电晕放电型离子产生器的检查方法及检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术仅检测从电晕放电型离子产生器的发射体产生的离子所产生的实际电流，进而，能够检测在该实际电流中实际上有助于被除电物的除电的除电电流，从而能够确认发射体的脏污和劣化程度、除电性能等。在施加高电压的发射体附近配置了接地电极的电晕放电型离子产生器中，同时测量流过接地电极的总电流和由施加到发射体的高电压引起的第１感应电流，从第１感应电流估计作为所述总电流的成分的、由于发射体形成的电场而流过接地电极的第２感应电流，从所述总电流和第２感应电流之间的差分，测量由发射体生成的离子所产生的实际电流。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及电暈放电型离子产生器的检查方法及检查装置，能够检测电 暈放电型离子产生器的发射体的脏污和劣化程度，进而能够检测实际有助于 寻皮除电物的除电的除电电 流。
技术介绍
如众所周知，电晕(corona)放电型离子产生器(ionizer)是将高电压施 加给发射体，从而使周围的空气离子化，产生正离子或负离子(带电粒子) 的装置，将这些离子提供给带电的被除电物，进行除电。例如在交流型离子产生器中，通过将交流高电压施加到一个发射体 (emitter),从而使其交替产生正负离子，而提供给被除电物。然而，上述发射体所产生的离子的一部分，被发射体附近配置的接地电 极所吸收而成为电流，而剩余的离子则被供应给被除电物侧，帮助除电。此时，微粒子附着在发射体的前端，或者发射体劣化，其前端的曲率半 径增大时，由于发射体生成的离子的量减少，所以实际上有助于除电的离子 的量也减少。以往，出现这种情况时，确信如果离子产生器的电源开关为ON，则当 然会产生离子从而使用的情况较多，即使离子生成量因上述的发射体脏污和 劣化而完全为零也没有注意到。作为这种问题的对策，考虑测量并显示由于发射体产生的离子而流过的 电流。具体而言，公知如专利文献1所记载那样，将电流测量用电阻或电流 计连接到发射体附近的接地电极，测量对应于发射体的离子生成量的电流。专利文献1:特开2004-127858号公报(段落、图3等)
技术实现思路
专利技术要解决的课题但是，存在以下问题，即在通过上述专利文献1所记载的方法测量的电流中，由于施加高电压的发射体形成的电场而流过接地电极的感应电流(位 移电流)成为主导，所以几乎不能测量由发射体产生的离子引起的电流(以 下也称为实际电流)。因此，本专利技术的解决课题在于提供一种电暈放电型离子产生器的检查方 法及4企查装置，能够从流过接地电极的总电流中除去感应电流，而只4企测实 际电流，从该实际电流，能够检测发射体的脏污和劣化程度，进而能够4企测实际上有助于#:除电物的除电的除电电流。 用于解决课题的手段为了解决上述课题，技术方案i中的电晕放电型离子产生器的检查方法， 该电暈放电型离子产生器在其施加高电压的发射体附近配置了接地电极，该 方法同时测量流过所述接地电极的总电流和由施加到发射体的所述高电压引 起的第i感应电 流，从第i感应电流估计作为所述总电流的成分的、由于发射体形成的电场而流过所述4妄地电才及的第2感应电流，从所述总电流和第2感应电流之间的差分，测量由发射体生成的离子产 生的实际电流。技术方案2中的检查方法是在技术方案1中，从所述实际电流检测发射 体的脏污和劣化程度。另外，技术方案3的检查方法是在技术方案1中，从所述实际电流，测 量由到达#皮除电物的离子而流过的除电电流。技术方案4中的电暈放电型离子产生器的检查装置，在其施加高电压的 发射体附近配置了接地电极，包括测量流过所述接地电极的总电流的部件；在测量所述总电流同时，测量由施加到发射体的所述高电压引起的第1 感应电流的部件；从第1感应电流估计作为所述总电流的成分的、由于发射体形成的电场 而流过所述接地电极的第2感应电流的部件；以及从所述总电流和第2感应电流之间的差分，测量由发射体生成的离子所 产生的实际电流的运算部件。技术方案5的检查装置是在技术方案4中，从所述实际电流，检测发射体的脏污和劣化程度。另外，技术方案6的检查装置是在技术方案4中，从所述实际电流，测 量由于到达#1除电物的离子而流过的除电电流。技术方案7的检查装置是在技术方案4至6的任一个技术方案中，测量第1感应电流的部件包括辅助电极，该辅助电极配置在连接对发射体施加高 电压的高电压产生部件和发射体的电缆附近，且用于4企测第l感应电流。另外，技术方案8中的检查装置是在技术方案4至6的任一个技术方案 中，测量第1感应电流的部件包括辅助电极，该辅助电极配置在发射体附近， 且用于4全测第1感应电流。技术方案9中的检查装置是在技术方案7或8中，还包括第1电阻，连接于所述辅助电极；第2电阻，连接于所述接地电极；以及差动放大电路，作为所述运算部件，将由第1感应电流在第1电阻产生 的电压降和由所述总电流在第2电阻产生的电压降之间的差分;^文大，该;险查装置，可改变所述第1电阻或第2电阻至少一方，爿t人而使由第1 感应电流在第1电阻产生的电压降和由所述第2感应电流在第2电阻产生的 电压降相等。专利技术的效果根据本专利技术的电暈放电型离子产生器的检查方法及检查装置，能够除去 因发射体形成的电场而流过接地电极的感应电流，并能可靠地仅测量发射体 生成的离子产生的实际电流。因此，根据测量的实际电流，能够检测有助于 发射体的脏污和劣化程度、有助于被除电物的除电的除电电流等，能够容易 地进行静电除电器的维护检查和除电性能的评价。附图说明图1是表示本专利技术的第1实施方式的结构图。 图2是图1的主要部分的说明图。 图3是用于说明第1实施方式的效果的波形图。 图4是用于说明第1实施方式的效果的波形图。 图5是表示本专利技术的第2实施方式的结构图。 图6是表示本专利技术的第3实施方式的结构图。图7是表示本专利技术的第4实施方式的结构图。 具体实施例方式以下按图说明本专利技术的实施方式。首先，图l是表示本专利技术的第1实施方式的结构图，在图1中，IO为产 生交流的高电压的高电压产生电路，其输出侧经由电缆21连接针状的发射体 20。另外，环状的接地电极30被同心状地配置在发射体20的附近，该接地 电极30经由连接点A以及电阻Ro (相当于权利要求中的第2电阻)接地。另一方面，设置圆筒状的辅助电极40，以包围高电压产生电路IO和发 射体20之间的电缆21，该辅助电极40经由连接点B以及可变电阻Rc (相 当于权利要求中的第1电阻)接地。上述连接点A、 B分别经由电阻R2、 Rp连接到运算放大器50的正相 输入端子及反相输入端子，上述正相输入端子经由电阻R4接地。另外，R3 为反馈电阻。这里，运算放大器50及电阻R广R4构成众所周知的差动放大电路，为 了简化，各个电阻值设定为R产Rz, R3=R4。 接着说明本实施方式的动作原理。首先，若通过高电压产生电路10对发射体20施加高电压，发射体20 周围的空气被离子化。此时，流过接地电极30的总电流lG，为生成离子所产 生的实际电流IR与发射体2 0形成的电场所产生的感应电流(位移电流)h之 和，因此可以导出关于实际电流IR的式子1。另外，上述感应电流I!相当于 权利要求中的第2感应电 流o另一方面，经由辅助电极40所取出的电流Ic不受实际电流lR影响，仅 是从高电压产生电路10对发射体20施加的高电压所引起的感应电流。其中， 由于接地电极30和辅助电极40的形状不同，所以流过接地电才及30的感应电 流^和流过辅助电极40的感应电流Ic的大小也不同。该感应电流Ic相当于 权利要求中的第1感应电 流。如果将用于校正感应电流^和感应电流Ic的大小差异的系#t cc设为ct =^ /Ic,则式子1成为式子2。 Ir:Ig-I尸Ig- a Ic这里，若同时测量流过接地电极30的总电流IG以及流过辅助电极40的 感应电流Ic (第1感应电流)，基于感应电流Ic而估计流过接地电极30的感 应电流^ (第2感应电流)，/人而求出总电流IG本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电晕放电型离子产生器的检查方法，该电晕放电型离子产生器在其施加高电压的发射体附近配置了接地电极，该方法其特征在于，　同时测量流过所述接地电极的总电流和由施加到发射体的所述高电压引起的第１感应电流，　从第１感应电流估计作为所述 总电流的成分的、由于发射体形成的电场而流过所述接地电极的第２感应电流，　从所述总电流和第２感应电流之间的差分，测量由发射体生成的离子产生的实际电流。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈野一雄，
申请(专利权)人：冈野一雄，
类型：发明
国别省市：JP[日本]