零运动接触致动制造技术

技术编号:5482092 阅读:159 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种用于测试小电子组件的装置,其包括测试板以用于将多个间隔的电子组件移动到测试台。滚筒经设计以按压在所述测试板和电子组件上,从而在所述测试板和电子组件正移动时施加10克到20克之间的第一力,且在所述测试板停止且所述电子组件在所述测试台中对准时施加约50克的第二力。所述施加在所述测试板和电子组件上的力由例如流体操作的致动器(例如,气动致动器)或螺线管等力施用致动器控制。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及电子组件的测试装备领域。更特定来说,本专利技术涉及直立型电子接触器 领域,所述接触器与受测试装置接触时擦过所述装置的终止表面或区域。
技术介绍
在袖珍型电子装置领域中,存在具有导电性末端终端的袖珍型电容器,所述导电性 末端终端需要进行测试以确保其电子能力的质量。出于电子测量的目的而用以临时连接 到电子装置的导电末端的一种类型接触器包括接触滚筒。接触滚筒由可绕轴旋转的导电金属材料制成,所述轴经由弹簧支撑件紧固到测试机 的底板或框架。弹簧支撑件的长度可变化且包括连续地偏置支撑件或迫使支撑件到达最 大长度的弹簧。目前,接触滚筒预加载恒定力。在测试板移动时,弹簧支撑件迫使滚筒 朝向路径表面,借此滚筒持续滚动且同时按压在测试路径的表面上。在电气组件经由测 试板移动到测试区域时,滚筒滚离路径表面并滚动到电子组件的末端上。 一旦滚筒被完 全按压到组件中,部件准备好测试。在测试期间由滚筒施加在组件上的向下力是在测试 板移动时施加在测试路径的表面上的预定力相同的预定力。对电子组件进行适当测试测 量所需的接触力为约50克(gram)。然而,在处理的组件较小时,组件的金属终端的弹性 减小到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试电子组件的设备,所述电子组件支撑在测试板上以用于沿穿过测试台的行进路径进行输送,所述设备的特征在于: 接触滚筒,其位于测试台处,用于沿所述测试板的表面和由所述测试板输送到所述测试台以供测试的至少一个电子组件滚动;以及   递增力施用致动器,其可在第一模式下操作以在所述测试板正移动时经由所述接触滚筒将第一预定力施加在所述测试板和被支撑的电子组件上,且可在第二模式下操作以在所述电子组件在所述测试台处进行测试期间静止时经由所述接触滚筒将第二预定力施加在所述电子组件上。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:马克科斯莫夫斯基
申请(专利权)人:ESI电子科技工业公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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