总线参数自动测量系统及方法技术方案

技术编号:6558644 阅读:170 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种总线参数自动测量系统,包括互连的一波形显示单元及一控制单元,所述控制单元包括依次相连的一解码单元、一取样测量单元及一输出单元;所述解码单元与所述波形显示单元相连,所述波形显示单元用于接收一待测总线的一待测信号并显示所述待测信号的波形,所述解码单元用于解码所述待测信号以判断所述待测信号是否为有效信号,所述取样测量单元根据所述波形显示单元显示的波形,测量所述待测总线的参数,并将测量结果传送给输出单元,所述输出单元用于显示测量结果。本发明专利技术还提供了一总线参数自动测量方法,所述总线参数自动测量系统及方法可提高信号测量的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量系统及方法,特别涉及一种。
技术介绍
目前,示波器广泛应用于总线的性能检测。然而,目前大多采用单个示波器对总线参数 逐一手动测量,要达到上述目的,操作者必须针对各种不同的参数,以手动的方式操作示波 器上的各种旋钮或按钮,以调整每一波形图像的显示位置以及其显示图像的縮放比例。这种 对总线多参数的手动测量效率较低,且测量结果也会因个人操作习惯的影响而误差较大。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种提高测量效率的。一种总线参数自动测量系统,包括互连的一波形显示单元及一控制单元,所述控制单元 包括依次相连的一解码单元、 一取样测量单元及一输出单元;所述解码单元与所述波形显示 单元相连,所述波形显示单元用于接收一待测总线的一待测信号并显示所述待测信号的波形 ,所述解码单元用于解码所述待测信号以判断所述待测信号是否为有效信号,所述取样测量 单元根据所述波形显示单元显示的波形,测量所述待测总线的参数,并将测量结果传送给输 出单元,所述输出单元用于显示测量结果。一种总线参数自动测量方法,应用于上述总线参数自动测量系统,包括以下步骤所述波形显示单元从所述待测总线接收一待测信号;所述波形显示单元显示所述待测信号的波形,并传送所述待测信号给所述解码单元; 所述解码单元解码所述待测信号以得到所述待测信号的位址; 所述解码单元判断所述待测信号的位址是否与所述待测总线的位址一致; 若所述待测信号的位址与所述待测总线的位址一致,所述取样测量单元测量所述待测信 号并将测量结果传送给输出单元;以及 所述输出单元显示所述测量结果。所述通过操作所述操作界面便可实现信号的自动测量,避 免了手动调整波形和人工读取数据,大大提高了测量效率及方便了用户使用。 附图说明图l是本专利技术总线参数自动测量系统较佳实施方式的方块图。图2是本专利技术总线参数自动测量方法较佳实施方式的流程图。 具体实施例方式下面结合附图及较佳实施方式对本专利技术作进一步详细描述请参照图l,本专利技术总线参数自动测量系统的较佳实施方式包括依次相连的一待测总线 10、 一波形显示单元20及一控制单元30。所述控制单元30包括一通道选择单元32和依次相连 的一解码单元34、 一取样测量单元36及一输出单元38。所述波形显示单元20的输入端通过若 干信号通道C1、 C2…Cn连接至所述待测总线10,输出端连接所述通道选择单元32及所述解码 单元34。所述待测总线10用于产生至少一种待测信号;所述波形显示单元20为一示波器,其通过 相应的信号通道接收所述待测总线10产生的待测信号;所述控制单元30可设于一电脑系统( 图未示)中,其可通过电脑系统中的一操作界面进行操作,以自动测量所述待测总线10产生 的信号,其中所述通道选择单元32控制所述波形显示单元20选择开启一条信号通道C1、 C2… 或Cn。请参考图2,应用上述总线参数自动测量系统对信号进行测量时,本专利技术总线参数自动 测量方法的较佳实施方式包括以下步骤步骤S101:通过操作所述操作界面,使所述通道选择单元32控制所述波形显示单元20开 启一信号通道,如信号通道C1,以从所述待测总线10接收一相应的待测信号。本实施方式中 ,所述操作界面上设有上述各种信号的选择键,当点击其中一种信号的选择键,如时钟信号 键时,所述通道选择单元32控制所述波形显示单元20选择开启时钟信号所在的信号通道。步骤S 102:在所述操作界面上键入待测总线的位址。步骤S103:所述解码单元34接收由所述波形显示单元20传送的待测信号并解码待测信号 ,以得到所述待测信号的位址。步骤S 104:所述解码单元34判断解码后待测信号的位址与所述待测总线的位址是否一致 ,若解码后的待测信号的位址与所述待测总线的位址一致,则所述待测信号为有效信号,并 执行步骤S105,反之,所述待测信号为无效信号,并返回步骤SIOI。步骤S105:所述取样测量单元36根据接收到的待测信号,计算所述待测信号的参数以得 到该参数的最大值及最小值,所述波形显示单元20自动将两游标分别移动到所述待测信号的 参数的最大值处及最小值处。步骤S106:在所述待测信号参数的最大值与最小值的范围内适当调整游标位置,使所述 待测信号显示在波形显示单元20的波形的位置,解析度等达到最佳效果,例如,使波形显示5单元20的水平刻度至少等于信号周期值的十分之一,以在显示至少一个完整信号波形的前提下,达到最佳的波形解析度,便于后续的测量和观察。步骤S107:通过操作所述操作界面,使所述取样测量单元36对解码后的待测信号进行自动测量。步骤S108:所述取样测量单元36判断是否完成所有待测信号的测量。若所述取样测量单元36没有完成所有待测信号的测量,返回步骤SIOI,选择开启另一信号通道,如信号通道C2,以接收另一待测信号。步骤S109:若所述取样测量单元36已完成所有待测信号的测量,所述取样测量单元36将每一待测信号的测量结果传送给输出单元38。步骤S110:所述输出单元38根据接收到的数据制作数据报告,以整体、直观地将测试结果显示在电脑系统的显示器上,供用户参考以判断信号的完整性、可靠性等。本实施方式中,所述测试结果是以excel表格的形式进行显示,通过预先设定,每一种待测信号的信息均可显示在所述表格中的相应栏位中,用户还可根据实际情况,更改显示方式。需要说明的是,通过操作所述操作界面可选择多个波形显示单元20对多个待测的总线进行同时测量。所述通过多个所述波形显示单元同时连接多个所述待测总线,由所述取样测量单元进行待测信号的测量,避免了手动操作,提高了测量效率。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种总线参数自动测量系统,包括互连的一波形显示单元及一控制单元,所述控制单元包括依次相连的一解码单元、一取样测量单元及一输出单元;所述解码单元与所述波形显示单元相连,所述波形显示单元用于接收一待测总线的一待测信号并显示所述待测信号的波形,所述解码单元用于解码所述待测信号以判断所述待测信号是否为有效信号,所述取样测量单元根据所述波形显示单元显示的波形,测量所述待测总线的参数,并将测量结果传送给输出单元,所述输出单元用于显示测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种总线参数自动测量系统,包括互连的一波形显示单元及一控制单元,所述控制单元包括依次相连的一解码单元、一取样测量单元及一输出单元;所述解码单元与所述波形显示单元相连,所述波形显示单元用于接收一待测总线的一待测信号并显示所述待测信号的波形,所述解码单元用于解码所述待测信号以判断所述待测信号是否为有效信号,所述取样测量单元根据所述波形显示单元显示的波形,测量所述待测总线的参数,并将测量结果传送给输出单元,所述输出单元用于显示测量结果。2.如权利要求l所述的总线参数自动测量系统,其特征在于所述 待测总线通过至少一信号通道与所述波形显示单元相连,每一条信号通道用于传输一相应的 待测信号。3.如权利要求2所述的总线参数自动测量系统,其特征在于所述 控制单元还包括一与所述波形显示单元连接的通道选择单元,所述通道选择单元用于控制所 述波形显示单元选择开启 一条信号通道接收所述待测信号。4.如权利要求3所述的总线参数自动测量系统,其特征在于所述 控制单元设于一电脑系统中,所述通道选择单元、解码单元及取样测量单元通过所述电脑系 统中的一操作界面进行操作。5.如权利要求4所述的总线参数自动测量系统,其特征在于所述 输出单元为一excel表格,其通过所述电脑系统中的电脑显示器显示测量结果。6. 一种总线参数自动测量方法,应用于如权利要求l所述的总线参 数自动测量系统,所述总线参数自动测量方法包括以下步骤 所述波形显示单元从...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏旺丁洪永程梁献全黄柏凯蔡宓纹郭启仁
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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