【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种嵌入式系统中NOR Flash擦写过程中掉电的保护方法,尤其涉及 一种基于FTL的闪存擦写掉电保护方法。
技术介绍
闪存(Flash)由于快速的读写速度、低能耗、不易损失等特点,在很多场合有应 用,特别是便携式消费性产品中应用极广。NOR和NAND是现在市场上两种主要的非易失闪 存技术。Intel于1988年首先开发出NOR flash技术,彻底改变了原先由EPROM(Erasable Programmable ROM,可擦除可编程 ROM)和 EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,电可擦可编程只读存储器一)统天下的局面。NORFlash的特点是芯片 内执行,这样应用程序可以直接在闪存内运行,不必再把代码读到系统RAM中。NOR的传输 效率很高,在1 4MB的小容量时具有很高的成本效益。NOR Flash中,将空间划分为多个 Block(块),擦除是以一个Block为单位进行的,即擦除至少需要擦除一个Block。FTL (Flash Translation Laye ...
【技术保护点】
一种基于FTL的闪存擦写掉电保护方法,该闪存具有若干数据块,数据块包括若干扇区,其特征在于,该方法包括擦除操作掉电保护部分以及写操作掉电保护部分,其中,擦除操作掉电保护部分,包括以下步骤:为每个数据块增加一个擦除标记,包含有效状态A和无效状态B;进行擦除操作之前将擦除标记写为A,擦除成功后写擦除标记为B,未擦除成功的数据块挂入脏链表;开机检测,将擦除标记仍然为A的数据块进行擦除操作,操作完成后将擦除标记写为B;写操作掉电保护部分,包括以下步骤:将扇区标记调整为所支持闪存的物理写单位,开机扫描每个扇区状态,将扇区标记为有效、但扇区号为无效的扇区的扇区状态修改为脏状态,将扇区标 ...
【技术特征摘要】
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