紫外灯管平行光测试装置制造方法及图纸

技术编号:6739340 阅读:350 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种紫外灯管平行光测试装置,其包括一测试平台,一容置低压汞灯的灯壳,一与该灯壳贯通的纵向导光筒,该灯壳以及该纵向导光筒位于该测试平台上方,该紫外灯管平行光测试装置还包括:一温度监控系统,该温度监控系统包括至少一个设置于该灯壳中的温度传感器,至少一个设于该灯壳上的散热装置,以及与该温度传感器和散热装置连接的控制器。本实用新型专利技术中的紫外灯管平行光测试装置通过温度监控系统保证测试过程中低压汞灯处于一个恒温状态,提高了测试准确性。通过检测装置在实现紫外灯管温度即时监控的同时,还实现了对微生物溶液样品各水平位点紫外辐射强度的快速准确测定,使得实验室紫外灯消毒效果理论研究的数据更加准确可靠。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种平行光测试装置,特别是涉及一种用于检测低压汞蒸气紫外 灯管消毒效果的紫外灯管平行光检测装置。
技术介绍
紫外消毒作为一种不产生消毒副产物的物理消毒技术,迅速被人们所接受,并在 世界范围内投入实际应用。为了更深入的研究紫外灯消毒的影响因素和确定工程实施的具 体参数,都需要进行实验室紫外灯消毒效果理论研究。现有的在实验室环境下用于理论研 究的紫外灯消毒效果测试系统称为CBD式反应器(Collimated Beam Device,CBD),其原理 图如图1所示。T型腔室1’,其中,横向腔室内容置一紫外灯管2’,竖向腔室3’作为光路通 道,以保证辐射至正下方装有待检验的微生物溶液样品4’处的紫外光为平行光。专利号为CN101710181和200820112071. 0的两份专利均根据上述原理设计了紫 外辐射平行光测试装置。但在实现上述功能的同时,忽略了较为重要的两点,首先,由于同 一汞蒸气灯的紫外辐射强度受温度的影响较大,尤其在灯温度超过40度后紫外辐射率明 显降低,因此,检测过程中温度波动应进行检测,以确保实验准确性。其次,微生物溶液样品 处的紫外辐射强度除与紫外灯的垂直距离有关外,还与水平位置有关,因此,准确测定各位 点的紫外辐射值对于最终的测试结果的准确性关系重大。但在上述现有专利中,虽然都设 有紫外灯管冷却装置,但并未对其表面温度进行即时测定,此外,也没有提及方便的微生物 溶液样品平面各水平位点的辐射剂量测定装置。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中的紫外灯管平行光测试装 置无法控制汞灯温度以及无法采集样品上各个点的辐射强度的从而影响实验准确性的缺 陷,提供一种紫外灯管平行灯测试装置。本技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题的一种紫外灯管平行光测试装置,其包括一用于放置样品台的测试平台,一容置低 压汞灯的灯壳,一位于该灯壳下方并与该灯壳贯通的纵向导光筒,该灯壳以及该纵向导光 筒位于该测试平台上方,其特点在于,该紫外灯管平行光测试装置还包括一温度监控系 统,该温度监控系统包括至少一个设置于该灯壳中的温度传感器,和至少一个设于该灯壳 上的散热装置,以及一与该温度传感器和散热装置连接的控制器。其中,该紫外灯管平行光测试装置还包括一用于测试该纵向导光筒正下方水平面 内各点紫外线辐射强度的检测装置,该检测装置包括一探测架和一紫外探头,该探测架的 顶面均勻地分布若干用于插设该紫外探头的探测孔。其中,所述探测孔所覆盖区域的大小,大于或者等于该样平台的顶面面积的大小。其中,该紫外探头的收光口距离该样品台上表面的垂直距离,等于该样品台上的 待测样品的上表面距离该样品台上表面的垂直距离。其中,该紫外灯管平行光测试装置还包括一用于调整该低压汞灯与样品台之间距 离的升降机构。较佳地,该升降机构容置于一箱体内,该升降机构包括一沿竖直方向延伸的丝杠, 该丝杠上设有一滑块,该滑块与该灯壳连接,该丝杠的一端通过一组相互啮合的锥形齿轮 与一手摇杆连接。更佳地,该升降装置为一竖直汽缸,该竖直汽缸的活塞与该灯壳连接。其中,所述探测孔以矩阵形式分布。较佳地,所述探测孔以该探测架的中心为圆心成发散状分布。其中,该散热装置为一风扇。其中,该测试平台上设有至少一个与该样平台适配的定位卡槽,该定位卡槽位于 该纵向导光筒的下方。其中,该纵向导光筒包括至少两个套设的圆筒,且相邻的所述圆筒的内壁与外壁 紧密接触。本技术中,上述优选条件在符合本领域常识的基础上可任意组合,即得本实 用新型各较佳实例。本技术的积极进步效果在于本技术中的紫外灯管平行光测试装置通过 温度监控系统保证测试过程中低压汞灯处于一个恒温状态,提高了测试准确性。进一步地, 通过检测装置更为准确地确定了培养皿所覆盖区域内紫外线辐射强度,在实现紫外灯管温 度即时监控的同时,还实现了对微生物溶液样品各水平位点紫外辐射强度的快速准确测 定,使得实验室紫外灯消毒效果理论研究的数据更加准确可靠。附图说明图1为现有技术的紫外灯管平行光测试装置的结构示意图。图2为本技术实施例1中的紫外灯管平行光测试装置的立体结构示意图。图3为本技术实施例2中的紫外灯管平行光测试装置的立体结构示意图。图4为图3中的探测架的顶面结构示意图。具体实施方式以下结合附图给出本技术较佳实施例,以详细说明本技术的技术方案。实施例1如图2所示,与现有技术相同地,本技术的紫外灯管平行光测试装置包括测 试平台1,在测试平台1的上方设有用于容置低压汞灯11的灯壳12,以及一个位于灯壳12 正下方与灯壳12贯通的纵向导光筒14。测试时,将样平台3以及位于其上盛有测试溶液的 培养皿4放到纵向导光筒14正下方。本技术的紫外灯管平行光测试装置与现有技术的区别在于,其还包括一用于 测试并控制低压汞灯11温度的温度监控系统。该温度监控系统包括两个设置在灯壳12两 侧的作为散热装置的风扇17和一个设置在灯壳12内的温度传感器18,以及设置在箱体5 中与风扇17和温度传感器18连接的控制器6。温度传感器18将实时测得的温度传送到控 制器6,由控制器6控制风扇17的风量对低压汞灯11进行温度调整,确保整个测试过程中低压汞灯11处于恒温状态。再如图2所示,本技术的紫外灯管平行光测试装置还包括一个用于调整低压 汞灯与样品台3竖直方向距离的升降机构。该升降机构容置在箱体5内。该升降机构包括 一纵向设置的丝杠8,其端部通过轴承座81固定箱体5内。丝杠8的一端固定一锥形齿轮 71。该锥形齿轮71与另一锥形齿轮72啮合,锥形齿轮72与一手摇杆9连接。在丝杠8上设有一滑块(图中未示),该滑块与灯壳12连接。同时,在滑块的两侧 还设有一延伸到箱体5内部的灯壳支架13。在箱体5内的丝杠8两侧各设有一根导杆10, 导杆10穿设于灯壳支架13中,从而确保上下调整时纵向导光筒14始终位于培养皿4的正 上方,确保测试的准确性。调整时,通过摇动手摇杆9转动啮合的两个锥形齿轮71和72,带动丝杠8转动,从 而使得滑块在竖直方向滑动,驱动装有低压汞灯11的灯壳12在竖直方向移动。 另外,在测试平台1上位于纵向导光筒14正下方的位置设有两个定位卡槽2,用于 对样平台3进行定位。此外,纵向导光筒14还可以采用两个套设的圆筒,且外层圆筒的内壁与内侧套筒 的外壁紧密接触,有效减少外界光线对测试造成干扰。实施例2如图3所示,本实施例与实施例1的不同之处在于,本实施例中的紫外灯管平行光 测试装置还包括一个用于测试纵向导光筒14正下方区域平面内各点紫外线辐射强度的检 测装置。该检测装置包括一个探测架15以及用于探测紫外线辐射强度的紫外探头16。该 探测架15的顶面以矩阵排布复数个探测孔151,紫外探头16可插设于任意一个探测孔151 中,并对该点位置的紫外线辐射强度进行探测。经过多点位置探测,通过加权平均计算测得 在培养皿4所在区域内紫外线辐射强度的平均值。其中,该紫外探头的收光口距离该样品 台上表面的垂直距离,等于该样品台上的待测样品的上表面距离该样品台上表面的垂直距 离。该紫外探头16为现有技术,在此不再赘述。为了确保上述步骤所得辐射强度数据的准确性,本实施例中该探头架15的整体 尺寸结构与样平台本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种紫外灯管平行光测试装置,其包括一用于放置样品台的测试平台,一容置低压汞灯的灯壳,一位于该灯壳下方并与该灯壳贯通的纵向导光筒,该灯壳以及该纵向导光筒位于该测试平台上方,其特征在于,该紫外灯管平行光测试装置还包括:一温度监控系统,该温度监控系统包括至少一个设置于该灯壳中的温度传感器,和至少一个设于该灯壳上的散热装置,以及一与该温度传感器和散热装置连接的控制器。

【技术特征摘要】
1.一种紫外灯管平行光测试装置,其包括一用于放置样品台的测试平台,一容置低压 汞灯的灯壳,一位于该灯壳下方并与该灯壳贯通的纵向导光筒,该灯壳以及该纵向导光筒 位于该测试平台上方,其特征在于,该紫外灯管平行光测试装置还包括一温度监控系统, 该温度监控系统包括至少一个设置于该灯壳中的温度传感器,和至少一个设于该灯壳上的 散热装置,以及一与该温度传感器和散热装置连接的控制器。2.如权利要求1所述的紫外灯管平行光测试装置,其特征在于,该紫外灯管平行光测 试装置还包括一用于测试该纵向导光筒正下方水平面内各点紫外线辐射强度的检测装置, 该检测装置包括一探测架和一紫外探头,该探测架的顶面均勻地分布若干用于插设该紫外 探头的探测孔。3.如权利要求2所述的紫外灯管平行光测试装置,其特征在于,所述探测孔所覆盖区 域的大小,大于或者等于该样平台的顶面面积的大小。4.如权利要求2或3所述的紫外灯管平行光测试装置,其特征在于,该紫外探头的收光 口距离该样品台上表面的垂直距离,等于该样品台上的待测样品的上表面距离该样品台上 表面的垂直距离。5.如权利要求2所述的紫外灯管平行光测试装置,其特征在于,该紫外灯管平行光测 试装置还包括一用于调整该...

【专利技术属性】
技术研发人员:王培霍洪谊
申请(专利权)人:上海广茂达光艺科技股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:31

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1