基于随机并行梯度下降优化技术的快速数字图像相关测量方法技术

本发明专利技术提出了一种基于并行梯度下降优化技术的快速数字图像相关测量方法，综合考虑被测物体的散斑场中任意一点的位移及其导数等相关参数，利用随机并行优化技术实现快速数字图像相关测量，该方法通过对变形参数采用随机并行扰动，使相关系数收敛于全局唯一极值，由此得到变形参数，该方法原理简单，易于实现，是一种全新概念的DIC测量方法，可以实现DIC快速、高精度、高可靠性的测量，使用该技术还有望实现DIC的实时在线测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种快速数字图像相关测量方法，尤其是一种利用随机并行梯度下降优化技术实现快速数字图像相关测量的方法，该方法可用于在线快速测量物体变形场参数。
技术介绍
数字图像相关方法(DigitalImage Correlation Measurement, DI CM)或称数字散斑相关法(Digital Speckle Correlation Measurement，DSCM)于 20 世纪80年代初由日本的 I. Yamaguchi (Yamaguchi I. A laser-speckle strain gauge . Journal of Physics E Scientific Instruments, 1981，14 :1270 1273)和美国南卡莱纳大学的 W. H. Peter 禾口 W. F. Ranson(Peter W H, Ranson W F. Digital imaging technique in experimental stress analysis , Optical Engineering, 1982, 21 (3) :427 431)等本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种基于并行梯度下降优化技术的快速数字图像相关测量方法，其特征是，利用随机并行梯度下降技术的原理，通过对变形参数Ｋ进行扰动，使性能评价函数Ｊ（Ｋ）收敛到全局极值，最终得到该点的最优变形参数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：龙学军，伏思华，李松洋，梁永辉，王三宏，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科学技术大学，
类型：发明
国别省市：43