光学控制装置和热扩散率测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种光学控制装置，其安装在热扩散率测量装置上，包括光学部件组、光束质量分析仪和能量计，所述光学部件组具有第一分光器件、第二分光器件、第一光学片和第二光学片，能量计和光束质量分析仪对激光器的输出能量和光斑质量进行实时监测，减小由光斑非均匀性加热带来的测量误差，其中第一光学片和第二光学片为可更换部件，采用不同衰减系数的第一和第二光学片的组合，获得了一系列不同能量的高均匀性光斑，提高了材料热扩散率测量的准确定性。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光学控制装置，更具体地涉及一种安装在热扩散率测量装置 上的光学控制装置。
技术介绍
热扩散率是表征材料内部非稳态导热过程的重要热物理参数之一，是用来描述物 体在加热或冷却过程中各部分趋于一致的能力。自然界和许多科技领域里的大部分导热过 程均为非稳态导热过程。了解介质材料的热扩散率，对传热过程进行热分析和热计算有重 要的意义。航空航天、核能技术、新材料开发等高新
，以及建筑节能、石油化工、钢 铁冶金、食品加工等传统领域，都需要对材料热扩散率的准确测量。1961年Parker等人提出闪光法测量固体材料热扩散率，由于其具有试样尺寸小 (厚度1. 5-4mm/直径6_18mm)、测试周期短(数秒)、温度范围广(100-2500K)和参数区间 宽(0. l-1000mm2/s)等优点，被广泛使用。但是该物理模型是建立在一系列理想条件基础 之上的，对实际的测量条件要求比较苛刻，如建立从试样正面到背面的一维热流；激光脉 冲的周期足够短；激光脉冲能量被试样前表面应均勻地吸收；试样热损失应可忽略不计； 试样背面的最大温升保持在一定的范围内；热响应信号数据采集记录系统必需具有足够高本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学控制装置，用于对激光器发射的光束进行控制，其包括光学部件组、光束质量分析仪和能量计，从激光器发出的激光经所述光学部件组分光入射到所述光束质量分析仪和能量计，所述光学部件组依次具有第一分光器件、第一光学片、第二光学片和第二分光器件，其特征在于：所述第一分光器件用于将从激光器发出的激光分光形成第一光束和第二光束，所述光束质量分析仪用于对第一光束进行分析，所述第一、第二光学片用于对第二光束进行激光能量衰减，所述第二分光器件将能量衰减后的第二光束分光形成第三和第四光束，其中第三光束进入能量计，第四光束沿第二光束方向出射。

【技术特征摘要】
1.一种光学控制装置，用于对激光器发射的光束进行控制，其包括光学部件组、光束质 量分析仪和能量计，从激光器发出的激光经所述光学部件组分光入射到所述光束质量分析 仪和能量计，所述光学部件组依次具有第一分光器件、第一光学片、第二光学片和第二分光 器件，其特征在于所述第一分光器件用于将从激光器发出的激光分光形成第一光束和第 二光束，所述光束质量分析仪用于对第一光束进行分析，所述第一、第二光学片用于对第二 光束进行激光能量衰减，所述第二分光器件将能量衰减后的第二光束分光形成第三和第四 光束，其中第三光束进入能量计，第四光束沿第二光束方向出射。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于第一、第二光学片...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙建平，刘建庆，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，河北大学，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]