一种连续光谱自动测试分筛系统技术方案

技术编号:6939976 阅读:280 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术属于光学产品测试技术领域。具体公开一种连续光谱自动测试分筛系统,该系统包括光纤光谱仪、用于对光谱进行测试的批量测试系统、对光谱进行自动分筛的自动分筛系统,还包括与光纤光谱仪、批量测试系统及自动分筛系统连接安装有自动测试分筛软件的驱动主机。该连续光谱自动测试分筛系统充分集成了光学精密检测技术及自动控制技术,能批量的进行光谱检测,并进行自动的分筛,使光学精密检测批量化,效率高,充分发挥光学精密检测在各相关行业中的应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学产品测试
具体涉及一种连续光谱自动测试分筛系统
技术介绍
在光学薄膜的镀制及其应用行业中,包括舞台灯光、照明、数码光学、光通信、生物检测、平面显示器、特种玻璃、太阳能电池板及LED产品制造等行业,产品光学性能的检测, 包括所有光学薄膜产品的谱线分析和分筛筛选均依赖于光谱仪器来完成,由于涉及的技术参数、产品种类和数量都比较大,而且由于此类产品的高精密性、高附加值,大多要求对产品进行逐一检测,故对检测的效率提出了较高的要求。现在市场上有各种光纤光谱仪,但是它们都不能自动检测分筛,而且不能自动成批量的进行检测,效率十分低下。此类光学精密检测发展局限于高精密化而低效低产,不能充分应用于工业化生产中。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术的不足,提供了一种连续光谱自动测试分筛,该系统充分集成了光学精密检测技术及自动控制技术,能批量的进行光谱检测,并能进行自动的分筛,使光学精密检测实现批量化,效率高,充分发挥光学精密检测在各相关行业中的应用。为了克服上述技术目的,本专利技术是按以下技术方案实现的本专利技术所述的一种连续光谱自动测试分筛系统,包括光纤光谱仪、用于对光谱进行测试的批量测试系统、对光谱进行自动分筛的自动分筛系统,还包括与光纤光谱仪、批量测试系统及自动分筛系统连接安装有自动测试分筛软件的驱动主机。作为上述技术的进一步改进,所述批量测试系统包括置放待测样品的联动机械平台和连接联动机械平台与驱动主机的第一数据线。作为上述技术的更进一步改进,所述自动分筛系统包括分级放置平台,还包括将联动机械平台上的样品转移至分级放置平台上的机械手,该分级放置平台与联动机械平台置于同一平面的平台上,其也是通过第一数据线与驱动主机之间进行数据的传输。在本专利技术中,所述光纤光谱仪包括光源;输入光纤用于将光源发出的标准光传输至置于联动机械平台上的待测样品上方;输出光纤用于将标准光从样品透射或者反射后变为携带该样品光谱信息的信号光耦合后传输至分级放置平台;光谱探测器用于将信号光转变成光电信号;以及连接在光谱探测器和驱动主机之间的第二数据线。在本专利技术中,所述光源为宽光谱光源,用于可见光和近红外波段的光谱测量;所述光谱探测器为高像素CCD探测器阵列;所述输入光纤和输出光纤采用低损耗石英作为信号光的传输介质;所述驱动主机为电脑。本专利技术所述的连续光谱自动测试分筛系统的工作原理光源7发出的标准光经输入光纤传输到置于联动机械平台上的待测样品上方,标准光从样品透射或者反射后变为携带该样品光谱信息的信号光,该信号光耦合进入输出光纤后传入分级放置平台,信号光被光探测器检测后变成光电信号,经数据采集卡进行A/D 转换为数字信号后由数据线存入电脑内储存器中,通过自动测试分筛软件对采集数据进行处理、计算、分析后,可以得到测试样品的光谱数据和谱线,并可将相关资料存储或打印备份。通过控制联动机械平台按一定轨迹运动,使得待检样品阵列逐一通过检测点,从而在一个检测周期内高效的完成对多组样品的信息检测和数据传输。检测完成后,对于检测结果进行分类,然后根据分类结果发出指令给机械手,将产品进行分筛处理。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是(1)本专利技术所述的连续光谱自动测试分筛系统光谱检测速度快,可以用于在线分析;(2)本专利技术可实现批量检测,自动分筛,效率高。(3)本专利技术系统模块化,灵活度高。附图说明下面结合附图和具体实施例对本专利技术做详细的说明图1是本专利技术所述的连续光谱自动测试分筛系统结构图。图中1 电脑;2 联动机械平台;3 第一数据线;4、分级放置平台;5 第二数据线; 6 机械手;7 光源;8 输入光纤;9 输出光纤;10 光谱探测器;20 测试样品。具体实施例方式如图1所示,本专利技术所述的连续光谱自动测试分筛系统,包括光纤光谱仪、用于对光谱进行测试的批量测试系统、对光谱进行自动分筛的自动分筛系统,还包括与光纤光谱仪、批量测试系统及自动分筛系统连接安装有自动测试分筛软件的驱动主机,所述驱动主机为电脑1。有图1可知,所述批量测试系统包括置放待测样品的联动机械平台2和连接联动机械平台2与电脑1的第一数据线3。所述自动分筛系统包括分级放置平台4,还包括将联动机械平台2上的样品转移至分级放置平台4上的机械手6。在本专利技术中,所述光纤光谱仪包括光源7,该光源7为宽光谱光源,用于可见光和近红外波段的光谱测量;输入光纤8 用于将光源发出的标准光传输至置于联动机械平台2 上的待测样20上方;输出光纤9 用于将标准光从样品透射或者反射后变为携带该样品光谱信息的信号光耦合后传输至分级放置平台4 ;所述输入光纤8和输出光纤9采用低损耗石英作为信号光的传输介质;光谱探测器10 用于将信号光转变成光电信号,所述光谱探测器为高像素CXD探测器阵列;以及连接在光谱探测器10和电脑1之间的第二数据线5。以下具体说明本专利技术所述连续光谱测试分筛的自动系统使用时的工作过程为(1)将测试样品20摆放在联动机械联动机械平台2之后,在电脑1上启动自动测试分筛软件。(2)电脑1通过第一数据线3发送驱动联动机械平台2的指令,使得测试样品20 依次通过光纤光谱仪的输入光纤8和输出光纤9之间的位置,同时,电脑1通过第二数据线 5采集各个测试样品20的光谱数据且根据预设标准对于测试样品进行评级,并将评级结果储存在电脑1中。(3)在本批次样品测试完成后,电脑1根据评级结果通过第一数据线3,依次驱动联动机械平台2到固定位置,接着驱动机械手6从联动机械平台2拾取样品并移动到分级放置平台4上方,同时驱动分级放置平台4移动到样品评级结果对应位置,然后驱动机械手 6放置样品,如此反复多次,将本批次的测试样品一一放到评级结果对应位置,从而完成一个批次的测量。本专利技术并不局限于上述实施方式,凡是对本专利技术的各种改动或变型不脱离本专利技术的精神和范围,倘若这些改动和变型属于本专利技术的权利要求和等同技术范之内,则本专利技术也意味着包含这些改动和变型。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种连续光谱自动测试分筛系统,其特征在于:包括光纤光谱仪、用于对光谱进行测试的批量测试系统、对光谱进行自动分筛的自动分筛系统,还包括与光纤光谱仪、批量测试系统及自动分筛系统连接安装有自动测试分筛软件的驱动主机。

【技术特征摘要】
1.一种连续光谱自动测试分筛系统,其特征在于包括光纤光谱仪、用于对光谱进行测试的批量测试系统、对光谱进行自动分筛的自动分筛系统,还包括与光纤光谱仪、批量测试系统及自动分筛系统连接安装有自动测试分筛软件的驱动主机。2.根据权利要求1所述的连续光谱自动测试分筛系统,其特征在于所述批量测试系统包括置放待测样品的联动机械平台和连接联动机械平台与驱动主机的第一数据线。3.根据权利要求2所述的连续光谱自动测试分筛系统,其特征在于所述自动分筛系统包括分级放置平台,还包括将联动机械平台上的样品转移至分级放置平台上的机械手。4.根据权利要求2所述的连续光谱自动测试分筛系统,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹一鸣黄作宏卫红刘志宇周鸿飞陈霞
申请(专利权)人:广州市光机电技术研究院
类型:发明
国别省市:81

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