激光离子化质量分析中的试样导入方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供激光离子化质量分析中的试样导入方法，相对喷出试样气体的轴使通过离子化用激光器而生成的离子飞行来进行检测的轴以斜的方向交叉，使上述离子与上述试样气体中的原子·分子的碰撞减少，抑制质量分辨率的降低。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及二.碌.英等的微量分析中使用的激光离子化质量分析装置的高灵敏度 检测方法及装置，特别是涉及该质量分析中的斜向(斜方)试样导入方法及装置。
技术介绍
气相色谱仪/质量分析法，在环境试样等的分析中得到广泛利用，为了提高分析 灵敏度，希望在试样的分子密度高的领域对试样分子进行离子化。图1为表示以往的激光离子化质量分析中的试样导入方法的示意图。在该图中，101表示色谱仪，102表示试样气体的导入部，103表示配置于导入部 102的喷嘴，104表示质量分析装置，105表示试样气体的离子化室，106表示试样气体，107 表示对试样气体106中的分子进行照射的离子化用激光器，108表示生成的离子。予以说明 的是，C表示生成的离子108的加速电极，D表示离子108的引出电极。这样，在以往的激光离子化质量分析中的试样导入方法(参照下述专利文献1) 中，将从色谱仪101溶出的试样通过与导入部102直交地配置的喷嘴103而导入质量分析 装置104。在该质量分析装置104中，在离子化室105中，使对喷嘴103附近的分子密度高 的试样气体106中的分子照射离子化用激光器107后而生成的离子108飞行。但是，由于 喷出试样气体的轴与生成的离子108飞行而被检测的轴一致地构成，因此在试样气体106 的分子的密度高的领域，试样气体106中的原子 分子与生成的离子108碰撞的概率变高。 因此，存在离子的行进速度具有分布、进而质量分辨率降低至100左右这样的问题。专利文献1 专利第3571215号公报
技术实现思路
如上所述，在以往的试样导入方法中，现状是，不降低质量分辨率地提高了分析灵 敏度的激光离子化质量分析没有实现。本专利技术，鉴于上述状况，目的在于提供激光离子化质量分析中的试样导入方法和 装置，所述试样导入方法可相对于喷出试样气体的轴使生成的离子飞行而进行检测的轴以 斜的方向交叉，使试样气体中的原子、分子与离子的碰撞减少，抑制质量分辨率的降低。附图说明图1为表示以往的激光离子化质量分析中的试样导入方法的示意图。图2为表示本专利技术的实施例的激光离子化质量分析中的斜向试样导入部的示意 图。图3为使用表示本专利技术的激光离子化质量分析中的斜向试样导入装置的质量分 析结果的图。图4为表示本专利技术的实施例的使用斜向试样导入装置的激光离子化质量分析装 置的整体图。图5为表示驱动多台使用了表示本专利技术的实施例的斜向试样导入装置的激光离 子化质量分析装置的例子的图。图6为表示成为利用本专利技术的质量分析的对象的二鴻英化合物的一个例子的图。 具体实施例方式[1]本专利技术的激光离子化质量分析中的试样导入方法，使通过离子化用激光器 (7)生成的离子⑶飞行而检测出的轴⑶相对于喷出试样气体(6)的轴㈧以斜的方向 交叉，使上述离子(8)与上述试样气体(6)中的原子 分子的碰撞减少，抑制质量分辨率的 降低。[2]本专利技术的激光离子化质量分析中的试样导入装置，具备将从色谱仪(1)溶出 的试样导入的导入部O)、在该导入部O)以斜的方向将角度倾斜而配置的喷嘴(3)、从该 喷嘴(3)将试样导入的离子化室(5)、对该离子化室(5)中的试样气体(6)进行照射的离子 化用激光器(7)、通过上述离子化用激光器(7)对上述试样气体(6)中的分子的照射而生 成的离子(8)、使该离子(8)飞行的加速电极(C)和引出电极(D)，使通过离子化用激光器 (7)生成的离子⑶飞行而检则出的轴⑶相对于喷出上述试样气体(6)的轴㈧以斜的 方向交叉地构成。实施例以下对本专利技术的实施方式详细进行说明。图2为表示本专利技术的实施例的激光离子化质量分析中的斜向试样导入装置的示 意图。在该图中，1为色谱仪，2为试样气体的导入部，3为在导入部2以斜的方向配置的 喷嘴，4为质量分析装置，5为试样气体的离子化室，6为从喷嘴3导入到质量分析装置4的 离子化室5中的试样气体，7为对试样气体6中的分子进行照射的离子化用激光器，8为生 成的离子。需要说明的是，C表示生成的离子8的加速电极，D为离子8的引出电极。因此，将从色谱仪1溶出的试样通过在导入部2以斜的方向配置的喷嘴3，导入质 量分析装置4的离子化室5中。在该质量分析装置4中，在离子化室5中，通过对试样气体 6中的分子照射离子化用激光器7而生成离子8。此时，通过将喷嘴3以斜的方向配置于导 入部2，喷出试样气体6的轴A和使生成的离子飞行而检测出的轴B以斜的方向交叉，因此 可减少试样气体6中的原子、分子与生成的离子8的碰撞。由此可抑制质量分辨率的降低。图3为表示使用了本专利技术的激光离子化质量分析中的斜向试样导入装置的质量 分析结果的图。在该图中，横轴为飞行时间(相当于质量)，纵轴为信号强度。该图表示 氯苯(C6H5Cl)的质量光谱，左端的峰A表示12C61H535Cl的同位素，从左起的第2个峰B表示 13C12C51H535Cl的同位素，从左起的第3个峰C表示UC61H537Cl的同位素，从左起的第4个峰D 表示13C12C51H537Cl的同位素。这些峰的间隔仅仅1个质量数不同。如果由该图求出峰半值 宽度(Am)、计算分辨率(m/Am)，则获得1500的值。即，可将质量分辨率提高到1500。由 于在以往的激光离子化质量分析中的试样导入装置的情况下质量分辨率为100左右，因此 根据本专利技术，质量分辨率得到大幅度地提高。图4为使用了表示本专利技术的实施例的斜向试样导入装置的激光离子化质量分析 装置的整体图。4在该图中，11为试样的自动注入装置，12为气相色谱仪(GC)，13为喷嘴，14为飞行 时间型质量分析装置(TOF-MS)，15为检测离子的检测器，16为离子化用激光器，17为反射 镜，18为离子化用激光器16的导入部，19为个人计算机，20为示波器。虽然在图中没有示出，但如上所述，为了使试样气体中的原子 分子与生成的离子 的碰撞减少，喷嘴13相对飞行时间型质量分析装置14以斜的方向将角度倾斜而配置。导入 飞行时间型质量分析装置14内的试样气体中的分子被离子化用激光器16照射而离子化。 生成的离子用检测器15检测，通过个人计算机19、示波器20，如图3所示进行质量分析。图5为表示驱动多台使用了表示本专利技术的实施例的斜向试样导入装置的激光离 子化质量分析装置的例子的图。即使在此处，虽然在图中没有示出，但喷嘴13相对于飞行 时间型质量分析装置14以斜的方向将角度倾斜而配置。此处，使用了图4所示的斜向试样导入装置的激光离子化质量分析装置31、32、 33,34以4台一组地构成。作为离子化用激光器，配置飞秒激光器35，从该飞秒激光器35 介由各自的反射镜36、37、38、39同时对飞行时间型质量分析装置31A、32A、33A、34A内的试 样气体照射地构成。这样，通过驱动多台使用了斜向试样导入装置的激光离子化质量分析装置，可同 时进行许多的质量分析。此处，对于作为通过本专利技术而进行质量分析的试样的一个例子的二.喊英进行说明。图6为表示作为质量分析对象的二.喊英化合物的一个例子的图，在图6 (a)中示出 2,3,7,8-四氯二苯并对二.喊英，而在图6(b)中示出2，3，4，7，8-五氯二苯并呋喃。所谓二.碟英，为属于毒性非常强的氯代芳香族烃的化合物，也称为人类产生的最 强的毒物。作为亲脂性的污本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种激光离子化质量分析中的试样导入方法，其特征在于，以使通过离子化用激光器生成的离子飞行而检测的轴相对于喷出试样气体的轴以斜的方向交叉，减少上述离子与上述试样气体中的原子·分子的碰撞，抑制质量分辨率的降低。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种激光离子化质量分析中的试样导入方法，其特征在于，以使通过离子化用激光 器生成的离子飞行而检测的轴相对于喷出试样气体的轴以斜的方向交叉，减少上述离子与 上述试样气体中的原子·分子的碰撞，抑制质量分辨率的降低。2.根据权利要求1所述的激光离子化质量分析中的试样导入方法，其特征在于，通过 上述离子化用激光器，仅仅选择吸收该激光的分子来进行离子化。3.根据权利要求1所述的激光离子化质量分析的试样导入方法，其特征在于，使离子 化用激光器为波长可变激光器，通过该激光器的波长变换，对于特定的二.碟英分子提高离 子化效率。4.根据权利要求1所述的激光离子化质量分析的试样导入方法，其特征在于，上述离 子化用激光器为飞秒激光器，提高激发寿命短的二....

【专利技术属性】
技术研发人员：今坂藤太郎，
申请(专利权)人：国立大学法人九州大学，
类型：发明
国别省市：JP