【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及为光学存储介质上的光学记录而实施写功率校准的方法，以及涉及能够实施所述方法的装置。特别是，本专利技术涉及基于将信息写入到光学存储介质上的驱动校准区域和从光学存储介质上的驱动校准区域读取信息的写功率校准方法。
技术介绍
在光学记录器中， 一旦插入了新的光学存储介质，即光盘，便应当以最佳的方式确定激光束的写功率。通过最佳功率控制(OPC)来实施所述最佳功率的确定。激光束的最佳功率控制是以不对称度测量(也称作卩测量)和抖动测量为基础的。该抖动校准用于找到最佳功率，即通过将最佳功率设为最小抖动，而(3测量用于在正在进行的写过程期间校正写功率。后者是通过确定使激光功率与目标不对称时的不对称度值相关联的曲线的斜率来实现的。如果注意到记录过程中的卩值偏差，则改变激光功率，从而校正p值的偏移。通过实施激光功率扫描来实现(3测量，即以预定的激光功率分布(profile)进行写入，然后读回所写入的数据，从而确定与激光功率相关的不对称度。如果希望例如4%的目标(3值，则能够获得相应的最佳激光功率a。pt。因此，完整的随行式最佳功率控制(WOPC)依赖于最初针对每个记...
【技术保护点】
一种为具有螺旋轨道结构的光学存储介质上的光学记录而实施写功率校准的方法，包括以下步骤： －在该轨道结构上选择具有第一轨道（１２）和相邻的第二轨道（１４）的第一分区（１０），在该第一分区（１０）内的轨道部分（１６、１８）上这两个轨道均不 包含写入的信息，其中该第二轨道（１４）可以与第三轨道（２０）相邻，该第三轨道具有包含写入信息的轨道部分（２２）， －使用预定的激光束写功率分布向第一分区（１０）内的第一轨道（１２）的轨道部分（１６）进行写入， －读取写入到第一分 区（１０）内的第一轨道（１２）的信息，以及 －根据该写功率分布和从第一轨道（１２）...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2006.9.7 EP 06120275.01. 一种为具有螺旋轨道结构的光学存储介质上的光学记录而实施写功率校准的方法，包括以下步骤-在该轨道结构上选择具有第一轨道(12)和相邻的第二轨道(14)的第一分区(10)，在该第一分区(10)内的轨道部分(16、18)上这两个轨道均不包含写入的信息，其中该第二轨道(14)可以与第三轨道(20)相邻，该第三轨道具有包含写入信息的轨道部分(22)，-使用预定的激光束写功率分布向第一分区(10)内的第一轨道(12)的轨道部分(16)进行写入，-读取写入到第一分区(10)内的第一轨道(12)的信息，以及-根据该写功率分布和从第一轨道(12)读取的信息确定不对称度值与激光功率之间的关系。2. 根据权利要求1所述的方法，其中在读取步骤之后，使用其它 的预定写功率分布将信息至少写入第二分区(26)内的第二轨道(14) 的轨道部分(24)和第二轨道(14)的第三分区(30)内的第二轨道(14) 的轨道部分(28),并且根据这些写功率分布和从第一分区(10)中的 第一轨道(12)的轨道部分(16)、第二分区(26)中的第二轨道(l4) 的轨道部分(24)和第三分区(30)中第二轨道(14)的轨道部分(28) 读取的信息确定抖动与激光功率之间的关系。3. 根据权利要求2所述的方法，其中第一分区(10)的尺寸基本 上是第二分区(26)的尺寸的两倍，并且基本上是第三分区U0)的尺 寸的两倍。4. 根据权利要求2所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：S·J·克莱克，M·凯珀，T·P·范恩德特，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。