标签生产设备和标签生产方法技术

本发明专利技术涉及标签生产设备和标签生产方法。一种标签生产设备，包括：初始值存储装置，用于存储与由光接收装置(35B)检测的检测电压有关的预定初始阈值；阈值校正装置(S50)，用于根据在预定时间发出的校正指令信号使用在初始值存储装置(47)中存储的初始阈值来计算校正阈值，在预定时间，光投射装置(35A)关闭并且外部光(Le)能够从排放出口(4)进入外壳(2)内；标记检测装置(S230)，用于，根据在利用阈值校正装置(S50)计算校正阈值之后并且在光投射装置(35A)处于打开状态中时的光接收装置(35B)的检测电压值达到校正阈值，而检测定位标记(PM)。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于在标签带上打印印记并且形成打印标签的一种打印标签生产设备和一种标签生产方法。
技术介绍
在现有技术中，已经提出了一种标签生产设备，通过在带盒内以卷的形状存储用作印记接收材料的带、当从该卷进给出带时在带上打印所期印记、并且利用刀具切割带有印记的带而生产打印标签。关于这种标签生产设备，已经提出了一种技术，其中预先在带沿着进给方向的预定位置中打印吸光黑色标记，并且设置能够以光学方式检测这个黑色标记的标记传感器以检测带沿着进给方向的位置(例如，诸如在JP，A, 2007-76267中)。在这种情形中使用的上述标记传感器通常是包括光投射装置和光接收装置的反射传感器，并且使用光接收装置检测从光投射装置投射的光的反射光。与其它区段相比呈现较低量的反射光的黑色标记的行为然后被用于检测黑色标记经过标记传感器处。
技术实现思路
本专利技术所要解决的问题尽管如此，经常存在如此情形，其中标记传感器被靠近标签生产设备的带排放出口置放从而实现这种作用。结果，根据使用者的使用模式例如在明亮位置中的室内或者室外使用，外部光可以从外壳的排放出口进入外壳，从而影响利用上述光学技术检测黑色标记。利用这种布置，相对于带进给方向的带位置的检测准确度的降低发生，从而导致进给距离的变化和打印位置的偏移，从而可能降低打印标签的质量。因此本专利技术的目的在于提供能够在不存在进给方向变化或者打印位置偏移的情况下生产高质量打印标签的一种标签生产设备和一种标签生产方法。为了实现上述目的，根据第一专利技术，提供一种标签生产设备，包括包括排放出口的外壳；被设置在外壳内侧以朝向排放出口进给包括吸光定位标记的标签带的进给装置； 用于在将由进给装置进给的标签带或者将被结合到标签带的印记接收带上打印所期印记的打印装置；光学传感器，该光学传感器被设置在外壳内侧，并且包括能够朝向将被进给装置进给的标签带的进给路径投射光的光投射装置和能够输出相应于所接收的光数量的检测电压值的光接收装置；用于控制光学传感器从而光投射装置根据标签生产指令信号的输入而被打开的光打开控制装置；用于存储与由光接收装置检测的检测电压有关的预定初始阈值的初始数值存储装置；阈值校正装置，该阈值校正装置用于根据在此时光投射装置关闭并且外部光能够从排放出口进入外壳内侧的预定时间发出的校正指令信号使用在初始数值存储装置中存储的初始阈值计算校正阈值；标记检测装置，该标记检测装置用于在利用阈值校正装置计算校正阈值之后并且在光投射装置处于打开状态中时根据光接收装置的检测电压值达到校正阈值而检测定位标记；进给控制装置，该进给控制装置用于控制进给装置从而根据标签生产指令信号的输入进给得以启动，并且用于基于标记检测装置的检测结果控制进给装置的进给操作；和打印控制装置，该打印控制装置用于基于标记检测装置的检测结果控制打印装置的打印操作。根据本专利技术的标签生产设备，吸光定位标记被设置在标签带上。当从光学传感器的光投射装置投射的光的反射光被光接收装置检测时，与其它区段相比，这个定位标记具有降低的反射光数量。结果，当光被朝向定位标记投射时，由光接收装置输出的检测电压值根据光数量而改变(降低或者增加)。标记检测装置利用定位标记的这个行为检测定位标记，并且基于检测结果，进给控制装置控制进给装置的进给操作并且打印控制装置控制打印装置的打印操作。利用基于前述检测电压值的定位标记的检测，通过比较检测电压的大小和预定阈值而实现了上述检测。在本专利技术中，相应于检测电压值的范围的预定初始阈值是预定的并且被存储在初始数值存储装置中。在此情形中，在打印标签生产期间，检测电压值当光在所进给的标签带上的、除了定位标记的区域之外的任何区域上投射时相对地增加(或者相对地降低)，并且当光在定位标记上投射时降低(或者增加)。即，检测电压值在预定波动范围内呈现推测的大小波动。当在这个波动期间检测电压值达到上述初始阈值时，基于其检测定位标记是可能的。注意，例如根据使用者的使用模式例如室内或者在明亮位置中的室外使用，外部光可以从外壳的排放出口进入外壳，从而影响利用上述光学传感器检测定位标记。根据现有技术，在如上所述通过光接收装置的光接收数量的显著降低和基于定位标记的吸光特性的性质的、检测电压的显著改变而检测定位标记时，当上述外部光进入设备时，由定位标记引起的、光接收装置的光接收数量的改变行为被外部光减轻。即，在前描述的检测电压的改变数量的降低降低了检测电压的波动宽度，从而可能地导致即使当光在定位标记上投射时所接收的光数量也未能达到初始阈值，从而使得定位标记检测是困难的。根据本专利技术，阈值校正装置基于校正指令信号对于上述外部光的效果加以考虑地校正初始阈值。即，在当光投射装置处于关闭状态中并且外部光能够从排放出口进入时的预定时间计算校正阈值。结果，根据在推测起来具有更窄波动宽度的外部光进入时的波动宽度设定新的校正阈值是可能的。利用这种布置，使得当光在定位标记上投射时相应于接收光数量的电压值比校正阈值更低(或者更高)并且因此可靠地检测定位标记是可能的。因此，与由上述外部光进入引起的检测电压的行为无关，能够以高准确度检测定位标记。结果，能够以高准确度执行进给控制和打印控制，而与使用者的使用模式无关，从而使得在不存在进给距离变动或者打印位置移位的情况下生产高质量打印标签成为可能。根据第二专利技术，在根据第一专利技术的标签生产设备中，初始数值存储装置存储相应于光接收装置的检测电压值范围的预定初始白电压值VwO和初始黑电压值VbO，和与检测电压有关的预定初始阈值VbO+k(VwO-VbO)，在此处k是小于1的数字；阈值校正装置计算校正阈值Vl+k (VwO-Vl)，在此处Vl是基于在初始数值存储装置中存储的电压值并且根据校正指令信号当发出校正指令信号时光接收装置的检测电压值；并且标记检测装置在由阈值校正装置计算校正阈值Vl+k(VwO-Vl)之后并且在光投射装置处于打开状态中时根据光接收装置的检测电压值达到校正阈值Vl+k(VwO-Vl)而检测定位标记。根据第三专利技术，在第二专利技术中，该标签生产设备进一步包括用于在预定时间输出校正指令信号的第一校正指令装置，所述预定时间在标签生产指令信号的输入之后，在进给装置基于进给控制装置的控制而开始进给之前，并且在光投射装置基于光打开控制装置的控制而打开之前；其特征在于阈值校正装置根据从第一校正指令装置输入的校正指令信号而基于检测电压值Vl计算校正阈值Vl+k (VwO-Vl)。根据第四专利技术，在第二专利技术中，该标签生产设备进一步包括带检测装置，该带检测装置用于在输入标签生产指令信号之后并且在光投射装置基于光打开控制装置的控制而处于打开状态中时、在进给装置基于进给控制装置的控制而开始进给之后根据光接收装置的检测电压值V达到预定带阈值Vt而检测标签带的前端的经过；用于当带检测装置检测到标签带的前端经过时关闭光投射装置的光关闭控制装置；和用于在预定时间输出校正指令信号的第二校正指令装置，所述预定时间在光投射装置基于光关闭控制装置的控制而关闭之后；其特征在于阈值校正装置根据从第二校正指令装置输入的校正指令信号而基于检测电压值Vl计算校正阈值Vl+k (VwO-Vl)。附图简要说明附图说明图1是示意包括本专利技术的一个实施例的标志标签(tag label)生产设备本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种标签生产设备，包括：外壳，所述外壳包括排放出口；进给装置，所述进给装置被设置在所述外壳内，以朝向所述排放出口进给包括吸光定位标记的标签带；打印装置，所述打印装置用于在将由所述进给装置进给的所述标签带上或者在将被结合到所述标签带的印记接收带上打印所期印记；光学传感器，所述光学传感器被设置在所述外壳内并且包括光投射装置和光接收装置，所述光投射装置能够朝向将被所述进给装置进给的所述标签带的进给路径投射光，所述光接收装置能够输出与所接收的光量相应的检测电压值；光打开控制装置，所述光打开控制装置用于控制所述光学传感器从而所述光投射装置根据标签生产指令信号的输入而被打开；初始值存储装置，所述初始值存储装置用于存储与由所述光接收装置检测的所述检测电压有关的预定初始阈值；阈值校正装置，所述阈值校正装置用于根据在预定时间发出的校正指令信号使用在所述初始值存储装置中存储的所述初始阈值来计算校正阈值，在所述预定时间，所述光投射装置关闭并且外部光能够从所述排放出口进入所述外壳内；标记检测装置，所述标记检测装置用于，根据在利用所述阈值校正装置计算所述校正阈值之后并且在所述光投射装置处于打开状态中时的所述光接收装置的所述检测电压值达到所述校正阈值，而检测所述定位标记；进给控制装置，所述进给控制装置用于控制所述进给装置从而根据所述标签生产指令信号的输入而开始进给，并且用于基于所述标记检测装置的检测结果而控制所述进给装置的进给操作；和打印控制装置，所述打印控制装置用于基于所述标记检测装置的检测结果而控制所述打印装置的打印操作。...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：今村雄介，入山靖广，
申请(专利权)人：兄弟工业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP