质量流量控制器传感器老化测试装置制造方法及图纸

技术编号:5779046 阅读:227 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种质量流量控制器传感器老化测试装置,包括老化台盒体,老化台盒体的上部设有传感器承放板,老化台盒体的两侧上缘分别设有多个测试电路板,老化台盒体内设有电源模块,老化台盒体的两端上缘分别设有防侧滑挡板。能在传感器绕制完成之后直接进行传感器老化测试,可以使传感器的后续调试中性能稳定可靠。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种传感器老化装置,尤其涉及一种质量流量控制器传感器老化 测试装置。
技术介绍
质量流量控制器用于对气体的质量流量进行精密测量和控制。流量传感器是构成 质量流量控制器的重要部件,采用毛细管温差量热法测量气体的质量流量。将传感器加热 电桥测得的流量信号送入放大器放大,放大后的流量检测电压与设定电压进行比较,再将 差值信号放大后去控制调节阀门,闭环控制流过通道的流量使之与设定流量相等。传感器的老化是传感器生产过程中的关键环节,现有技术中测试的方法是直接给 流量控制器通电老化。上述现有技术至少存在以下缺点老化后传感器工作不稳定。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种老化后传感器工作稳定的质量流量控制器传感器 老化测试装置。本技术的目的是通过以下技术方案实现的本技术的质量流量控制器传感器老化测试装置,包括老化台盒体,所述老化 台盒体的上部设有传感器承放板,所述老化台盒体的两侧上缘分别设有多个测试电路板, 所述老化台盒体内设有电源模块。由上述本技术提供的技术方案可以看出,本技术所述的质量流量控制器 传感器老化测试装置,由于老化台盒体的上部设有传感器承放板,老化台盒体的两侧上缘 分别设有多个测试电路板,老化台盒体内设有电源模块。能在传感器绕制完成之后直接进 行传感器老化测试,可以使传感器的后续调试中性能稳定可靠。附图说明图1为本技术质量流量控制器传感器老化测试装置的立体结构示意图;图2为本技术质量流量控制器传感器老化测试装置的剖视结构示意图;图3为本技术质量流量控制器传感器老化测试装置的平面结构示意图。具体实施方式本技术的质量流量控制器传感器老化测试装置,其较佳的具体实施方式是包括老化台盒体,所述老化台盒体的上部设有传感器承放板,所述老化台盒体的 两侧上缘分别设有多个测试电路板,所述老化台盒体内设有电源模块。具体老化台盒体的两侧上缘可以分别设有2-10个测试电路板。比如老化台盒体的两侧上缘分别设有5个测试电路板,形成10工位质量流量控制器传感器老化测试装置。所述老化台盒体的两侧上缘可以分别设有电路板支撑架,测试电路板可以通过支 柱安装在电路板支撑架上。老化台盒体的两端上缘分别设有防侧滑挡板。老化台盒体还可以设有外部电源线。老化台盒体可以采用lCrl8Ni9Ti材料。本技术能在传感器绕制完成之后直接进行传感器老化测试,具体实施例的老 化时间为每批传感器3小时,可以使传感器的后续调试中性能稳定可靠。具体实施例的工作原理如图1、图2、图3所示,包括老化台盒体1、电路板支撑架2、传感器承放板3、防侧 滑挡板4、支柱5、电源模块6、测试电路板7、电源线8、待测传感器9等。其中电源模块安装 在老化台盒体内,电路板支撑架装配在盒体上表面,传感器承放板装配在盒体上表面,防侧 滑挡板装配在盒体上表面两边,支柱装配在盒体上表面与测试电路板之间,电源线从盒体 的一侧引出,传感器放置在传感器承放板上,待测传感器的扁平排线焊接在每个工位对应 的电路板上,接通电源进行传感器的老化工作。传感器盒体是本测试装置的主体部件,AC/DC电源模块放置在盒体内,实现给老化 测试台的供电。传感器盒体采用ICrlSMOTi材料,成型死角焊接磨平,要求焊接连续。电路板支撑架为固定电路板的支架,电路板装配在支架上可以实现有序的传感器 老化工作。采用铝材料,表面阳极化,成本色。传感器承放架为老化时放置传感器使用,防止传感器放置不正确产生认为误差, 引入外界的干扰。采用聚丙烯材料,材料两个不加工表面贴保护膜。防侧滑挡板防止传感器在有时需要移动的时候产生侧滑。采用ICrlSNiOTi材料, 锐角倒钝,表面阳极化,成本色。支柱的作用是把电路板抬起至一定的高度,放止与传感器盒体接触产生接地误 差。采用铝材料,锐角倒钝,表面阳极化,成本色。电源模块提高电路以稳定的+12V直流工作电源。电路板提供老化传感器需要的额定电流,同时根据传感器的排线形状设计可以直 接焊接的焊盘距离,便于传感器直接焊接老化。电源线的电源插头直接接通电源本测试装置即可工作。待测传感器为待老化的传感器的安装位置。以上所述,仅为本技术较佳的具体实施方式,但本技术的保护范围并不 局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本技术披露的技术范围内,可轻易想到 的变化或替换,都应涵盖在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种质量流量控制器传感器老化测试装置,包括老化台盒体,其特征在于,所述老化 台盒体的上部设有传感器承放板,所述老化台盒体的两侧上缘分别设有多个测试电路板, 所述老化台盒体内设有电源模块。2.根据权利要求1所述的质量流量控制器传感器老化测试装置,其特征在于,所述老 化台盒体的两侧上缘分别设有2-10个测试电路板。3.根据权利要求2所述的质量流量控制器传感器老化测试装置,其特征在于,所述老 化台盒体的两侧上缘分别设有5个测试电路板。4.根据权利要求1、2或3所述的质量流量控制器传感器老化测试装置,其特征在于,所 述老化台盒体的两侧上缘分别设有电路板支撑架,所述测试电路板通过支柱安装在所述电 路板支撑架上。5.根据权利要求1、2或3所述的质量流量控制器传感器老化测试装置,其特征在于,所 述老化台盒体的两端上缘分别设有防侧滑挡板。6.根据权利要求1、2或3所述的质量流量控制器传感器老化测试装置,其特征在于,所 述老化台盒体还设有外部电源线。7.根据权利要求1、2或3所述的质量流量控制器传感器老化测试装置,其特征在于,所 述老化台盒体采用lCrl8Ni9Ti材料。专利摘要本技术公开了一种质量流量控制器传感器老化测试装置,包括老化台盒体,老化台盒体的上部设有传感器承放板,老化台盒体的两侧上缘分别设有多个测试电路板,老化台盒体内设有电源模块,老化台盒体的两端上缘分别设有防侧滑挡板。能在传感器绕制完成之后直接进行传感器老化测试,可以使传感器的后续调试中性能稳定可靠。文档编号G01R31/00GK201867459SQ20102065503公开日2011年6月15日 申请日期2010年12月7日 优先权日2010年12月7日专利技术者杨雪飞, 陈远谋 申请人:北京七星华创电子股份有限公司本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种质量流量控制器传感器老化测试装置,包括老化台盒体,其特征在于,所述老化台盒体的上部设有传感器承放板,所述老化台盒体的两侧上缘分别设有多个测试电路板,所述老化台盒体内设有电源模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨雪飞陈远谋
申请(专利权)人:北京七星华创电子股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]

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