其绕于腔体104外壁，通过热传导使本体10内部温度升高。显然，该加热装置22也可安装于腔体104内部。温度感测装置24用于测试本体10的腔体104内的温度，该温度感测装置24穿过盖体102，温度感测装置24感测温度一端置于腔体104内，显示数据一端微微露出盖体，以方便读取数据。另外，该温度感测装置24可为一温度传感器或温度探针。测试过程中，提供适量冲换剂及适量制冷剂，放置于本体10外部待用；将待测元件26置于本体10的腔体104内，将温度感测装置24安装于本体10上，使传输管12为进液口，传输管14为进气口，传输管16为出液口，传输管18为出气口。进行冷却实验时，关闭传输管12、16上安装的调节阀20，即关闭进液口和出液口，从传输管14连通外界的一端冲入冲换剂，腔体104中的气体从传输管18中流出，以置换本体10中气体环境；将传输管14、16、18上安装的调节阀20关闭，打开传输管12上安装的调节阀20，从传输管12连通外界的一端输入制冷剂，以快速冷却本体10内空间，配合温度感测装置24感测的温度按需调节传输管12的调节阀20。进行耐热实验时，关闭所有调节阀20，将加热装置22通电，则腔体104迅速升温，配合温度感测装置24使腔体104内部达到所需温度。可以理解，所述多个传输管12、14、16、18及调节阀20可以省去，可以将盖体102打开，根据需要将制冷剂或冲换剂直接冲入腔体104中。所述冲换剂可以省去，直接进行加热或冷却。所述调节阀20可为自动阀门，如电磁阀；所述温度感测装置24可配合一比例积分微分(Proportional Integral Derivative，PID)控制模块(图未示)，该比例积分微分模块与调节阀20相连接；根据温度传感器24感测的温度信号，比例积分微分模块控制调节阀20的开启与关闭状态。所述加热装置22除加热线圈外，还可为其它电阻式加热装置或电子束加热装置、电弧加热装置以及激光加热装置等具备快速升温功能的装置。另外，所述温度感测装置24可安装于本体10侧壁上；所述温度感测装置24也可不要，可先确定制冷剂的降温系数，即制冷剂数量与温度的固定关系，从而在实验过程中，只需根据制冷剂的流速与流入时间来实现控温。所述环测实验装置结构简单，造价较低，可配合待测元件26进行设计，减轻了实验室研究开发的经济负担，从而使功能测试项目易于进行。权利要求1.一种环测实验装置，用于待测元件性能测试，其特征在于该环测实验装置包括一本体及一调温装置，该本体包括一盖体及一腔体，该盖体与腔体配合形成一容置空间；该调温装置包括一加热装置，该加热装置设于本体上以使容置空间内的温度升高。2.如权利要求1所述的环测实验装置，其特征在于所述本体的形状及大小与待测元件相配合；所述盖体为一薄板；所述腔体为一闭合腔体，打开盖体可将待测元件装入腔体或从腔体中取出。3.如权利要求1所述的环测实验装置，其特征在于所述调温装置还包括一降温装置，该降温装置包括多个传输管及多个调节阀，该传输管为本体外壁突起的管道，其两端开放，一端与腔体连通，另一端与外界连通。4.如权利要求3所述的环测实验装置，其特征在于所述调节阀为一控制阀门，安装于传输管的管壁上，通过调整调节阀可以控制传输管打开或关闭。5.如权利要求3所述的环测实验装置，其特征在于所述降温装置通过制冷剂降低容置空间内的温度，该制冷剂为液态氮或液态二氧化碳。6.如权利要求1所述的环测实验装置，其特征在于所述本体由导热性能较佳的材料制成，该加热装置为一加热线圈，其绕于本体外壁，通过热传导使腔体内部温度升高。7.如权利要求6所述的环测实验装置，其特征在于所述加热装置安装于腔体内部。8.如权利要求1所述的环测实验装置，其特征在于所述环测实验装置还包括一温度感测装置，其安装于本体的盖体或侧壁上，该温度感测装置为一温度传感器或温度探针。9.如权利要求1所述的环测实验装置，其特征在于所述温度感测装置配合一比例积分微分控制模块，该比例积分微分模块与调节阀相连接以控制调节阀的状态。10.如权利要求1所述的环测实验装置，其特征在于所述加热装置为电阻式加热装置，或电子束加热装置，或电弧加热装置，或激光加热装置。全文摘要一种环测实验装置，用于待测元件性能测试，其包括一本体及一调温装置，该本体包括一盖体及一腔体，该盖体与腔体配合形成一容置空间；该调温装置包本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种环测实验装置，用于待测元件性能测试，其特征在于：该环测实验装置包括一本体及一调温装置，该本体包括一盖体及一腔体，该盖体与腔体配合形成一容置空间；该调温装置包括一加热装置，该加热装置设于本体上以使容置空间内的温度升高。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄全德，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]