利用光学相干断层成像技术测得多孔材料的折射率对多孔材料的密度进行非接触式测量的方法技术

一种利用光学相干断层成像技术测得多孔材料的折射率对多孔材料的密度进行非接触式测量的方法。依据本发明专利技术，通过光学相干断层成像技术，测定这项技术中所使用的光束穿过由所述材料制成的一物体（２０）所对应的光程；测定物体的厚度；由光程及厚度测定材料的折射率；及由折射率测定材料的密度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种非接触式测量多孔材料的密度的方法。此方法使用了对这种材料的折射率的非接触式测量。现在要指明的是材料折射率的测量是通过测量厚度范围在几微米到数毫米的透 明或半透明层的厚度以及测量相关光程而得以实现的。本专利技术适用于平面层以及球面层或圆柱形层，且同样适用于单层物体或透明的多 层堆叠式结构。此方法的独创性在于结合用一种高分辨率技术一光学相干断层成像技术(或 称OCT)来获得信号及例如用X射线(XR)显微射线照相技术来实现的厚度测量。就多孔 (porous)或蜂窝(cellular)材料或泡沫材料(foams)而言，利用此组合可以准确地测量材 料的折射率并由此推断出局部密度。因此，本专利技术能够实现对多孔材料的密度的非接触式且非破坏性的测量。为此，将 光学相干断层成像测量与例如凭借X射线照相技术进行的厚度测量相结合，这能在第一阶 段中准确地测量多孔材料的有效折射率，以最终估计出这种材料的密度。
技术介绍
光学相干断层成像(OCT)技术早已是许多科学出版的主题，其原理在医学领域中 (特别是在眼科及皮肤科中)被用于生物组织的横切面成像。过去数十年来，仅仅少数成像技术对医学诊本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种对多孔材料的密度进行非接触式测量的方法，此方法的特征在于：－凭借一光学相干断层成像技术来测定用于实施所述技术的一光束穿过由所述多孔材料制成的一物体（２０，３２，４４，５２，６２）所对应的光程，所述多孔材料对所述光束而言是半透明的或透明的，－测定所述物体的厚度，－由已测定的光程及厚度来测定所述多孔材料在所述光束的波长下的折射率，及－由已测定的折射率来测定所述多孔材料的密度。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：劳伦·让诺，
申请(专利权)人：原子能与替代能源委员会，
类型：发明
国别省市：FR