本发明专利技术公开了一种使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法，包括判断长形条的类型，若为飞米型(femto-type)长形条，则前电性研磨导向触点分别接触探针板的前针脚，后电性研磨导向触点分别接触后针脚；向前针脚施加第一电压，并向后针脚施加不等于第一电压的第二电压。若为分路型(shunting-type)长形条，则将分路型长形条的公共测试触点接触探针板的一个前针脚，磁头的测试触点分别接触余下的前针脚；向与测试触点接触的前针脚施加第三电压，并向与公共测试触点接触的前针脚施加不等于第三电压的第四电压。本发明专利技术可缩减机器的停工期及人力资源，并可避免探针板的频繁拆卸及更换，从而避免探针板受损。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及磁盘驱动器中的磁头领域，尤其涉及一种。
技术介绍
包含多个旋转磁盘的硬盘驱动器被普遍用来将数据存储在其磁盘表面的磁性媒介上，而记录磁头则用作在旋转磁盘表面上进行磁性记录信息。通常，若干个磁头形成晶圆，而该晶圆将被切成单独的长形条。每一长形条上包括多个独立的记录磁头。这些长形条上最终会被锯成单一的磁头元件，这些磁头元件则被安装于硬盘驱动器的磁头折片组合上。一般情况下，长形条上的每一磁头在锯成单一元件之前都要进行测试以确保磁头符合制造规格。例如，磁头上的读头包括的磁阻元件具有一个磁阻高度，该磁阻高度必须被研磨至一个预定值。通常，其研磨量由磁头在研磨前及研磨后的电阻变化来决定。单一磁头在研磨后，其电阻应与预定的电阻值相符。在长形条被切成单一元件之前，每一个磁头必须经由一测量器对其电阻进行测量。一种常见的用于测量电阻的测量器包括一探针板，该探针板具有多个针脚，这些针脚同时与每一磁头切割部表面上的两个电性研磨导向(electrical lappingguide,ELG) 触点接触，这些针脚通过连接器与一测量板连接，以在长形条的每一磁头上形成电流回路， 从而将每一磁头的电阻测量出来。而探针板的类型则因长形条的类型不同而不同。现今， 常见的长形条类型分别有分路型(shimting-type)长形条及飞米型(femto-type)长形条。 在分路型长形条的内部，每一磁头的一个极均连接起来以形成一公共端，亦即，在分路型长形条内有一个公共端为各磁头所公用。而在飞米型长形条的内部连线中，各个磁头是相互独立的。因此，基于两种长形条的内部接线不同，用于测量其上磁头电阻的探针板也不一样。一种标准探针板用于测量飞米型长形条的磁头电阻，而另一种分路探针板则用于测量分路型长形条。标准探针板具有两排针脚及一连接器，该两排针脚用于分别接触飞米长形条上磁头切割部表面上的两ELG触点，而连接器则与针脚连接后与测量板相连。而分路探针板只有一排针脚及一连接器，同样，连接器与针脚连接后与测量板相连。分路探针板的其中一个针脚被施加一个电压；余下的针脚则与磁头切割部表面上的ELG触点接触，同时被施加另一电压，以使构成电流回路，从而测出磁头的电阻。通常情况下，为节省开支，两种类型的长形条均在同一测量设备上进行测量。因此，两种类型的探针板会被频繁拆卸及更换，而这种拆卸及更换过程复杂，而且十分耗时。 因此，机器的停工期显得过长，同时亦增耗了人力资源。此外，在频繁的拆卸更换过程中，探针板容易受损，从而缩短探针板的寿命。因此，亟待一种改进的以克服上述缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，其可缩减机器的停工期及人力资源，并可避免探针板的频繁拆卸及更换，从而避免探针板受损。为了实现上述目的，本专利技术提供了一种，所述长形条的类型包括飞米型长形条及分路型长形条，所述飞米型长形条包括一排磁头，每一所述磁头具有一前电性研磨导向触点及一后电性研磨导向触点，所述分路型长形条包括至少一组磁头及至少一个与该组磁头相连的公共测试触点，所述分路型长形条的每一磁头具有一测试触点，所述测量器包括一探针板，所述探针板具有一排前针脚及一排后针脚，所述方法包括(1)将所述长形条放置于所述测量器上；(2)判断所述长形条的类型，若为飞米型长形条，则执行步骤(3)- )；若为分路型长形条，则执行步骤(5)-(6)；(3)所述前电性研磨导向触点分别接触所述探针板的前针脚，所述后电性研磨导向触点分别接触所述后针脚；(4)向所述前针脚施加第一电压，并向所述后针脚施加不等于第一电压的第二电压，从而测出磁头电阻；(5)所述分路型长形条的公共测试触点接触所述探针板的一个所述前针脚，所述磁头的测试触点分别接触余下的所述前针脚；(6)向与所述测试触点接触的所述前针脚施加第三电压，并向与所述公共测试触点接触的所述前针脚施加不等于第三电压的第四电压，从而测出磁头电阻。在一个实施例中，在将所述长形条放置于所述测量器之前还包括将长形条信息存储至一数据库。较佳地，所述长形条信息包括长形条的类型信息及磁头的个数信息。较佳地，判断所述长形条的类型之后，还包括访问并调用所述数据库中的长形条 fn息ο较佳地，所述探针板具有10个前针脚及10个后针脚。较佳地，所述长形条还包括形成在每一所述磁头旁的切割部。较佳地，所述前电性研磨导向触点和所述后电性研磨导向触点形成于所述飞米型长形条的切割部上。较佳地，所述测试触点形成于所述分路型长形条的切割部上。在一个实施例中，所述第一电压为+IV，所述第二电压为0V，所述第三电压为+IV， 所述第四电压为0V。与现有技术相比，本专利技术的方法在不需要更换探针板的情况下，可以测量两种不同类型的长形条。因此，机器的停工期被缩短，而同时人力成本亦被缩减。由于探针板无需更换，因此探针板受损的几率大大降低，从而延长探针板的寿命。而且本专利技术的测量方法易于操作及执行，因此其应用范围很广，能为本领域的制造商带来良好的经济效益。通过以下的描述并结合附图，本专利技术将变得更加清晰，这些附图用于解释本专利技术的实施例。 附图说明图1为飞米型长形条的结构示意图。图2为分路型长形条的结构示意图。图3为测量长形条的磁头电阻的公共测量器的结构示意图。图4为探针板的结构示意图。图5为本专利技术的一个实施例的流程图。图6为本专利技术的另一实施例的流程图。具体实施例方式下面将参考附图阐述本专利技术几个不同的最佳实施例，其中不同图中相同的标号代表相同的部件。如上所述，本专利技术的实质在于使用公共的测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法，该方法包括判断所述长形条的类型，若为飞米型长形条，则所述前电性研磨导向触点分别接触所述探针板的前针脚，所述后电性研磨导向触点分别接触所述后针脚，继而向所述前针脚施加第一电压，并向所述后针脚施加不等于第一电压的第二电压，从而测出磁头电阻；若为分路型长形条，则所述分路型长形条的公共测试触点接触所述探针板的一个所述前针脚，所述磁头的测试触点分别与余下的所述前针脚接触，继而向与所述测试触点接触的所述前针脚施加第三电压，并向与所述公共测试触点接触的所述前针脚施加不等于第三电压的第四电压，从而测出磁头电阻。此种设计，使得机器的停工期被缩短， 同时缩减人力成本。由于探针板无需更换，因此探针板受损的几率大大降低，从而延长探针板的寿命。图1为飞米型长形条100的结构示意图，如图所示，其包括多个排列布置的磁头 101以及形成在每一磁头101旁边的切割部110。具体地，每一切割部110上形成有一前 ELG触点102及一后ELG触点103。具体地，该前ELG触点在磁头101的内部与磁头101的一个极相连，而后ELG触点103则在内部与磁头101的另一个极相连。如图所示，前ELG触点102与后ELG触点103被分离放置。图2为分路型长形条200的结构示意图，如图所示，其包括一组排列布置的磁头 201以及形成在每一磁头201旁边的切割部210。每一磁头201的一个极在内部相连接成一公共端，该公共端与一外部公共测试触点203相连。较佳地，该公共测试触点203形成在其中一个切割部210的表面上。具体地，每隔9个磁头则放置一个此种公共测试触点203， 因此，在一个分路型长形条200上则会有多个公共测试触点203。在其余的分割部210的表面本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法，所述长形条的类型包括飞米型长形条及分路型长形条，所述飞米型长形条包括一排磁头，每一所述磁头具有一前电性研磨导向触点及一后电性研磨导向触点，所述分路型长形条包括至少一组磁头及至少一个与该组磁头相连的公共测试触点，所述分路型长形条的每一磁头具有一测试触点，所述测量器包括一探针板，所述探针板具有一排前针脚及一排后针脚，所述方法包括：（１）将所述长形条放置于所述测量器上；（２）判断所述长形条的类型，若为飞米型长形条，则执行步骤（３）－（４）；若为分路型长形条，则执行步骤（５）－（６）；（３）所述前电性研磨导向触点分别接触所述探针板的前针脚，所述后电性研磨导向触点分别接触所述后针脚；（４）向所述前针脚施加第一电压，并向所述后针脚施加不等于第一电压的第二电压，从而测出磁头电阻；（５）所述分路型长形条的公共测试触点接触所述探针板的一个所述前针脚，所述磁头的测试触点分别接触余下的所述前针脚；（６）向与所述测试触点接触的所述前针脚施加第三电压，并向与所述公共测试触点接触的所述前针脚施加不等于第三电压的第四电压，从而测出磁头电阻。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘剑，
申请(专利权)人：新科实业有限公司，
类型：发明
国别省市：HK
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