校正装置制造方法及图纸

技术编号:7166444 阅读:220 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
在校正装置中,校正矩阵计算处理部(104)使用正交矢量存储部(103b)中存储的正交矢量和阵列模式矢量存储部(102)中存储的阵列模式矢量(a(θ)),推测校正矩阵(M)。校正矩阵输出部(105)将由校正矩阵计算处理部(104)计算出的校正矩阵(M)发送到未知参数推测装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
1.一种校正装置,用于对由多个传感器接收到的观测数据进行校正,该校正装置具备:观测数据矢量生成处理部,从所述多个传感器接收所述观测数据,根据该接收到的所述观测数据生成观测数据矢量;模式矢量关联处理部,能够计算或者能够预先存储与所述观测数据矢量对应的模式矢量,并且能够预先存储所述模式矢量的正交矢量;以及校正用参数计算部,从所述观测数据矢量生成处理部取得所述观测数据矢量,并且从所述模式矢量关联处理部取得与该取得的所述观测数据矢量对应的所述模式矢量的所述正交矢量,根据该取得的所述正交矢量以及所述观测数据矢量,计算用于对所述观测数据矢量包含的观测误差进行校正的多个校正用参数。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:原六蔵
申请(专利权)人:三菱电机株式会社
类型:发明
国别省市:JP

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1