功能接口与调试接口复用的SOC集成电路制造技术

本发明专利技术提出一种SOC集成电路，包括：功能接口控制器、JTAG调试接口控制器、用于选择功能接口信号或调试接口信号并将选择的信号传输至外部接口的信号复用单元、用于根据是否接收到调试模式触发指令的不同情况控制信号复用单元进行信号复用的复用控制寄存器、若干引脚以及用于与SOC集成电路之外的调试工具或其他设备进行连接的外部接口。通过信号复用单元和复用控制寄存器，本发明专利技术所有的引脚可以进行功能应用和调试的复用，能够减少SOC集成电路引脚消耗和芯片的面积。并且调试工具能通过外部接口对SOC集成电路进行调试，不需要拆机和引测试信号线，能够针对一些低概率异常现象进行调试，效果更好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路领域，具体涉及一种SOC集成电路。
技术介绍
S0C(SyStem-0n-a-Chip，片上系统)是指目前的大规模集成电路，在一颗集成电路芯片里实现各种功能，通常一颗芯片能满足系统所有需求，所以被称作片上系统。随着微电子技术的发展，SOC的应用已经非常广泛，而且以后规模能够更大，功能能够更强。JTAG (Joint Test Action Group,联合测试行动组织)接口是目前SOC集成电路普遍采用的一种调试接口，通过JTAG接口，计算机上的终端工具不但能访问SOC集成电路内部寄存器和存储单元等等，还能把代码下载到SOC集成电路的存储单元，从而控制代码的运行过程并观察该代码的运行结果。这使得SOC集成电路的调试实现了可控制和可观察， 为查找芯片的问题带来很大的便利。现在SOC集成电路采用的调试接口设计，都设置了专门的调试接口，独占多个芯片引脚，造成了芯片面积增加，制造成本升高。调试的方法主要是在硬件设计时，专门在硬件电路上留下测试点，即通过Test Point的形式，留出专门的JTAG调试接口和UART调试接口。如图1所示，SOC 100中包括用于输出功能接口信号、控制外部功能接口并与外部模块进行通信的功能接口控制器101、和/或用于与外部调试工具或计算机进行通信的其他调试接口控制器102、用于输出调试接口信号、接收计算机调试工具或开发工具的指令对 SOC集成电路进行控制并采集SOC集成电路内部运行状态的JTAG调试接口控制器103，但它们的功能接口都是独立的，分别对应功能接口 110、112和113。这会导致其他调试接口和JTAG调试接口占用专门的SOC 100引脚，而这些引脚只在调试过程中使用，在生产以及使用过程中都起不到任何的作用，严重浪费SOC 100珍贵的引脚资源。同时在系统设计的过程中，对应其他调试接口控制器的功能接口 112和对应JTAG调试接口控制器的功能接口 113只会在机器内部以测试点的方式出现，需要调试时就要拆开机器，利用引测试信号线的方法将测试点引出来进行调试。这种方法的弊端在这几个方面1)耗时很长；2)引测试信号线会给调试带来不确定因素，进而增加调试的难度；3)为了拆机和引测试信号线，需要关闭机器电源，因此对于一些难以重现的现象，无法针对这些低概率异常现象进行调试；4) SOC集成电路需要专门的调试引脚，增加SOC集成电路引脚的消耗，不利于SOC集成电路的设计。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提出一种SOC集成电路，不采用专门的调试引脚，对该SOC集成电路进行调试时不需要拆机和引测试信号线，而且能够减少SOC集成电路引脚消耗和芯片的面积。本专利技术提出的SOC集成电路，包括功能接口控制器、JTAG调试接口控制器、用于选择功能接口信号或调试接口信号并将选择的信号传输至外部接口的信号复用单元、用于根据是否接收到调试模式触发指令的不同情况控制所述信号复用单元进行信号复用的复用控制寄存器、用于与所述SOC集成电路之外的调试工具或其他设备进行连接的外部接口、 以及若干引脚；所述复用控制寄存器在未接收到调试模式触发指令时，输出正常应用控制指令至所述信号复用单元；所述信号复用单元根据所述正常应用控制指令选择所述功能接口控制器输出的功能接口信号，并将该功能接口信号通过若干引脚传输至所述外部接口 ；所述其他设备通过所述外部接口接收所述功能接口信号进行功能应用；所述复用控制寄存器在接收到调试模式触发指令时，输出调试控制指令至所述信号复用单元；所述信号复用单元根据所述调试控制指令选择所述JTAG调试接口控制器输出的调试接口信号，并将该调试接口信号通过若干引脚传输至所述外部接口 ；所述调试工具通过所述外部接口接收所述调试接口信号或发送调试指令以进行调试。本专利技术的技术方案，根据复用控制寄存器是否接收到调试模式触发指令的不同情况控制信号复用单元进行信号复用，若复用控制寄存器未接收到调试模式触发指令时，输出正常应用控制指令至信号复用单元，然后信号复用单元选择功能接口控制器输出的功能接口信号，并通过引脚将功能接口信号传输至外部接口以进行正常的功能应用；而复用控制寄存器在接收到调试模式触发指令时，输出调试控制指令至信号复用单元，然后信号复用单元选择JTAG调试接口控制器输出的调试接口信号，并通过引脚将调试接口信号传输至外部接口以进行调试。本专利技术不采用专门的调试引脚，引脚既能进行功能应用也能进行调试，能够减少SOC集成电路引脚消耗和芯片的面积。并且由于外部接口的存在，调试工具可以通过外部接口获得SOC集成电路内部运行状态，或者调试工具可以通过外部接口发送调试指令至SOC集成电路，这样对该SOC集成电路进行调试不需要拆机和弓I测试信号线，能够针对一些低概率异常现象进行调试，效果更好。附图说明图1为现有对SOC集成电路进行调试的结构示意图；图2为SOC集成电路结构示意图；图3为应用于SD卡的SOC集成电路结构示意图；图4为应用于MS卡的SOC集成电路结构示意图。具体实施例方式为解决现有SOC集成电路调试接口的设计导致系统调试耗时，调试难度大，无法调试低概率现象，占用专门的引脚等等问题，本专利技术提供一种方便，在线不断电，而且采用复用引脚的SOC集成电路。本专利技术提出的SOC集成电路，如图2所示，包括功能接口控制器、JTAG调试接口控制器、信号复用单元、复用控制寄存器、若干引脚以及外部接口。其中，信号复用单元，用于选择功能接口信号或调试接口信号并将选择的信号传输至外部接口。功能接口信号是功能接口控制器输出的信号，调试接口信号是JTAG调试接口控制器输出的信号。复用控制寄存器，用于根据是否接收到调试模式触发指令的不同情况控制信号复用单元进行信号复用。出于复用的原则，一般情况下该SOC集成电路是进行正常的功能引用，例如与 SD (Secure Digital Memory Card，即安全数码卡)卡、MS (Memory Stick，即记忆棒)卡进行数据交换等，正常功能应用时复用控制寄存器不会接收到调试模式触发指令， 只处于正常的应用模式，相应只输出正常应用控制指令给信号复用单元。而在SOC集成电路出现问题时，这时候可以由用户通过按键、拨动开关或进行菜单选择等方式发出一个调试模式触发指令，复用控制寄存器接收到该指令则输出调试控制指令至信号复用单元，SOC 集成电路则处于调试模式。外部接口，用于与SOC集成电路之外的调试工具或其他设备进行连接。这是SOC 集成电路与外部设备连接的途径。外部接口可以是插座式的外部接口，可以是卡槽式的外部接口，或者引线式的外部接口等等，只要能够与包括调试工具或其他设备在内的外部设备进行连接即可。SOC集成电路进行信号复用的过程是正常应用模式复用控制寄存器在未接收到调试模式触发指令时，输出正常应用控制指令至信号复用单元；信号复用单元根据正常应用控制指令选择功能接口控制器输出的功能接口信号，并将该功能接口信号通过若干引脚传输至外部接口 ；其他设备通过外部接口接收功能接口信号进行功能应用。调试模式复用控制寄存器在接收到调试模式触发指令时，这个指令是由用户通过按键、拨动开关或进行菜单选择等方式发出的指令。然后复用控制寄存器输出调试控制指令至信号复用单元；信号复用单元根据调试控本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种ＳＯＣ集成电路，包括功能接口控制器、ＪＴＡＧ调试接口控制器和若干引脚，其特征在于，该ＳＯＣ集成电路还包括：用于选择功能接口信号或调试接口信号并将选择的信号传输至外部接口的信号复用单元、用于根据是否接收到调试模式触发指令的不同情况控制所述信号复用单元进行信号复用的复用控制寄存器、以及用于与所述ＳＯＣ集成电路之外的调试工具或其他设备进行连接的外部接口；所述复用控制寄存器在未接收到调试模式触发指令时，输出正常应用控制指令至所述信号复用单元；所述信号复用单元根据所述正常应用控制指令选择所述功能接口控制器输出的功能接口信号，并将该功能接口信号通过若干引脚传输至所述外部接口；所述其他设备通过所述外部接口接收所述功能接口信号进行功能应用；所述复用控制寄存器在接收到调试模式触发指令时，输出调试控制指令至所述信号复用单元；所述信号复用单元根据所述调试控制指令选择所述ＪＴＡＧ调试接口控制器输出的调试接口信号，并将该调试接口信号通过若干引脚传输至所述外部接口；所述调试工具通过所述外部接口接收所述调试接口信号或发送调试指令以进行调试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邢涛，王大志，
申请(专利权)人：珠海全志科技有限公司，
类型：发明
国别省市：44