一种显微组分激光剥蚀同位素分析装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种显微组分激光剥蚀同位素分析装置及方法，属于测定岩石样品有机成分分析领域。本装置包括激光器、显微镜、样品池、高温氧化炉、冷阱以及同位素质谱仪等。在显微镜下观察找出置于样品池内的有机显微组分，通过激光剥蚀使其气化释放，释放的有机组分经高温氧化炉被氧化成二氧化碳和水，二氧化碳在冷阱内被富集，然后载气携带二氧化碳进入同位素质谱仪进行检测分析，从而确定各种有机质显微组分的同位素值。利用本装置，有效地避免了不同岩石组成成分同位素的混合，提高了地质解释精度，提供了更有针对性的有机地球化学信息，更好地为油气地质勘探服务。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测定岩石样品有机成分分析领域，具体涉及。
技术介绍
岩石样品中有机质成分广泛应用于石油有机地球化学的研究领域内，从分析对象来说可以分为三种可溶部分(抽提物)、不溶部分(干酪根)以及全岩分析(如热解分析、 同位素分析等)，这些有机地球化学应用分析方法能够提供有机化石(例如煤、烃源岩、油页岩及干酪根等)的分子组成数据。具体如下1，岩石可溶部分成分分析为将大块岩石样品粉碎后经过极性溶剂(如氯仿等)抽提得到浙青A，浙青A可以经过柱层析(填料一般为硅胶/氧化铝)被分离成各组馏分(饱和烃、芳烃、非烃以及浙青质)。对于饱和烃、芳烃、非烃、浙青质以及浙青A的成分或者同位素分析就组成了岩石可溶部分的分析；2，岩石不溶部分一般是指干酪根，即抽提过后的残渣经酸洗后得到的不溶于有机溶剂也不能被无机酸溶解的那部分有机物。一般对其主要进行同位素以及元素分析；3，全岩分析是指大块岩石样品经粉碎混合均勻后直接进行热解或者同位素分析。以上这些分析方法都是针对大块的岩石样品而言，其结果并不能说明这些物质与显微相关的和/或者异常来源的信息，反映的是其中不同组分的平均值。而显微激光剥蚀分析则是通过显微镜定位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张志荣，陶成，饶丹，施伟军，张渠，王强，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：