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一种斜二测几何画板制造技术

技术编号:7005455 阅读:460 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种斜二测几何画板,由板面、镂空几何图形和板面中的底线及刻度线配合形成一体,所述板面即透明塑料板;所述镂空几何图形具有一定的宽度,镂空几何图形与板面底线形成相应的平面45度位置关系。该结构设计应用于立体作图中斜二测画法的便利使用。使用便利,作图快,且作图精准。该结构中镂空几何图形与画板底线的位置配合,使其符合斜二测画法的绘图步骤与要求,有效节约了时间,且减少了人为原因造成的作图误差。画板对称的设计可使平面图形的斜二测作图以或左或右的两种立体图像呈现。为充分利用画板面积,在主体部分的空当处加入了量角器,为几何作图增加了更多功能。本实用新型专利技术结构简单合理,使用方便、安全,成本低廉,适应范围宽。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种文具附件,特别涉及一种斜二测几何画板
技术介绍
斜二测画法从右/左上角往下看到的几何图形的的直观图的画法,叫做斜二测画法。每个垂直的夹角都应是135度,90度及45度,看不见的部分用虚线表示。斜二测画法建立适当的平面直角坐标系建立V轴与Y ‘轴成45°的坐标系平行于X轴的线段仍平行于V轴,长度不变平行于Y轴的线段仍平行于Y ‘轴但长度减半对于立体也就是三维图形也有将X、Y轴均缩小为二分之根号二倍,交角45度或 135度,Z轴的长度不变。人们平时进行斜二测作图时,需要针对每个点先用量角器做出与点对应的Y’轴, 再用刻度尺将已确定的Y轴点的Y’轴对应点依次描出,以出现量角的偏差,且逐个点依次使用量角器和刻度直尺操作繁杂,以至于耗时费力,还有很大的可能出现误差。因此,不需要量角器的使用,直接地确定对应点,减少操作过程成为了该技术的核心专利技术点。目前,虽然已有画板能够根据几何模型画出斜二测图形,但还存在单模型单图形的局限性,不能够解决普遍的广泛的图形便捷的斜二测画法问题,适应范围较窄。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述不足之处,提供一种结构简单轻巧、实用性强、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种斜二测几何画板,其特征在于由板面、镂空几何图形和板面中的底线及刻度线配合形成一体,所述板面即透明塑料板;所述镂空几何图形具有一定的宽度,镂空几何图形与所述板面底线形成相应的平面45度位置关系。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王旭
申请(专利权)人:王旭
类型:实用新型
国别省市:12

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