液晶显示装置和电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种液晶显示装置和电子设备。该液晶显示装置包括：元件基板，包括晶体管器件；对向基板，设置为隔着液晶层面对该元件基板；背光，设置在该元件基板的位于该对向基板相反侧的一侧；第一和第二测量部分，分别形成在该元件基板和该对向基板的位于该液晶层侧的表面上且用于测量该元件基板和该对向基板的结合位置之间的偏差；测量开口部分，设置在该第二测量部分侧；以及遮光层，设置在该元件基板和该第二测量部分之间，并且防止从该背光发射的光透射通过该测量开口部分。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示装置和电子设备，更具体地，本专利技术涉及具有测量部分的液 晶显示装置和电子设备，该测量部分形成在元件基板和对向基板的表面上，并且用于测量 元件基板和对向基板的结合位置偏差。
技术介绍
在现有技术中，已知具有形成在元件基板和对向基板的表面上且用于测量元件基 板和对向基板的结合位置偏差的测量部分的液晶显示装置和电子设备(例如，见日本专利 特开2000-250021号公报)。在上述日本专利特开2000-250021号公报中，公开了一种液晶显示装置，该液晶 显示装置包括TFT侧玻璃基板(元件基板)；对向侧玻璃基板(对向基板)，设置为隔着液 晶层面对TFT侧玻璃基板；用于TFT基板侧面板的对准标记(测量部分)，形成在TFT侧玻 璃基板的表面上；用于对向基板侧面板的对准标记(测量部分)，形成在对向侧玻璃基板的 表面上；以及背光，设置在TFT侧玻璃基板的位于液晶层相反侧的一侧。在该液晶显示装置 中，在结合TFT侧玻璃基板和对向侧玻璃基板的工艺中，TFT侧玻璃基板和对向侧玻璃基板 可通过彼此重叠TFT基板侧面板的对准标记和对向基板侧面板的对准标记而结合在一起。
技术实现思路
然而，在上述日本专利特开2000-250021号公报中公开的液晶显示装置中，具有 这样的缺点，例如，当从背光发射的光从TFT侧玻璃基板朝着对向侧玻璃基板发射时，光在 形成对准标记的部分被遮挡，但是光透射通过没有形成对准标记的部分。从而，当从背光 发射的光透射通过没有形成对准标记的部分时，存在从对向侧玻璃基板侧发生光泄漏的问题。因此，所希望的是提供能防止从背光发射的光从对向基板侧泄漏的液晶显示装置 和电子设备。根据本专利技术的实施例，所提供的液晶显示装置包括元件基板，包括晶体管器件； 对向基板，设置为隔着液晶层面对元件基板；背光，设置在元件基板的位于对向基板相反侧 的一侧；第一测量部分，形成在元件基板的位于液晶层侧的表面上，并且用于测量元件基板 和对向基板的结合位置偏差；第二测量部分，形成在对向基板的位于液晶层侧的表面上，并 且用于测量元件基板和对向基板的结合位置偏差；测量开口部分，设置在第二测量部分侧； 以及遮光层，设置在元件基板和第二测量部分之间，并且防止从背光发射的光透射通过测 量开口部分。根据如上所述的液晶显示装置，通过在元件基板第二测量部分之间设置遮光层以 防止从背光发射的光透射通过测量开口部分，从背光发射的光被元件基板和第二测量部分 之间设置的遮光层遮挡。从而，可以防止从背光发射的光从对向基板侧泄漏。在上述液晶显示装置中，优选遮光层设置为在平面图中至少覆盖对应于测量开口部分的区域。在这样的构造中，从背光发射的光被遮光层遮挡，从而至少可以防止光透射通 过测量开口部分。因此，可以可靠地防止从背光发射的光从测量开口部分泄漏。在上述液晶显示装置中，优选第一测量部分和第二测量部分分别包括第一刻度 层和第二刻度层，它们具有用于读取数值的刻度形状，并且在第一测量部分的位于背光相 反侧的一侧的表面上，遮光层设置为具有反映构成第一测量部分的第一刻度层的形状的形 状。在这样的构造中，可以读出反映第一刻度层形状的遮光层的外部形状(刻度形状)。从 而，通过读取遮光层的外部形状(刻度)和第二刻度层，可以测量元件基板和对向基板的结 合位置偏差。优选地，上述液晶显示装置还包括形成在第一测量部分和遮光层之间的绝缘膜， 其中绝缘膜形成有反映构成第一测量部分的第一刻度层的形状的形状，并且遮光层形成有 反映绝缘膜的刻度的形状的形状，绝缘膜的刻度的形状反映了构成第一测量部分的第一刻 度层的形状。在这样的构造中，还是在绝缘膜形成在第一测量部分和遮光层之间的情况下， 可以读出遮光层的外部形状(刻度)。从而，通过读出遮光层和第二刻度层的外部形状，可 以测量元件基板和对向基板的结合位置之间的偏差。在上述具有包括第一刻度层的第一测量部分和包括第二刻度层的第二测量部分 的液晶显示装置中，优选第一刻度层和第二刻度层在平面图中形成为梳齿形状，第一刻度 层的位于背光相反侧的一侧的表面上形成的遮光层形成为在平面图中反映第一刻度层的 刻度的形状的梳齿形状，遮光层的梳齿部分的宽度形成为大约等于第二刻度层的梳齿部分 和梳齿部分之间的宽度，并且第一刻度层的梳齿部分的宽度小于遮光层的梳齿部分的宽 度。在这样的构造中，通过读出在平面图中遮光层的梳齿部分重叠第二刻度层的梳齿部分 和梳齿部分之间的间隔而没有任何间隙时的刻度上的位置，可以测量元件基板和对向基板 的结合位置的偏差量。在上述具有包括第一刻度层的第一测量部分和包括第二刻度层的第二测量部分 的液晶显示装置中，优选晶体管器件包括栅极电极、源极电极和漏极电极，第一刻度层由与 晶体管器件的栅极电极相同的金属层形成，并且遮光层由与晶体管器件的源极电极和漏极 电极相同的金属层形成。在这样的构造中，与第一刻度层与晶体管器件的栅极电极分别形 成的情况以及遮光层与晶体管器件的源极电极与和漏极电极分别形成的情况不同，可以抑 制在制造第一刻度层和遮光层时制造工艺数量的增加。在上述液晶显示装置中，遮光层优选设置在元件基板和第一测量部分之间，以防 止从背光发射的光透射通过测量开口部分。在这样的构造中，从背光发射的光被元件基板 和第一测量部分之间设置的遮光层遮挡，从而，可以防止光通过第一测量部分透射通过测 量开口部分。另外，通过相对于第一测量部分设置遮光层到元件基板侧，第一测量部分和第 二测量部分可以从对向基板侧的测量开口部分直接视觉识别。从而，通过采用第一测量部 分和第二测量部分可以更加精确地测量元件基板和对向基板的结合位置之间的偏差。在这样的情况下，优选第一测量部分和第二测量部分分别包括第一刻度层和第二 刻度层，第一刻度层和第二刻度层具有用于读取数值的刻度形状，晶体管器件包括栅极电 极、源极电极和漏极电极，第一刻度层由与晶体管器件的源极电极和漏极电极相同的金属 层形成，并且遮光层由与晶体管器件的栅极电极相同的金属层形成。通过如上构造，与第一 刻度层与晶体管器件的源极电极和漏极电极分开形成的情况以及遮光层与晶体管器件的栅极电极分开形成的情况不同，可以抑制在制造第一刻度层和遮光层时制造工艺数量的增 加。优选地，上述液晶显示装置包括设置在对向基板的位于背光侧的表面上的黑矩 阵，其中第二测量部分由与黑矩阵相同的层形成。在这样的构造中，与第二测量部分和黑矩 阵分开形成的情况不同，可以抑制在制造第二刻度层时制造工艺数量的增加。根据本专利技术的另一个实施例，提供一种电子设备，该电子设备包括上述液晶显示 装置的任何一个。根据上述电子设备，可获得包括能够防止从背光发射的光从对向基板侧 泄漏的液晶显示装置的电子设备。附图说明图1是示出根据本专利技术实施例的液晶显示装置的示意性结构的概念图。图2是示出比较示例的液晶显示装置的示意性结构的概念图。图3是根据本专利技术第一实施例的液晶显示装置的平面图。图4是根据本专利技术第一实施例的液晶显示装置的测量开口部分周边的平面图。图5是根据本专利技术第一实施例的液晶显示装置的测量开口部分周边的放大平面 图。图6是沿着图4所示的200-200线剖取的截面图。图7是沿着图4所示的300-300线剖取的截面图。图8是沿着图5所示的400-400线剖取的截面图。图9本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种液晶显示装置，包括：元件基板，包括晶体管器件；对向基板，设置为隔着液晶层面对该元件基板；背光，设置在该元件基板的位于该对向基板相反侧的一侧；第一测量部分，形成在该元件基板的位于该液晶层侧的表面上，并且用于测量该元件基板和该对向基板的结合位置之间的偏差；第二测量部分，形成在该对向基板的位于该液晶层侧的表面上，并且用于测量该元件基板和该对向基板的结合位置之间的偏差；测量开口部分，设置在该第二测量部分侧；以及遮光层，设置在该元件基板和该第二测量部分之间，并且防止从该背光发射的光透射通过该测量开口部分。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：小林修，甲斐修，广瀬詠子，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP