测试和测量仪器中的时域触发制造技术

技术编号:7265367 阅读:170 留言:0更新日期:2012-04-14 20:47
本发明专利技术的名称为测试和测量仪器中的时域触发。本发明专利技术的实施例提供诸如实时谱分析器(RTSA)或示波器之类的测试和测量仪器中的诸如频率和相位触发之类的增强触发能力。测试和测量仪器能够包括接收RF信号的输入端子、将RF信号数字化的ADC、产生I和Q基带分量信息的数字下变频器以及使用I和Q信息来确定功率水平的功率检测器。比较器把从功率检测器所接收的功率水平与用户可定义功率阈值进行比较,并且产生用于启用一个或多个相位或频率解调器的逻辑信号。一个或多个解调器在功率检测器所确定的功率水平超过功率阈值时产生从I和Q分量信息所得出的基于IQ的时域轨迹。触发电路配置成响应经延迟的触发启用信号而对事件进行触发。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及测试和测量仪器中的时域触发
技术介绍
按传统方式,谱分析器具有最小触发能力。例如,谱分析器上的功率对频率的公共显示器通常是非触发的。近来,随着谱分析器已经转换成数字获取技术,已经引入更高级的触发。采用当今的通信标准,跳频和相位调制变得更为普遍。在跳频应用中,射频(RF) 信号的功率在频率发生变化时是恒定的。这使传统功率触发无用,因为不存在要对其进行触发的功率的变化。当达到特定频率时或者当达到特定相位值时,用户需要能够进行触发 (并且因而获取数据)。例如经由频率模板触发方式来解决谱分析器中这些问题的常规方式由于各种原因而会使用户受到阻碍。例如,时间分辨率是太过“粒状”而无法实现许多应用中的预期触发性能。另外,解析小间隔频率分量的能力会受到频率模板触发的限制。此外,RF信号往往包括脉冲或RF “突发”,其中信息在活动的突发期间传送,之后跟随噪声或不活动的周期。这会导致错误和不准确触发。当前技术没有提供这样的触发 易于隔离感兴趣频率或相位事件并且然后仅对感兴趣数据进行触发和/或捕获。如果感兴趣事件只是很少地发生(例如每天或每周一次),则存储足够获取数据以便确保能够看到和分析事件是不切实际的。相应地,仍需要用于生成频率和相位信息的触发的更灵活的仪器和方法。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供诸如实时谱分析器(RTSA)或示波器之类的测试和测量仪器中的诸如频率和相位触发之类的增强触发能力。在本专利技术的一些示例实施例中,测试和测量仪器包括输入端子,接收被测射频 (RF)信号;模数转换器(ADC),将RF信号数字化;数字下变频器,从数字化RF信号来产生 I (同相)和Q (正交)基带分量信息;功率检测器,使用I和Q基带分量信息来确定功率水平;以及一个或多个解调器,在功率检测器所确定的功率水平超过预定义功率阈值时产生基于IQ的时域轨迹。预定义功率阈值能够是用户可定义的。该仪器还能够包括比较器,它在操作上耦合到功率检测器,并且配置成将用户可定义功率阈值与从功率检测器所接收的功率水平进行比较。比较器能够产生用于启用一个或多个解调器的逻辑信号。触发电路配置成响应启用信号或者经延迟的触发启用信号而对与基于IQ的时域轨迹关联的事件进行触发。在一些实施例中,提供一种用于对与基于IQ的时域轨迹关联的事件进行触发的方法,该方法包括在测试和测量仪器的端子接收被测射频(RF)信号、使用ADC将被测RF信号数字化、对数字化信号进行下变频并且产生I和Q基带分量信息、使用I和Q基带分量信息来确定功率水平、将用户可定义功率阈值与该功率水平进行比较以及在功率水平超过用户可定义功率阈值时产生启用信号。 附图说明图IA示出按照本专利技术的一个示例实施例的测试和测量仪器的框图,其中包括RF/ IF转换器、模数转换器(ADC)、数字下变频器、存储一个或多个记录的获取存储器、功率检测器/解调器部分、触发电路、控制器以及显示单元。图IB示出与图IA所示测试和测量仪器相似的测试和测量仪器的框图,但是其中包括接收中频(IF)信号并且产生启用信号的模拟功率检测器/解调器部分。图2示出按照本专利技术的另一个示例实施例、与图IA所示的测试和测量仪器相似的测试和测量仪器的框图,但是其中包括直接在ADC与获取存储器之间的线路,并且包括具有功率检测器/解调器部分和触发部分的控制器。图3示出按照本专利技术的一个示例实施例、图IA和图2的功率检测器/解调器部分的框图。图4示出按照本专利技术的一个示例实施例的简化图,其中包括RF信号、功率水平信号以及具有各种触发启用特性和触发事件的基于IQ的时域轨迹。图5示出如在频率对时间轨迹图中绘制的跳频信号,该轨迹图示出按照本专利技术的一些实施例的各种特性和触发技术。图6是示出按照一些实施例、用于对与频率或相位时域轨迹关联的事件进行触发的技术的流程图。具体实施例方式本专利技术的实施例提供诸如实时谱分析器(RTSA)或示波器之类的测试和测量仪器中的诸如频率和相位触发之类的增强触发能力。图IA示出按照本专利技术的一个示例实施例的测试和测量仪器100的框图,其中包括RF/IF转换器112、ADC 108、数字下变频器115、存储一个或多个记录135的获取存储器 130、功率检测器/解调器部分145、触发电路147、控制器140以及显示单元150。测试和测量仪器100优选地是诸如RTSA之类的数字谱分析器,但是还能够包括示波器或者其它适当测量装置。为了简洁和一致起见(而非限制),测试和测量仪器在本文中将一般称作信号分析器。信号分析器100可具有适合与本文所述的各个实施例配合使用的诸如输入端子 110之类的多个通道或输入。输入端子110能够接收例如频率在DC至20+GHz之间的信号。 虽然信号分析器可具有单个输入端子110,但是所述的专利技术方面同样可适用于具有两个输入、四个输入或者任何数量的输入的信号分析器。虽然信号分析器100的组件示为直接相互耦合,但是应当理解,信号分析器100能够包括各种其它电路或软件组件、输入、输出和/ 或接口,它们不一定被示出,但设置在信号分析器100的所示组件之间或者以其它方式与其关联。在输入端子110接收被测电信号、优选地为RF信号。RF信号能够由RF/IF转换器 112转换成模拟中频(IF)信号,RF/IF转换器112能够在信号由ADC 108进行数字化之前对其进行滤波。数字下变频器115能够从数字化IF信号来产生I和Q基带分量信息。但是,本文将一般提及“RF信号”或“多个RF信号”,并且应当理解,这种提及能够包括一个或多个RF信号或者从RF信号所得出的一个或多个IF信号。ADC 108构造成将被测RF信号数字化。数字下变频器115在操作上耦合到ADC 108,接收数字化RF信号,并且从数字化RF信号来产生1(同相)和Q(正交)基带分量信息。更具体来说,下变频器115能够将正弦和余弦与数字化RF信号进行数值相乘,由此生成包含原始RF信号中存在的全部信息的I和Q分量信息。虽然数字下变频器115的实现能够根据测试和测量仪器是RTSA还是示波器而改变,但是在任何情况下,用于实现这个组件的硬件或软件以足够实时提供I和Q分量信息的速率进行操作。将I和Q分量信息传送给功率检测器/解调器部分145,功率检测器/解调器145 还能够实时处理信息。I和Q分量信息的每个能够通过与M位信息对应的多条线路来传送, 如图IA所示。下面将进一步描述,功率检测器/解调器部分防止错误触发,并且避免无效数据因不存在有效RF输入信号时存在的噪声而被生成。另外,部分145产生基于IQ的时域轨迹,例如相位对时间和/或频率对时间轨迹,它们被传送给触发电路147。术语“轨迹” 和“多个轨迹”应当广义地理解为包括能够被存储和/或在显示装置上绘制并且能够向用户传达关于所接收信号、所得出信号或者所生成信号的信息的任何信息或数据。触发电路147在被启用时能够对与频率对时间轨迹或相位对时间轨迹关联的一个或多个事件实时触发。触发事件处或附近的感兴趣间隔或区域能够使用显示单元150来显示,使得信号分析器的用户能够分析感兴趣区域。下面提供由功率检测器/解调器部分 145和触发电路147所实现的各种组件和技术的附加细节。获取存储器130在操作上耦合到数字下变频器115,并且配置成获取本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:A·K·小希尔曼M·K·达西尔瓦K·A·恩霍尔姆K·P·多比恩斯
申请(专利权)人:A·K·小希尔曼M·K·达西尔瓦K·A·恩霍尔姆K·P·多比恩斯
类型:发明
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