【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种光斑的拍摄与测量装置，尤其涉及一种微米量级光斑的拍摄 与测量装置。
技术介绍
对光束横截面的分析是评估光束质量的重要手段，通常使用配备电荷耦合器件 (CCD)或者互补金属氧化物半导体(CMOS)感光元件的光束分析仪来测量光斑大小、轮廓和 能量分布等参数。虽然这类光束分析仪功能强大，使用方便，而且具有实施测量的优点，但 是精度达到微米量级的光束分析仪价格极其昂贵，且CCD或CMOS感光元件自身的随机噪点 和起伏的温度特性影响测量精度。另一种直接采用CCD数码相机对微米量级光斑进行拍 摄，拍摄光斑图像虽然清晰，但图像较小，在电脑上采用图像放大后，图像失真严重。
技术实现思路
本新型的目的在于设计一种新型的光斑的拍摄与测量装置，使其达到装置简单、 测量方便且精度高的目的。本新型采用如下结构实现上述目的一种光斑拍摄与测量装置，包括测微尺、带毛 玻璃的旋转屏、显微镜、CCD数码相机以及联结显微4与CCD数码相机的联结装置，连接装 置为带有凸透镜的筒状结构，其中测微尺紧贴于所述旋转屏前，显微镜置于旋转屏后，CXD 数码相机置于显微镜之后，显微镜与所述CXD数码相机之间...
【技术保护点】
一种光斑拍摄与测量装置，其特征在于包括测微尺、带毛玻璃的旋转屏、显微镜、ＣＣＤ数码相机以及联结显微镜与ＣＣＤ数码相机的联结装置，连接装置为带有凸透镜的筒状结构，其中：测微尺紧贴于所述旋转屏前，显微镜置于旋转屏后，ＣＣＤ数码相机置于显微镜之后，显微镜与所述ＣＣＤ数码相机之间通过联结装置联结。
【技术特征摘要】
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