【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种在常规环境下检测籽晶尺寸的工具。
技术介绍
籽晶是生长单晶的种子，也叫晶种，它取自单晶中部的无位错、无损伤、无应 力部分，硅单晶用的籽晶如图1所示籽晶整体为圆柱体，在圆柱体上半部分有一小缺 口，用于在拉单晶时固定籽晶。通常我们使用的籽晶直径在17.45 17.50mm之间，长度 在150mm左右。采用提拉法生长晶体时，籽晶与熔融的硅材料相互接触，然后缓慢提拉 籽晶，在籽晶的下面就会生长出新的单晶来。因此，籽晶的获取是非常重要的，培养优 质的单晶应选择优良的籽晶，籽晶上的缺陷，如位错，开裂，晶格畸变等在一定的范围 内会“遗传”给新生长的晶体。避免使用有宏观缺陷的籽晶，有时还要借助于物理光学 的方法来挑选籽晶，以减少不利的“遗传”作用。通常采用游标卡尺对籽晶的直径进行 检查，在使用游标卡尺时，钢制的卡尺与籽晶的碰撞易引起籽晶表面的裂纹，带来籽晶 表面的缺陷，不利于后续优质单晶的生长。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种籽晶检测工具，使 用简便。按照本技术提供的技术方案，所述高效籽晶检测工具包括本体，其特征 是在本体的两端对称地...
【技术保护点】
高效籽晶检测工具，包括本体，其特征是：在本体（１）的两端对称地设置第一通孔（２）和第二通孔（３）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：曾静，俞振明，杨乐，何勤忠，
申请(专利权)人：高佳太阳能股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32
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