ＩＭＳ设备具有带有通向反应区域（３，１０３）中的预浓缩器（９）的进口，其中分析物分子在反应区域（３，１０３）被电离并经由闸门（１１）被传递到漂移区域（２，１０２）以进行收集和分析。泵（２１）和过滤器（２２，２３）装置向外壳（１，１０１）提供与离子流方向相反的冲洗清洁气流。压强脉冲器（８）连接到外壳（１，１０１）并被瞬间转变以引起外壳中压强的突然下降，由此从所述预浓缩器（９）中抽取一团分析物样本。在允许一团样本进入之前，泵（２１）被关闭，由此冲洗流充分地下降到０，从而延长分析物分子在所述反应区域（３）中所花费的时间。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及包括反应区域、分析区域、以及用于在反应区域提供清洁气流的装置的检测设备，其中在所述反应区域中产生的离子种(ion species) 在分析区域中被检测。
技术介绍
离子迁移率谱仪或IMS(离子迁移率谱)设备经常被用于检测诸如炸药、 毒品、糜烂性和神经性药剂等物质。IMS设备一般包括检测器单元，包含可 疑物质或分析物的空气样本被以气体或蒸汽的形式连续地提供到所述检测 器单元。所述单元在大气压或接近大气压的条件下运行并且包含电极，对电 极加上电压可以沿所述单元产生电压梯度。空气样本中的分子都已被电离 (例如通过放射源、UV源或电晕放电等方式来实现)，并由在一端的静电式 门(gate)将其提供到所述单元中的漂移区域。电离的分子以和离子的迁移 率相关的速度漂移到所述单元的另一端。通过对沿所述单元的飞行时间进行 测量，能够对所述离子进行鉴别。在常规的IMS设备中，清洁干燥气流连续 地通过反应和电离区域。这种配置能够实现连续采样和短的恢复时间。当样 本分析物在样本气体中只具有很小的浓度时，会存在相对较低的信噪比，这 使得可靠地检测很难得以实现。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供可选择的检测设备。根据本专利技术的一个方面，提供了一种上述类型的检测设备，其特征在于， 该设备包括用于允许分析物气体或蒸汽瞬间(momentarily)进入到所述反应区域的装置，所述提供装置被配置成例如在允许所述分析物气体或蒸汽进入 到所述反应区域之前将通过反应区域的清洁气流基本上减少到零，以使得所 述分析物气体或蒸汽在反应区域中的驻留时间增加，并且所述提供装置随后 被配置成增加通过所述反应区域的清洁气流。所述用于允许分析物气体或蒸汽瞬间进入的装置优选地包括被配置成 在所述设备中瞬间地减少压强的压强脉冲器。所述设备可以具有包括预浓縮 器的进口装置。用于使清洁气体在反应区域中流动的装置可以被配置成使所 述清洁气体基本沿所述设备的长度方向流动。可替换地，用于使清洁气体在 反应区域中流动的装置可以包括连接在所述设备远离其进口的一端与所述 反应区域远离所述进口的一端之间的第一气流电路，所述设备包括从所述第 一电路延伸到所述反应区域邻近所述进口的一端的第二电路，并且所述第二 电路在样本被允许进入时关闭。所述设备可以是离子迁移率谱仪。根据本专利技术的另一方面，提供了一种用于检测物质的方法，该方法包括下列步骤允许物质样本进入到反应室中；使气体在反应室中流动；从所述 样本中产生离子；将离子从反应室传递到集电极(collector)以进行检测； 以及周期性地减少反应室中的气体流动，由此延长样本存在于反应室中的时 间。所述离子优选地经由漂移区域从反应室传递到集电极，所述漂移区域沿 其长度方向具有电压梯度。附图说明下面将以示例的方式结合附图对根据本专利技术的IMS设备进行描述，其中图l示出了示意性设备；以及 图2示出了可替换地示意性设备。具体实施方式首先参见图1，所述设备采用具有一般管状外壳1的离子迁移率谱仪(IMS)的形式，所述管状外壳1带有在其右手端的漂移或分析区域2以及 在其相对的左手端的反应或电离区域3。进口管道4在一端5具有开口 ，与空气或其它将被采样或分析的气体或 蒸汽源相连通。空气或气体通过连接在所述管道的另一端的泵6被抽取到管 道4中。在管道4的某一点处，毛细通道7导通所述管道和所述反应区域3 的内部，由此感兴趣的分子可以从所述管道流入到反应区域中。还有使物质 进入到所述设备中的多种其它常规配置，例如使用针孔、隔膜等等。与扩音 器相类似的压强脉冲器8以US 6073498中描述的方式连接至外壳1 。所述脉 冲器8间歇地、瞬时地运行，以减少外壳中的压强并因此将样品蒸汽或气体 以团(bolus)的形式抽取到反映区域3中。在进入到所述设备自身中的进口 管道4或通道7中可以包括预浓縮器9。所述反应区域3包含某种用于对分析物质的分子进行电离的装置，诸如 高电势的电晕放电点10。反应区域3和漂移区域2都处于大气压或只是稍低 于大气压。反应区域3和漂移区域2通过可选的常规静电闸板(shutter)(例 如B 尼尔森门11)而彼此分离，其中所述门11对流入漂移区域的离子流 进行控制。漂移区域2具有一系列的电极对12，所述电极对12分布在相对 的两侧并沿所述区域的长度方向彼此分离。电压源13对每个电极对12施加 电压，所施加的电压沿漂移区域2的长度方向向右侧逐渐增加，由此经过门 11的离子将经历电压梯度，该电压梯度使这些离子沿漂移区域的长度方向移 动。集电极平板14安装在所述漂移区域2的远端(右手端)，负责对通过所 述漂移区域的离子进行收集。当离子与集电极平板14发生碰撞时，每个离 子所产生的电荷都会向处理器单元15产生电信号。所述处理器单元15对所 述信号进行分析，以得到所检测到的不同离子的迁移率的谱表示，并将这些6结果提供给显示器或其它应用装置16。和在常规IMS设备中一样，气流系统20沿外壳1的内部产生与离子流 方向相反的清洁干燥空气流。所述气流系统包括在其进口和出口处分别具有 分子筛过滤器22和23的泵21。进口过滤器22连接到进口管24，进口管24 与外壳1在反应区域3的左手端(进口端)连通。出口过滤器23连接到出 口管25，出口管25与外壳1在漂移区域2的右手端(下游端)连通。泵21 运行，以从反应区域3中抽取气体，由此使气体在从漂移区域2的右手端流 回到外壳1中之前流经第一过滤器22、泵21和第二过滤器23。所述设备不同于常规IMS设备。本专利技术的设备被配置成在样本气体或 蒸汽被允许进入之前，所述气流系统20先向外壳1提供清洁干燥气体。在 触发压强脉冲器8以引入一团样本气体或蒸汽之前，通过关闭泵21而将到 外壳1特别是到所述反应区域3的气流减少为0或接近于0。所述脉冲器8 随后被瞬间触发以将分析物气体或蒸汽的样本注入到反应区域3中。可替换 地，所述脉冲器可被省略，并且样本气体或蒸汽正好被允许扩散到反应区域 中。由所述电晕放电点IO从基本静态的(stationary)样本云(sample cloud) 连续地产生离子，所述样本云与具有连续气流的设备相比具有被大大增加的 驻留时间。这使得处理器单元15产生连续离子迁移率谱。电离过程并不会 大大地耗尽所述样本气体或蒸汽，由此可以得到长得多的离子迁移率谱平 均。这增加了信噪比。在需要进行下一分析之前，泵21被重启，以将清洁 千燥空气带到所述设备中，并将反应区域3中之前的样本排出。由于只需要停止或充分减少通过反应区域的气流以增加样本气体或蒸 汽被电离的驻留时间，因此并不是一定要停止通过整个外壳的气流。某些 IMS设备在偏移区域和反应区域中具有单独的气流路径。适用于本专利技术的这 种类型的IMS设备在图2中示出，其中与图1中等同的组件的编号都在原编 号的基础上加上了100。可以发现，连接到第一过滤器122的进口管124位于反应区域103的右手端(下游端)，与闸板lll相邻。支线(spur)管126 形成了第二电路的一部分，并连接在泵121的出口与第二过滤器123之间。 管126延伸到第三分子筛过滤器127的进口处。第三过滤器127的出口连接 到第二出口管128，该第二出口管128经由阀门129通向外壳10本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种包括反应区域（３，１０３）、分析区域（２，１０２）和用于提供通过所述反应区域的清洁气流的装置（２０，１２０）的检测设备，其中在所述反应区域中产生的离子种在所述分析区域被检测，其特征在于，所述设备包括用于允许分析物气体或蒸汽瞬间进入到所述反应区域（３，１０３）的装置（７，９，８，１０８），所述提供装置（２０，１２０）被配置成在允许所述分析物气体或蒸汽进入到所述反应区域之前先将通过所述反应区域（３，１０３）的清洁气流充分地减少到０，以使得所述分析物气体或蒸汽在所述反应区域中的驻留时间增加，并且所述提供装置（２０，１２０）随后被配置成增加通过所述反应区域的清洁气流。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：SJ泰勒，
申请(专利权)人：史密斯探测沃特福特有限公司，
类型：发明
国别省市：GB[英国]
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