一种具有辅助装置的组件检测机制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种具有辅助装置的组件检测机，主要涉及在检测对象被取像装置撷取影像时，该组件检测机还包括一辅助装置，该辅助装置包括一外锥环、和一设于该外锥环内的内锥环；该外锥环的锥面内周缘形成有一反射面，且该反射面的倾斜角度恰可反射该检测对象的端面，该内锥环的锥面外周缘形成一承接面，且该承接面与反射面相对应设置，用于接收该反射面所反射的该检测对象的端面影像，并为该取像装置分别经该外锥环与内锥环同步撷取该检测对象的顶面与端面影像，从而使得后续筛分作业更具快速、准确判别。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种组件检测机，更具体的说是涉及一种具有辅助装置的组件检测机。
技术介绍
请参阅图1，台湾第M323343号专利案公开一种改良的组件检测成像装置，其包含 有一组件检测成像装置11、一组件接承转盘12及数个影像撷取装置13 ；其中，组件检测成 像装置11由延伸管固定架111、延伸管112、反射镜伸缩架113、反射镜固定架114及锥形反 射镜115等构件所构成，该锥形反射镜115内侧形成镜面116 ；这样，当需要检测该检测物 件2时，先将检测对象2放在组件接承转盘12上，再依序转至组件检测成像装置11下方， 此时组件检测成像装置11下降，罩在检测物件2上，该检测物件2头部的周围就会成像于 锥形反射镜115内部的镜面116上，此时组件检测成像装置11上方的影像撷取装置13即 可由上而下取得该检测对象2头部的影像，该影像用于判别组件的瑕疵，进而有利于后续 的分选集收作业。但是在实际使用后发现该组件检测机1仍有很多不足之处，具体如下1、由于在该组件检测成像装置11撷取检测每一检测对象2的影像时，该锥形反射 镜115必须向下移动，且将该检测对象2覆盖后，才能利用该影像撷取装置13撷取影像，之 后，该锥形反射镜115还必须向上移动，从而利于下一检测对象2的检测，如此周而复始，将 影响检测速度，大幅增加检测成本。2、检测时，完全利用该锥形反射镜115内部的镜面116照盖在检测对象2上，以利 用该镜面116反射该检测对象2的影像后，该影像撷取装置13得以撷取该影像进行后续判 另IJ，故该锥形反射镜115是否有完全罩盖该检测对象2，以及该锥形反射镜115照盖后该镜 面116与该检测对象2的相对位置必须有所限制，否则该锥形反射镜115的镜面116所取 得的影像将会失真，并影响后续的检测质量。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种具有辅助装置的组件检测机，以解决现有技术中 对镜面的位置要求过高、影像失真，并最终导致影响到了影像后续筛选的速度和准确性的 问题。为了达成上述目的，本技术的解决方案是一种具有辅助装置的组件检测机，其包含有一机台，一设于该机台上且将检测对 象整列输出的整列装置，一承接该整列装置输出的检测对象的转盘，一设置于该转盘周边 的取像装置，一介于该转盘与取像装置间的辅助装置，一与该取像装置相连结的运算装置， 以及一设置于该转盘侧边的退料装置，该检测对象至少具有一顶面及一位于该顶面周围的 端面；其中，该辅助装置包括有一外锥环，以及一设于该外锥环内的内锥环；该外锥环具有 一上、下开口，以及一形成于该上、下开口间的锥面，而该锥面内周缘形成有一可反射该检测对象端面的反射面；该内锥环具有一上、下开口，以及一形成于该上、下开口间的锥面，而 该锥面外周缘形成一与反射面相对应设置、并接收该反射面所反射的该检测对象的端面影 像的承接面，该取像装置分别经该外锥环的上开口与内锥环的上开口撷取该检测对象的顶 面影像与该承接面显示的端面影像。前述的一种具有辅助装置的组件检测机，该承接面及反射面处均设有一平面镜。前述的一种具有辅助装置的组件检测机，该承接面及反射面处均设有一凸面镜。前述的一种具有辅助装置的组件检测机，该承接面及反射面处均设有一凹面镜。前述的一种具有辅助装置的组件检测机，该辅助装置还包括一撷取该检测对象的 底面影像的辅助镜，该辅助镜与反射面相对应设置。采用上述结构后，通过在外锥环的锥面上设置可反射该检测对象断面的反射面， 而在内锥环的锥面上设置接收该反射面所反射的该检测对象的断面影像的承接面，从而使 得完整地将检测对象的完整外观加以反射取像，致使后续筛分作业更具快速、准确判别功 效。附图说明图1是现有技术中的组件检测机的结构示意图；图2是本技术第一实施例的立体示意图；图3是实用本新型第一实施例的辅助装置剖面图；图4是本技术第二实施例的辅助装置剖面图；图5是本技术第三实施例的辅助装置剖面图；图6是本技术第四实施例的辅助装置剖面图；图7是本技术第二实施例的辅助装置显像示意图；图8是本技术第五实施例的辅助装置剖面图；图9是本技术第五实施例的辅助装置显像示意图。图中组件检测成像装置11延伸管固定架 111延伸管112反射镜伸缩架 113反射镜固定架 114锥形反射镜115镜面116组件接承转盘 12影像撷取装置13检测物件2组件检测机3机台31整列装置32转盘33取像装置34运算装置35退料装置36辅助装置4外锥环41内锥环42上开口411、421 下开口412、422锥面413、423 反射面414承接面424平面镜43凸面镜44凹面镜45透明片46检测物件5顶面51端面52底面53辅助镜具体实施方式为了进一步解释本技术的技术方案，下面通过具体实施例来对本技术进 行详细阐述。在本技术被详细描述前，需要说明的是，在以下的说明中，类似的组件是以相 同的编号来表示的。图2和图3所示出的为本技术涉及的一种具有辅助装置的组件检测机3的第 一实施例，该组件检测机3主要包含有一机台31，一设于该机台31上且将检测对象5 —一 整列输出的整列装置32，一承接该整列装置32输出的检测对象5的转盘33，一设置于该转 盘33周边的取像装置34，一介于该转盘33与取像装置34间的辅助装置4，一与该取像装 置34相连结的运算装置35，以及一设置于该转盘33侧边的退料装置36 ；其中，该机台31、 整列装置32、转盘33、取像装置34、运算装置35及退料装置36等均属于本领域公知技术， 不属于本技术的专利技术点，故不再赘述。在本实施例中，该辅助装置4包括有一外锥环41，以及一设于该外锥环41内的内 锥环42 ；其中，该外锥环41具有一上、下开口 411、412，以及一形成于该上、下开口 411、412 间的锥面413，而该锥面413内周缘形成有一反射面414，且该反射面414的倾斜角度恰可 反射该检测对象5的端面52，而前述该反射面414的形成方式可以有多种，作为本技术 的第一实施例，如图3所示，该反射面414在该锥面413内周以磨光的方式形成；作为本实 用新型的第二实施例，如图4所示，该反射面414为在该锥面413上贴设有一平面镜43而 形成；作为本技术的第三实施例和第四实施例，如图5、图6所示，该反射面414为在该 锥面413上贴有一凹面镜45和凸面镜44而形成，不论前述何种镜面均可使该检测对象5 之端面52可清楚成像于该镜面上。为了便于说明，下面的动作说明将以图4所示的平面镜 为例，其它实施例与图4动作方式相同，故不再次描述。该内锥环42可与该外锥环41 一体成型，也可以将该内锥环42设计为一可拆卸式 的结构，当采用的为可拆卸式结构时，该外锥环41可应反射面414的倾斜角度的不同，而适 时地更换，从而避免该内锥环42与外锥环41 一体设计时，造成使用者应不同尺寸的检测对 象5，而必须开设出不同型式得模具；而本实施例图式中采用的为可拆式的设计，该内锥环 42具有一上、下开口 421、422，以及一形成于该上、下开口 421、422间的锥面423，而该锥面 423外周缘形成一承接面424，且该承接面424与反射面414相对应设置，该承接面424用于 接收该反射面41本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有辅助装置的组件检测机，其包含有一机台，一设于该机台上且将检测对象整列输出的整列装置，一承接该整列装置输出的检测对象的转盘，一设置于该转盘周边的取像装置，一介于该转盘与取像装置间的辅助装置，一与该取像装置相连结的运算装置，以及一设置于该转盘侧边的退料装置，该检测对象至少具有一顶面及一位于该顶面周围的端面；其特征在于，该辅助装置包括有一外锥环，以及一设于该外锥环内的内锥环；该外锥环具有一上、下开口，以及一形成于该上、下开口间的锥面，而该锥面内周缘形成有一可反射该检测对象端面的反射面；该内锥环具有一上、下开口，以及一形成于该上、下开口间的锥面，而该锥面外周缘形成一与反射面相对应设置、并接收该反射面所反射的该检测对象的端面影像的承接面，该取像装置分别经该外锥环的上开口与内锥环的上开口撷取该检测对象的顶面影像与该承接面显示的端面影像。

【技术特征摘要】
一种具有辅助装置的组件检测机，其包含有一机台，一设于该机台上且将检测对象整列输出的整列装置，一承接该整列装置输出的检测对象的转盘，一设置于该转盘周边的取像装置，一介于该转盘与取像装置间的辅助装置，一与该取像装置相连结的运算装置，以及一设置于该转盘侧边的退料装置，该检测对象至少具有一顶面及一位于该顶面周围的端面；其特征在于，该辅助装置包括有一外锥环，以及一设于该外锥环内的内锥环；该外锥环具有一上、下开口，以及一形成于该上、下开口间的锥面，而该锥面内周缘形成有一可反射该检测对象端面的反射面；该内锥环具有一上、下开口，以及一形成于该上、下开口间的锥面，而该锥面外周缘形成一与反射面相对应设置、并...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨明瞭，
申请(专利权)人：德宏恩企业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]