互感器综合特性测试仪制造技术

技术编号:7209626 阅读:295 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种互感器综合特性测试仪,包括内部结构和外接装置,内部结构由主控芯片ARM(1)、控制部分(2)、调压器(3)、升流器(4)和采样器(5)构成,主控芯片ARM(1)连接控制部分(2),控制部分(2)分别与调压器(3)和升流器(4)连接,调压器(3)和升流器(4)的另一端连接采样器(5),采样器(5)的另一端与主控芯片ARM(1)连接,所述外接装置分别与主控芯片ARM(1)连接。外接装置包括显示屏(6)、输入设备(7)和输出设备(8)。本实用新型专利技术提供的互感器综合特性测试仪采用ARM作为主控芯片,使用旋转鼠标操作,并配备了320*240的液晶显示屏,仪器的操作使用简单方便,对于测试记录还能随机存储和即时打印。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术一种互感器综合特性测试仪
技术介绍
目前互感器需要进行多个项目的测试,如CT伏安特性试验、PT伏安特性试验,CT 极性试验、PT极性试验,CT变比极性试验和PT变比极性试验,自动计算CT的任意点误差曲线,CT/PT变比比差。所有这些测试项目只有单个地进行,非常麻烦,不利于生产。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种互感器综合特性测试仪,该仪器采用ARM作为主控芯片,使用旋转鼠标操作,并配备了 32(^240的液晶显示屏,仪器的操作使用简单方便,对于测试记录还能随机存储和即时打印。本技术提供的互感器综合特性测试仪包括内部结构和外接装置,内部结构由主控芯片ARM、控制部分、调压器、升流器和采样器构成,主控芯片ARM连接控制部分,控制部分分别与调压器和升流器连接,调压器和升流器的另一端连接采样器,采样器的另一端与主控芯片ARM连接,所述外接装置分别与主控芯片ARM连接。优选的,上述外接装置包括显示屏、输入设备和输出设备。优选的,上述采样器为高精度16位AD采样器。优选的,上述显示屏为液晶显示屏,输入设备为旋转鼠标,输出设备为微型打印机。本技术的有益效果是1、输出容量大,仪器操作安全方便,使试验人员远离高压电路,确保其人身安全。2、输出容量大,伏安特性试验最大输出电压高达1000V,变比测试最大电流高达 600A,仪器输出容量为5kVA。3、可选配件包括外接升压器,外接升流器,外接调压器,外接升压器最高电压可升至2000V,3A,外接升流器可升至1000A,外接调压器最大输出可达1500V,20A,采用外接升压器时,最高可做500kV等级IA电流互感器的伏安特性试验。4、大屏幕320M40点阵汉字图形界面,测试完成后可直接显示伏安特性曲线图, 图形清晰,美观,易于分析,自带微型打印机,可随时打印曲线和测试结果。附图说明图1是本技术的结构示意图。图中1-主控芯片ARM ;2-控制部分;3_调压器;4_升流器;5_采样器;6_显示屏; 7-输入设备;8-输出设备。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步描述。如图1所示,互感器综合特性测试仪,包括内部结构和外接装置,内部结构由主控芯片ARM1、控制部分2、调压器3、升流器4和采样器5构成,主控芯片ARMl连接控制部分 2,控制部分2分别与调压器3和升流器4连接,调压器3和升流器4的另一端连接采样器 5,采样器5的另一端与主控芯片ARMl连接,外接装置分别与主控芯片ARMl连接。其中,采样器为高精度16位AD采样器。外接装置包括显示屏6、输入设备7和输出设备8,其中显示屏6为液晶显示屏,输入设备7为旋转鼠标,输出设备8为微型打印机。本技术提供的互感器综合特性测试仪为全微机化装置,内置进口高性能CPU, 可靠性高,按界面提示设定测试值后,不需人工接触被测试设备。伏安特性试验最大输出电压高达1000V,变比测试最大电流高达600A,仪器输出容量为5kVA。同时该测试仪还是一款全自动化的PT、CT特性测试仪器,仪器可以完成的试验包括CT伏安特性试验、PT伏安特性试验,CT极性试验、PT极性试验,CT变比极性试验和PT变比极性试验,自动计算CT的任意点误差曲线,CT/PT变比比差等结果参数。仪器操作安全方便,全微机化装置,内置进口高性能CPU,可靠性高。输出容量大,伏安特性试验最大输出电压高达1000V,变比测试最大电流高达600A,仪器输出容量为^VA。以上所述之具体实施方式为本技术的较佳实施方式,并非以此限定本技术的具体实施范围,本技术的范围包括并不限于本具体实施方式,凡依照本技术之形状、结构所作的等效变化均在本技术的保护范围内。权利要求1.一种互感器综合特性测试仪,包括内部结构和外接装置,其特征在于内部结构由主控芯片ARM(I)、控制部分O)、调压器(3)、升流器(4)和采样器(5)构成,主控芯片 ARM(I)连接控制部分O),控制部分(2)分别与调压器(3)和升流器(4)连接,调压器(3) 和升流器(4)的另一端连接采样器(5),采样器(5)的另一端与主控芯片ARM(I)连接,所述外接装置分别与主控芯片ARM(I)连接。2.根据权利要求1所述的互感器综合特性测试仪,其特征在于,所述外接装置包括显示屏(6)、输入设备(7)和输出设备(S)03.根据权利要求1或2所述的互感器综合特性测试仪,其特征在于,所述采样器为高精度16位AD采样器。4.根据权利要求2所述的互感器综合特性测试仪,其特征在于,所述显示屏(6)为液晶显示屏,输入设备(7)为旋转鼠标,输出设备(8)为微型打印机。专利摘要本技术涉及一种互感器综合特性测试仪,包括内部结构和外接装置,内部结构由主控芯片ARM(1)、控制部分(2)、调压器(3)、升流器(4)和采样器(5)构成,主控芯片ARM(1)连接控制部分(2),控制部分(2)分别与调压器(3)和升流器(4)连接,调压器(3)和升流器(4)的另一端连接采样器(5),采样器(5)的另一端与主控芯片ARM(1)连接,所述外接装置分别与主控芯片ARM(1)连接。外接装置包括显示屏(6)、输入设备(7)和输出设备(8)。本技术提供的互感器综合特性测试仪采用ARM作为主控芯片,使用旋转鼠标操作,并配备了320*240的液晶显示屏,仪器的操作使用简单方便,对于测试记录还能随机存储和即时打印。文档编号G01R35/02GK202153256SQ20112028916公开日2012年2月29日 申请日期2011年8月10日 优先权日2011年8月10日专利技术者李丰, 李虎 申请人:武汉市华天电力自动化有限责任公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种互感器综合特性测试仪,包括内部结构和外接装置,其特征在于:内部结构由主控芯片ARM(1)、控制部分(2)、调压器(3)、升流器(4)和采样器(5)构成,主控芯片ARM(1)连接控制部分(2),控制部分(2)分别与调压器(3)和升流器(4)连接,调压器(3)和升流器(4)的另一端连接采样器(5),采样器(5)的另一端与主控芯片ARM(1)连接,所述外接装置分别与主控芯片ARM(1)连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李虎
申请(专利权)人:武汉市华天电力自动化有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:83

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1