设备标识信息的获取方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例涉及一种设备标识信息的获取方法及装置，方法包括：利用第一GPIO端口，检测电容通过待测电阻进行放电的第一放电时间；利用第二GPIO端口，检测电容通过定值电阻进行放电的第二放电时间；根据第一放电时间、第二放电时间和定值电阻的电阻值，获得待测电阻的电阻值。本发明专利技术实施例能够提高GPIO端口的识别效率。本发明专利技术实施例能够避免现有技术中固定个数的GPIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息而导致的限制了GPIO端口能够识别设备标识信息的数量的问题，从而提高了GPIO端口的识别效率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】设备标识信息的获取方法及装置
技术介绍
通常，同一种类硬件设备(例如液晶显示屏、照相机、充电器等)，可以由不同厂家进行生产，或者还可能会有不同的功能特征参数，每个不完全相同的硬件设备在应用程序的使用上会存在一些差别。因此，在给每个硬件设备设置应用程序时，需要根据硬件设备的设备标识信息，例如厂家信息、特征参数信息等，给硬件设备设置相应的应用程序。现有技术中，可以采用通用输入输出(General Purpose Input Output，简称 GPIO)端口识别硬件设备的输出电平。由于GPIO端口只有高电平和低电平两种状态，所以， 一个GPIO端口只能识别两个设备标识信息，也就是说，两个GPIO端口只能识别四个设备标识信息。以此类推，现有技术中固定个数的G PIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息，限制了 GPIO端口能够识别设备标识信息的数量，从而降低了 GPIO端口的识别效率。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种设备标识信息的获取方法及装置，用以避免现有技术中固定个数的GPIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息而导致的限制了 GPIO端口能够识别设备标识信息的数量的问题。本专利技术实施例提供了一种设备标识信息的获取方法，包括利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一 GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；利用第二 GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间， 所述第二 GPIO端口通过待测电阻与所述电容连接；根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。本 专利技术实施例还提供了一种设备标识信息的获取装置，包括第一检测单元，用于利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一 GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；第二检测单元，用于利用第二 GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二 GPIO端口通过待测电阻与所述电容连接；阻值获得单元，用于根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；信息获取单元，用于根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。由上述技术方案可知，本专利技术实施例通过根据电容通过待测电阻进行放电的放电时间、电容通过定值电阻进行放电的放电时间和定值电阻的电阻值，获得待测电阻的电阻值，使得根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，能够获取与上述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息，能够避免现有技术中固定个数的GPIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息而导致的限制了 GPIO端口能够识别设备标识信息的数量的问题，从而提高了 GPIO端口的识别效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术一实施例提供的设备标识信息的获取方法的流程示意图；图2为本专利技术一实施例提供的设备标识信息的获取方法中的端口连接示意图；图3为本专利技术另一实施例提供的设备标识信息的获取装置的结构示意图；图4为本专利技术另一实施例提供的设备标识信息的获取装置的结构示意图。具体实施例方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1为本专利技术一实施例提供的设备标识信息的获取方法的流程示意图，以及图2 为本专利技术一实施例提供的设备标识信息的获取方法中的端口连接示意图。如图2所示，第一GPIO端口通过定值电阻与上述电容连接；第二GPIO端口通过待测电阻与上述电容连接。 如图1所示，本实施例的设备标识信息的获取方法可以包括101、利用第一 GPIO端口，检测电容通过上述待测电阻进行放电的第一放电时间；具体地，可以将第一 GPIO端口设置为输入状态，用以对电容的电平进行检测，以及将第二 GPIO端口设置为输出低电平状态，以使电容通过待测电阻进行放电，并将第一 GPIO端口检测到的电容的电平从高电平到低电平的时间，作为第一放电时间。例如将第一GPIO端口设置为输入状态，用以对A点的电平进行检测。当A点的电平稳定在高电平之后，可以启动第一 GPIO端口的中断功能，并通过软件开启计数器，开始对A点的电平进行检测；将第二 GPIO端口设置为输出低电平状态，从而使得电容可以通过待测电阻进行放电； 将第一 GPIO端口检测到的A点的电平从高电平到低电平的时间，作为第一放电时间。102、利用第二 GPIO端口，检测上述电容通过上述定值电阻进行放电的第二放电时间；具体地，可以将第二 GPIO端口设置为输入状态，用以对电容的电平进行检测，以及将第一 GPIO端口设置为输出低电平状态，以使电容通过定值电阻进行放电，并将第二 GPIO端口检测到的电容的电平从高电平到低电平的时间，作为第二放电时间。例如将第二GPIO端口设置为输入状态，用以对A点的电平进行检测。当A点的电平稳定在高电平之后，可以启动第二 GPIO端口的中断功能，并通过软件开启计数器，开始对A点的电平进行检测；将第一 GPIO端口设置为输出低电平状态，从而使得电容可以通过定值电阻进行放电；将第二 GPIO端口检测到的A点的电平从高电平到低电平的时间，作为第二放电时间。需要说明的是上述101与102没有固定的执行顺序。可以理解的是101与102均是对电容的放电时间的检测，所以101与103之前均需要执行对电容进行充电的充电过程，才能实现对电容的放电时间的检测。如图2所示，可选地，具体可以通过第二 GPIO端口，经由待测电阻给电容充电，例如将第二 GPIO端口设置为输出高电平状态，从而实现通过待测电阻给电容充电。可选地，具体还可以通过第一 GPIO 端口，经由定值电阻给电容充电，例如将第一 GPIO端口设置为输出高电平状态，从而实现通过定值电阻给电容充电。103、根据上述第一放电时间、上述第二放电时间和上述定值电阻的电阻值，获得上述待测电阻的电阻值；具体地，可以根据Rl = R2T1T22，计算Rl的阻值；其中，上述Rl为待测电阻；R2为定值电阻；Tl为第一放电时间；T2为第二放电时间。104、根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与上述待测电阻的电阻值对应的设备标识(ID)信息。进一步地，本实施例在104之前还可以进一步建立上述待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系。其中，待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系可以如表1所7J\ ο表1待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系待测电阻的电阻值设备标识信息Rll设备IDl信息R12设备ID2本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种设备标识信息的获取方法，其特征在于，包括：利用第一通用输入输出ＧＰＩＯ端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一ＧＰＩＯ端口通过定值电阻与所述电容连接；利用第二ＧＰＩＯ端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二ＧＰＩＯ端口通过待测电阻与所述电容连接；根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种设备标识信息的获取方法，其特征在于，包括利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一 GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；利用第二 GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二 GPIO端口通过待测电阻与所述电容连接；根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括在检测放电时间前通过所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口给电容充电。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过所述第一GPIO端口或所述第二 GPIO端口给电容充电，包括将所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口设置为输出高电平状态，用以通过所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口给所述电容充电。4.根据权利要求1至3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述利用第一GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，包括将所述第一 GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测；将所述第二 GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述待测电阻进行放电；将所述第一 GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第一放电时间。5.根据权利要求1至3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，包括将所述第二 GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测；将所述第一 GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述定值电阻进行放电；将所述第二 GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第二放电时间。6.根据权利要求1至3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值，包括根据Rl = R2T1/T2，计算Rl的阻值；其中，所述Rl为所述待测电阻；所述R...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜建辉，
申请(专利权)人：华为终端有限公司，
类型：发明
国别省市：94