用以保护对抗寄生离子化辐射来源的放射学特征装置制造方法及图纸

技术编号:7169999 阅读:302 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种放射学特征装置,其包含至少一准直放射学的测量探针(6),一感测端部其是置于一可变的准直仪(2)中,其具有一开口以及一观测区。所述准直仪(2)是通过一准直仪支撑器(1)所支持。所述组件(3)是由准直仪与准直仪支撑器所组成,其是插入一迭屏蔽屏幕(5)的两个之间。所述屏蔽屏幕(5)是可替换的以便调整其厚度。所述组件(11)是由准直仪与准直仪支撑器所组成,以及所述屏蔽屏幕(5)提供所述探针(6)对于来自位于所述准直仪(2)的观测区外部的离子化辐射来源的寄生离子化辐射保护。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及保户对抗寄生离子化辐射来源的放射学特征装置。放射学特征工具与所述装置可做定量测量,也就是说,剂量率与以光谱测定术所呈现的放射性元素的质量测量。在核子工业中,在恶劣的环境中工作是频繁的,特别是拆除核子装置的操作。这些操作必定是通过法规、实务与优化的方法来约束,例如应用所述ALARA(如可合理完成的低限,as low as reasonably achievable)原则。被业界建立所述原则以便降低暴露于离子化辐射,因此考虑至关于经济上的与社会的因素,其应尽可能地低。在实务上,所述技术操作是仰赖对于背景与更精确地所述原位放射学特征的熟练,也就是说,污染的浓度程度、其所在处及于定处的所述放射性元素的品质。
技术介绍
现有放射学特征装置,例如于法国专利申请案FR 2789304中所述的装置,其与伽玛照相机以及准直伽玛光谱侦测器一同使用,所述准直仪具有一观测区,其包含在伽玛照相机的观测区中。于此装置中,所述准直仪是固定的且围绕于所述伽玛光谱侦测器。所述文件”通过结合所述EDR单向伽玛扫描仪与所述VISIPLAN 3D规划工具的用途将放射性点特征化与模组化”,F. Vermeersch等人,2003年,其展现储存于一前端面装设截头圆锥形屏幕钢制框罩的铯钛结晶型伽玛侦测器伴随光电二极管的伽玛分析仪的用途,此屏幕是通过钢制准直仪所延展。很明确的,为呈现不同程度的离子化辐射来源,如拆除的建筑物中,其必须具有不同可交换尺寸的可用的准直仪。称为Radscan 600的放射学特征装置也为已知,如美国专利US 7095030的图1所说明。所述装置具有一检测头,其包含一影像照相机、一准直伽玛侦测器以及一雷射遥测装置。在此装置中,其准直仪为可置换的。此装置的缺点是于操作中,低强度的热点可能被准直仪的观测区外部的更高强度的热点所覆盖。
技术实现思路
本专利技术的目的是提出一种放射学特征装置,其不具有前述限制与困难,以及特别地是其在更高强度的离子化辐射来源存在下,可不被寄生杂讯干扰,具有区别较低强度离子化辐射来源的能力。本专利技术的另一目的是提供一种具有一可调整的准直仪的放射学特征装置。本专利技术的另一目的是提供一种具有可交换的放射学测量探针的放射学特征装置。为了达到此目的,本专利技术是为一种放射学特征装置,其包含至少一准直放射学的测量探针,一感测端部,其置于一具有一观测区以及一开口的可置换的准直仪中。所述准直仪是通过准直仪支撑器所支持。所述组件是由准直仪与准直仪支撑器所组成,其是插入一迭屏蔽屏幕的两个之间。所述提供屏蔽的屏幕为可替换的,以便调整其厚度,所述组件是由准直仪与准直仪支撑器所组成,以及所述屏蔽屏幕提供所述探针对于来自所述准直仪的观测区外部的离子化辐射来源的寄生离子化辐射的保护。具有不同尺寸的开口的准直仪,可被装设于所述准直仪支撑器中。有利地,所述测量探针是亦可替换的。所述测量探针可为一伽玛光谱探针或一剂量率探针。所述放射学特征装置,较佳地亦包含一放置所述探针的可拆卸的探针支撑器,当所述探针支撑器装设于所述准直仪中,使放置所述探针的感测端部于准直仪中为可能的。当所述的探针支撑器设置复数个探针时,这些探针是安排为一束。有利地,每一个屏蔽屏幕包含一或多个屏蔽板;当有复数个屏蔽板时,这些是为一迭。因此调整所述屏蔽屏幕的厚度是可能的。所述准直仪可大体上为具有一开口以及一基座的U型。一相邻于所述准直仪的屏蔽板,可于所述准直仪开口的邻近区域形成斜面,以便增加其观测区。这些屏蔽屏幕之一包含一可供所述探针通过的贯洞。其是可能提供锁固对于所述准直仪支撑器、以及所述准直仪旋转与位移的屏蔽屏幕的工具。所述放射学特征装置,可亦包含一可见光或远红外线照相机及/或一遥测装置, 其固定于所述锁固工具及/或一聚光灯。这些当复杂场所的检测时是非常有用的。其亦较佳地当所述探针放置于所述准直仪中时,提供锁固所述探针的工具,以便可没有任何问题地移动所述特征装置。附图说明本专利技术将凭着阅读所给实施例的范例描述,其纯粹作为表明且未以此限制,并参考附加图解而更加了解,其中图1A、1B、1C是分别以分解图、横剖面以及组合图显示,是本专利技术的主题的一种放射学特征装置的实施例;图2A为一图解说明所述流量率(fluence rate),其是所述测量探针所观测到的离子化辐射来源的能量的函数,以及图2B为一图解说明信噪比,其是所述准直仪所观测到的离子化辐射来源的能量的函数;图3A、;3B说明,以平面图,本专利技术的放射学特征装置的准直仪的准直仪能量,其与一不具有一准直仪的放射学特征装置相比较;图4A至4H说明应用于更换本专利技术的放射学特征装置的准直仪的步骤;图5A至5C说明如何更改图4的连结,用以更换所述测量探针;图6A、6B、6C以横切面说明数种探针支撑器;图7A、7B、7C是为一放置一容器的框罩的剂量率的图,其中所述框罩包含或具有分裂产物溶液,此框罩是受到一清洁步骤约束。所述放射性特征装置所展现的各种配置,必须被了解的是彼此并非唯一的。下述不同图式的同一的、相似的或相同的部件具有相同数字符号,以便于从一图移至另一图。为了使图式更易读取,图中所描绘的不同部件不一定以统一的比例来绘制。具体实施例方式参照图1,其为一种根据本专利技术的放射学特征装置的一实施例的分解图。图IB显示相同的根据本专利技术的放射学特征装置的横剖面图。其包含一准直仪支撑器1其欲容纳一准直仪2。所述准直仪2是大体上为具有一底部,其自两个支臂突出是有助于界定所述准直仪2的开口 2. 1的U型。所述准直仪1可大体上为U或C型,所述准直仪的U型底部,是装设于所述准直仪支撑器1中。因此,所述准直仪2是可替换的,以及所述准直仪的支撑器 1,是可容纳具有不同尺寸的开口 2. 1但相同底部的准直仪1。图IA显示一组四个的准直仪2,其可分别地依序安装于所述准直仪支撑器1上。此些四个准直仪2具有不同尺寸的开口 2. 1,相同于实施例中的介于10°与90°之间的角度,此些角度于图IA中显示,以便减少与所述准直仪支撑器1的距离。所述组件由所述准直仪2装置于所述准直仪支撑器1 上形成,其于此后称为所述准直组件3,其是被夹置于一迭4的两个屏蔽屏幕5之间。所述屏蔽屏幕5是较佳实质上为平的。所述屏蔽屏幕5是可替换的,使得其可依据所述的一或多个相邻的伽玛离子化辐射来源,以及被认为寄生的伽玛离子化辐射来源所在处调整其厚度。所述离子化辐射来源并没有显示。所述准直仪2的开口 2. 1是位于所述迭4的一个边缘。所述放射学特征装置是包含至少一放射学测量探针6,其具有一感测部件装设于所述准直仪2的U型底部,所述准直仪2的开口 2. 1为自由的。此测量探针6亦为可替换的,所述测量探针6可为剂量率探针, 例如来自Saphymo公司的SHI探针。此外,其可为以半导体,例如镉锌碲(CdSiTe),为基底的伽玛光谱探针。其可能同时使用复数个伽玛光谱测定术探针6,其被安排为一束7,之后将可见到。探针支撑器8较佳地提供用以精准地定位所述探针6 (或这些探针)于准直仪 2中,其提供使用不具有相同横剖面的测量探针6的可能性。所述探针支撑器8是可拆卸的,且可为套筒形式其中插入所述测量探针6或所述测量探针的束7,所述组件是由探针支撑器8以及装设于所述准直仪2的U型底部中的测量探针6所组成。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种放射学特征装置,其包含至少一准直放射学测量探针(6),其感测端部设置于一具一观测区的可置换准直仪(2)中,其特征在于:所述准直仪(2)是通过一准直仪支撑器(1)所支持,一由所述准直仪与所述准直仪支撑器(3)所组成的组件(3),是插入一迭屏蔽屏幕(5)的两个之间,所述屏蔽屏幕(5)是可置换的,以便调整其厚度,所述由所述准直仪与所述准直仪支撑器所组成的组件(3)、以及所述屏蔽屏幕(5)提供所述探针(6)对于来自位于所述准直仪(2)的观测区外部的离子化辐射来源的寄生离子化辐射的保护,所述准直仪大体上为具一开口(2.1)的U型、以及一装设所述测量探针的感测端部的底部。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:菲利浦·吉罗内斯克里斯托夫·布奈斯法布斯·朗姆第克里斯·杜克罗斯
申请(专利权)人:法国原子能与替代能委员会
类型:发明
国别省市:FR

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