计算Ｘ线断层照相投射数据的自适应压缩制造技术

本发明专利技术提供了用于在计算Ｘ线断层照相系统里压缩投射数据的装置。该压缩装置压缩投射数据以用于高效的数据传送和存储。这种压缩包括将衰减分布应用到投射数据采样阵列。该衰减分布是采样坐标的函数，并确定应用到采样的衰减值。已衰减的采样被编码并被打包以便进行数据传送。可选地，不同的算子被施加到已衰减采样，并且差值被编码。每个已压缩采样的平均比特数被监视，并且衰减分布可以被修改以获得期望的每个压缩采样的比特数。在图像重建处理之前，已压缩采样被解压缩。解压缩包括对已压缩采样进行解码并将增益分布应用到已解码采样以恢复原始动态范围。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
１．一种用于在计算Ｘ线断层照相系统中压缩投射数据的方法，所述计算Ｘ线断层照相系统包括多个传感器，所述多个传感器提供多个传感器量度以形成一组或多组投射数据，其中每组投射数据表示投射域的一部分并且包括投射数据采样的阵列，所述阵列具有至少一行采样，其中每个采样在所述阵列中具有由采样坐标所指示的位置，所述方法包括：设置存储器中的衰减分布的一个或多个参数，其中所述衰减分布是所述采样坐标的函数并且指定多个衰减值，其中所述衰减值小于或等于１；根据所述衰减分布来衰减所述阵列的所述采样，以形成幅度小于或等于所述采样的原始幅度的已衰减采样；以及编码所述已衰减采样以形成已压缩采样。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：阿尔伯特·W·魏格纳，
申请(专利权)人：信飞系统公司，
类型：发明
国别省市：US