【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及反射式太赫兹光谱分析方法，具体地说本专利技术涉及对弱极性有机化 合物材料进行反射式太赫兹光谱测量后，不需要人为干涉即可消除反射式光谱测量装置 中的位相误差以及水蒸气吸收影响的太赫兹光谱分析方法。
技术介绍
反射式太赫兹时域光谱技术(THz-RTDS) —直以来都被认为是更接近于实际应 用的探测目标物体特性的方法。反射式测量可以提供样品表面和内部的距离信息，因此 可以对物体的三维图像进行重构；更有利于探测对太赫兹辐射不透明的大而厚的物体； 并且是一种可以检验和识别埋在不可穿透材料中的目标物的方法，例如检查恐怖分子身 上携带的炸药，航空隔热材料中的缺陷等等。在反射式太赫兹时域光谱技术对材料信息提取中，根据菲涅尔公式，通常需要 分别测量样品信号和参考信号，并计算二者精确的位相和振幅来求解样品消光系数。但 是，材料吸收引起的信号的位相变化的推导一直以来都存在一个难题，那就是所谓的"misplacement phase error"，即提取参考信号的反射界面和提取样品信号的反射界面不 完全重合，两反射界面之间的距离差造成的位相误差非常难以修正。为了解决这个难题，各种报道记载了多种方法，包括精确的调节实验系统、数 字修正计算法以及利用K-K变换关系(Kramers-Kronig transform)直接由振幅反射率计 算位相差等。但是这些方法不是需要人为干预就是需要很大的计算量，处理起来十分复 杂。并且都是在没有水蒸气吸收的理想条件下的近似计算，并不适用于具有大气衰减的 实验系统的测量计算。
技术实现思路
本专利技术提供一种，对参考信号和待 测样品的位相谱...
【技术保护点】
一种消除位相误差的反射式太赫兹光谱分析方法，其特征在于，包括如下步骤：（１）测量没有放置样品时参考信号的太赫兹时域波形；（２）测量载有待测样品信息的太赫兹时域波形；（３）由太赫兹时域波形分别得到参考信号以及待测样品在有效频率范围内的位相谱ω↓［ｒ］ω、ω↓［ｓ］（ω），ω为相应的角频率；（４）将被测样品的位相谱减去参考信号的位相谱得到位相差谱ω↓［ｓ］ω－ω↓［ｒ］（ω）；（５）由得到的位相差谱ω↓［ｓ］（ω）－ω↓［ｒ］（ω）对相应的角频率求二阶导数ｄ↑［２］（ω↓［ｓ］（ω）－ω↓［ｒ］（ω））／ｄω↑［２］，计算提取出待测样品在系统有效频率范围内的太赫兹特征吸收谱。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张亮亮，钟华，邓朝，张存林，
申请(专利权)人：首都师范大学，
类型：发明
国别省市：11
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