条带测试分选机制造技术

本实用新型专利技术实施例公开了一种条带测试分选机，包括：盖板，其下表面上设置有测试座和光检装置，测试座上设有测试针；设在盖板的下方的测试平台，测试平台的引线框上设有晶体管，且设置有十字定位架，当测试针与所述晶体管对准时，十字定位架的中心与光检装置的检测中心重合。本实用新型专利技术实施例提供的条带测试分选机通过在引线框上设置十字定位架，该十字定位架起到参照物的作用，在对准的过程中，只要光检装置的检测中心直接对准十字定位架的中心即可实现测试针与晶体管的对准，所以对准的过程中只要将光检装置的检测中心与十字架的中心对准即可，提高了条带测试分选机的对准工作效率，进而提高了整个条带测试分选机的工作效率。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体测试封装设备
，更具体地说，涉及一种条带测试分选机。
技术介绍
在半导体测试封装行业中，条带测试分选机是一种对晶体管进行测试、并根据测试结果将晶体管中的合格产品筛选出的一种设备。其工作过程为晶体管由 UV(ultraviolet紫外线)膜框上料，晶体管进行批号确定和方向定位后进入到测试平台上，该测试平台通过设置在其上的χ-γ-ζ方向的驱动马达驱动测试平台移动，实现将测试平台上的晶体管与设置在测试平台上方的盖板上的测试针对准，当晶体管与测试针对准后，测试平台在驱动马达的作用下向上移，实现测试针与晶体管的管脚对位接触，并对晶体管进行检测，上述盖板的上表面设置的测试板和测试主机主要是控制测试针进行工作，并将检测结果进行记录，检测完毕后，根据测试结果，采用机械手把晶体管中合格的产品选出，再进行光检，以便进入下一工序进行编带。上述条带测试分选机在工作的过程中，需要将测试针和晶体管进行对准后才能实现测试针对晶体管的检测，虽然上述盖板上设置有光检装置，通过光检装置对准一定的位置后进行调节实现测试针与晶体管之间的对准，但是，在实际的对准过程中，光检装置也是需要多次调整后才能对准其工作时需要对准的位置，从而实现测试针与晶体管对准，这无疑降低了晶体管与测试针之间的对准效率，进而降低了条带测试分选机的工作效率。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供了一种条带测试分选机，以提高条带测试分选机的对准效率，从而提高整个条带测试分选机的工作效率。为了达到上述目的，本技术实施例提供如下技术方案一种条带测试分选机，包括盖板，其下表面上设置有测试座和光检装置，所述测试座上设置有测试针；设置在所述盖板的下方的测试平台，该测试平台的引线框上设置有晶体管，且设置有十字定位架，当测试针与所述晶体管对准时，所述十字定位架的中心与所述光检装置的检测中心重合。优选的，上述条带测试分选机中，所述光检装置为摄像机。优选的，上述条带测试分选机中，所述引线框上设置有四组晶体管，且每组晶体管的数量为四个，且围成正方形区域，所述十字定位架设置在所述正方形区域的中心。由上述技术方案可知，本技术实施例提供的条带测试分选机中，在测试平台的条带上的引线框上设置有十字定位架，当条带测试分选机上的测试针与所述晶体管处于对准状态时，盖板上的光检装置检测中心与十字定位架的中心重合，即处于对准状态。本技术实施例提供的条带测试分选机通过在引线框上设置十字定位架，起到参照物的作用，在对准的过程中，只要光检装置的检测中心直接对准设置在引线框上的十字定位架的中心即可实现测试针与晶体管之间的对准，所以在对准的过程中，只需将光检装置的检测中心对准在十字定位架的中心即可，提高了条带测试分选机在工作过程中测试针与晶体管的对准效率，进而提高了条带测试分选机的工作效率。附图说明图1为本技术实施例提供的条带测试分选机的结构示意图；图2为图1中提供的条带测试分选机中测试平台上的条带的俯视结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术实施例公开了一种条带测试分选机，提高了条带测试分选机的对准效率，进而提高了整个条带测试分选机的工作效率。请参考附图1-2，图1为本技术实施例提供的条带测试分选机的结构示意图， 图2为图1中条带测试分选机中测试平台上的条带的俯视结构示意图。本技术实施例提供的条带测试分选机，包括盖板3，其下表面上设置有测试座4和光检装置(图中未示出)，所述测试座4上设置有测试针5 ；设置在所述盖板3的下方的测试平台1，该测试平台1的条带2的引线框21上设置有晶体管211，且设置有十字定位架212，所述测试针5与所述晶体管211处于对准状态时，光检装置的检测中心与十字定位架212的中心重合，上述测试平台1设置有可驱动其沿着X-Y-Z方向移动的驱动装置(图中未示出)。上述驱动装置优选的为驱动马达，可以在测试平台1上设置三个驱动马达，分别实现测试平台1在三维空间上的移动。本技术实施例中提供的条带测试分选机在检测过程中，当条带2被运送到测试平台1上后，测试平台1在驱动装置的驱动测试平台1移动，而设置在盖板3上的光检装置进行位置定位，当光检装置的中心与十字定位架的中心重合后，测试针即与晶体管实现对准，对准后，测试平台1在驱动装置的驱动其向上移动，实现晶体管与测试针的对准接触以便进行检测。本技术实施例提供的条带测试分选机中，在测试平台1的条带2上的引线框 21上设置有十字定位架212，当条带测试分选机上的测试针5与所述晶体管211处于对准状态时，盖板3上的光检装置检测中心与十字定位架212的中心重合，即处于对准状态。本技术实施例提供的条带测试分选机通过在引线框21上设置十字定位架212，起到参照物的作用，在对准的过程中，只要光检装置的检测中心直接对准设置在引线框21上的十字定位架212的中心即可实现测试针5与晶体管211之间的对准，所以在对准的过程中，只需将光检装置的检测中心对准在十字定位架212的中心即可，提高了条带测试分选机在工作过程中测试针与晶体管的对准效率，进而提高了条带测试分选机的工作效率。上述实施例中提供的条带测试分选机中，光检装置优选的为摄像机，当然也可以为其他的光学位置检测装置。上述实施例中提供的条带测试分选机中，所述引线框21上设置有四组晶体管，且每组晶体管围成正方形区域，所述十字定位架212设置在所述正方形区域的中心。当然上述引线框上的晶体管具体的排列方式可以为多种形式，并不限于上述分布方式，但是，无论晶体管或者测试针采用什么样的形式分布，只要保证在光检装置的检测中心与十字定位架 212的中心重合时，晶体管与测试针是处于对准状态的。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本技术。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本技术的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本技术将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种条带测试分选机，其特征在于，包括：盖板，其下表面上设置有测试座和光检装置，所述测试座上设置有测试针；设置在所述盖板的下方的测试平台，该测试平台的引线框上设置有晶体管，且设置有十字定位架，当测试针与所述晶体管对准时，所述十字定位架的中心与所述光检装置的检测中心重合。

【技术特征摘要】
1.一种条带测试分选机，其特征在于，包括盖板，其下表面上设置有测试座和光检装置，所述测试座上设置有测试针； 设置在所述盖板的下方的测试平台，该测试平台的引线框上设置有晶体管，且设置有十字定位架，当测试针与所述晶体管对准时，所述十字定位架的中心与所述光检装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：张巍巍，
申请(专利权)人：江阴格朗瑞科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32