用于相干照明成像系统的散斑噪声减小技术方案

描述了用于减小图像中的散斑噪声的方法和设备，所述图像诸如由相干光源照明的对象的图像以及由干涉条纹图案照明的对象的图像。根据一种方法，利用沿着投影轴投影的相干辐射的结构化照明图案来照明对象。在图像采集间隔期间投影轴的角取向在角范围上被调制。有利的是，投影在对象表面上的结构化照明图案的形状特征在图像采集期间保持不变，并且所采集的图像表现出减小的散斑噪声。结构化照明图案可以是条纹图案，诸如由用于确定被照明对象的表面信息的３Ｄ计量系统生成的干涉条纹图案。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术大体上涉及照明系统中的强度噪声减小并且更具体地涉及相干条纹成像系统中的强度噪声减小。
技术介绍
基于条纹干涉测量法的精确非接触三维(“3D”)计量已经发展用于工业应用。典型地针对大体积以低的数据采集率执行测量。这些系统探测由两个相干光源生成并且投影在要被测量的对象表面上的干涉条纹。对于包括医学应用和牙齿成像的各种应用，3D成像系统要求增大的分辨率；然而，使用相干照明在对象处生成条纹图案导致所采集的条纹图案的图像中的散斑噪声。一般而言，随着空间分辨率提高，散斑噪声变得更显著。散斑发生在成像器的相干成像光学系统中，并且是对象的表面粗糙度、以及相干光源的波长和相干长度的函数。诸如孔径大小、入射角和视觉之类的成像几何参数也影响散斑。由单个探测器单元(即像素)成像的对象区域内的表面粗糙度导致从该区域散射的光的变化的光学路径长度。因此在该像素处接收的光会以相长或相消的方式干涉，使得像素强度可以不同于将另外由不相干照明产生的像素强度。低分辨率光学成像系统将大的对象表面区域成像在每个像素上，由此通过平均在该像素上的许多在空间上变化的强度特征而抑制散斑效应。相比之下，更高分辨率光学系统将相本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用于减小由结构化照明图案照明的对象的图像中的散斑噪声的方法，该方法包括：利用相干辐射的结构化照明图案来照明对象，所述结构化照明图案被沿着投影轴投影；在图像采集间隔期间在角范围上调制投影轴的角取向，其中投影在对象表面上的所述结构化照明图案的形状特征在所述图像采集间隔期间保持不变；以及采集在图像采集间隔期间被照明对象的图像。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：RF狄龙，
申请(专利权)人：立体光子国际有限公司，
类型：发明
国别省市：US