【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及触摸屏制造过程中的检验,特别涉及。
技术介绍
随着触摸屏在科技、商业以及日常生活的广泛应用,触摸屏的制造厂家在近几年也日益增多。尤其在高精确度,边框尺寸较窄的触摸屏应用日益广泛,触摸屏制造商也在加强对高精确度触摸屏的生产。众所周知,ITO (氧化铟锡)薄膜银线的印刷质量将直接影响到触摸屏最终的质量。对于高精度窄边距的触摸屏的印刷,银线的宽幅是关键,在同等的距离下,银线的宽幅越窄,可容纳银线的数量也越多,精度随之增高;反之,银线越宽,银线的数量越少,精度下降。为保证较细线径的银线的印刷质量,不仅要在印刷上下功夫,更要在银线印刷后的检验上要加强。即便较大线径的银线在检验时同样不是很容易,一般普通的银线线径大多在0. Imm左右,银线之间的间距也在0. Imm左右,我们只凭肉眼之间检查难度很大。如果线径的尺寸减小,对于检验难度会更加增大,随之带来的误判,漏判也会增多,这也给触摸屏的最终质量带来隐患。
技术实现思路
为解决上述所涉及的检验难度问题,本专利技术提供。该方法特别针对ITO薄膜较细线径银线的印刷质量检验。本专利技术是通过这样的技术方案实现的,其特征在于采用照明光源为冷光源,且表面带有均勻板的观片器作为背景检验光源,以保证灯光的均勻性及高照度;根据氧化铟锡薄膜的尺寸选择观片器的整体尺寸,观片器的照明面积要大于氧化铟锡薄膜,以增强对于氧化铟锡薄膜边缘的观察;观片器的厚度应控制在 15cm以内,便于移动;将银浆印刷后的氧化铟锡薄膜平放到观片器上;采用18倍以上的放大镜,且将放大镜放到氧化铟锡薄膜上进行检验。本专利技术所产生的有益效果是采用本检验方法 ...
【技术保护点】
1.一种触摸屏银线印刷质量的检验方法,其特征在于:采用照明光源为冷光源,且表面带有均匀板的观片器作为背景检验光源,以保证灯光的均匀性及高照度;根据氧化铟锡薄膜的尺寸选择观片器的整体尺寸,观片器的照明面积要大于氧化铟锡薄膜,以增强对于氧化铟锡薄膜边缘的观察;观片器的厚度应控制在15cm以内,便于移动;将银浆印刷后的氧化铟锡薄膜平放到观片器上;采用18倍以上的放大镜,且将放大镜放到氧化铟锡薄膜上进行检验。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王磊,赵勇,孙小天,王冬梅,
申请(专利权)人:天津市中环高科技有限公司,
类型:发明
国别省市:12
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