硅单晶棒测试样片制取装置制造方法及图纸

技术编号:4786831 阅读:214 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种硅单晶棒测试样片制取装置,应用于金刚带锯切割机,所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒(3)的横截面切割硅单晶棒测试样片,所述的硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘(1),所述的橡胶吸盘(1)的外形为锥形,其锥形的大端面上设有锥形的内凹。采用上述技术方案,避免操作人员的手与金刚带锯条接触,用橡胶吸盘和橡胶托杆托杠完成测试样片的取片操作,提高了金刚带锯切割机在切割测试样片操作的安全性,避免出现生产事故;使取片操作更加简单、方便;提高一次生产成功率,避免废品的产生,降低生产成本。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于太阳能产品制造工艺装备的
,涉及太阳能硅单晶棒的测 试样片的制取技术,更具体地说,本技术涉及一种硅单晶棒测试样片制取装置
技术介绍
在现有技术中,太阳能硅单晶棒采用金刚带锯切割机进行切割,其操作原理是以 高速运转的机械大转盘带动镀有金刚砂的高速钢条,对硅单晶体进行切割,以水冷的形式 对带锯进行冷却。但在进行太阳能硅单晶棒测试样片的切割时,由于样片的厚度小于2mm,样片太 薄,无法固定;样片在冷却水的粘力作用下,附着带锯条上,致使样片破裂,甚至飞出,导致 出现生产异常和设备故障,甚至发生人员工伤事故。因此,设计一种样片的切割、固定和取片装置,确保安全生产,是硅单晶样片切割 急需解决的问题。
技术实现思路
针对上述问题,本技术提供了一种硅单晶棒测试样片制取装置,其目的是提 高硅单晶棒测试样片制取加工的安全性。为了实现上述目的,本技术采取的技术方案为本技术所提供的这种硅单晶棒测试样片制取装置,应用于金刚带锯切割机, 所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒的横截面,切割硅单晶棒测试样片,所述的硅单晶棒 测试样片制取装置设橡胶吸盘,所述的橡胶吸盘的外形为锥形,其锥形的大端面上设有锥 形的内凹。为使本技术更加完善,还进一步提出了以下更为详尽和具体的技术方案,以 获得最佳的实用效果,更好地实现专利技术目的,并提高本技术的新颖性和创造性所述的橡胶吸盘的外部锥形的顶端,设橡胶托杆,所述的橡胶托杆的端部与所述 的橡胶吸盘连接为一体。所述的橡胶吸盘的大端外圆直径为30 50mm。所述的橡胶托杆的长度为250 350mm。本技术采用上述技术方案,避免操作人员的手与金刚带锯条接触,用橡胶吸 盘和橡胶托杆托杠完成测试样片的取片操作,提高了金刚带锯切割机在切割测试样片操作 的安全性,避免出现生产事故;使取片操作更加简单、方便;提高一次生产成功率,避免废 品的产生,降低生产成本。附图说明下面对本说明书各幅附图所表达的内容及图中的标记作简要说明图1为本技术的结构示意图;图2为图1所示结构的右视示意图。图中标记为1、橡胶吸盘,2、橡胶托杆,3、硅单晶棒,4、切割面。具体实施方式下面对照附图,通过对实施例的描述,对本技术的具体实施方式如所涉及的 各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理、制造 工艺及操作使用方法等,作进一步详细的说明,以帮助本领域的技术人员对本技术的 专利技术构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解。如图1、图2所表达的本技术的结构,为一种硅单晶棒测试样片制取装置,应 用于金刚带锯切割机,所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒3的横截面,切割硅单晶棒测 试样片。图1中的切割面4即金刚带锯的切割面,其右侧即硅单晶棒测试样片。为了解决在本说明书
技术介绍
部分所述的目前公知技术存在的问题并克服其缺 陷,实现提高硅单晶棒测试样片制取加工的安全性的专利技术目的,本技术采取的技术方 案为如图1、图2所示,本技术所提供的这种硅单晶棒测试样片制取装置,所述的 硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘1,所述的橡胶吸盘1的外形为锥形,其锥形的大端 面上设有锥形的内凹。在带锯机切割操作之前,将橡胶吸盘1的大端面贴紧与硅单晶棒3端面交压紧,橡 胶吸盘1上的锥形的内凹的气体被排出,橡胶吸盘1先吸附在需要取片的硅单晶棒3端面 上;在切割接近完成时,手持橡胶托杆2,避免操作人员手与金刚带锯条过分接触,以橡胶 托杆2完成样片的取片操作。采用上述技术方案,避免操作人员的手与金刚带锯条接触,用 橡胶吸盘和橡胶托杆托杠完成测试样片的取片操作,增加了金刚带锯切割机在切割测试样 片操作的安全性,避免出现生产事故;使取片操作更加简单、方便;提高一次生产成功率, 避免废品的产生,降低生产成本。下面提供的本技术的具体实施示例,供本领域的技术人员参考和应用实施例一如图1和图2所示,本技术所述的橡胶吸盘1的外部锥形的顶端,设橡胶托杆 2,所述的橡胶托杆2的端部与所述的橡胶吸盘1连接为一体。在取片时,操作人员用手握住橡胶托杆2,由于硅单晶棒测试样片被吸在橡胶吸盘 1的端面上,所以很方便地将测试样片取下。实施例二 本技术所述的橡胶吸盘1的大端外圆直径为30 50mm。最大垂直受力可达 3 8kg。实施例三本技术所述的橡胶托杆2的长度为250 350mm。适用于6 8英寸的硅单 晶棒的取片操作。上面结合附图对本技术进行了示例性描述,显然本技术具体实现并不受 上述方式的限制,只要采用了本技术的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进,或未经改进将本技术的构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本技术的保护范围之内。权利要求一种硅单晶棒测试样片制取装置,应用于金刚带锯切割机,所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒(3)的横截面切割硅单晶棒测试样片,其特征在于所述的硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘(1),所述的橡胶吸盘(1)的外形为锥形,其锥形的大端面上设有锥形的内凹。2.按照权利要求1所述的硅单晶棒测试样片制取装置,其特征在于所述的橡胶吸盘(1)的外部锥形的顶端,设橡胶托杆(2),所述的橡胶托杆(2)的端部与所述的橡胶吸盘(1) 连接为一体。3.按照权利要求1或2所述的硅单晶棒测试样片制取装置,其特征在于所述的橡胶 吸盘(1)的大端外圆直径为30 50mm。4.按照权利要求2所述的硅单晶棒测试样片制取装置,其特征在于所述的橡胶托杆(2)的长度为250 350mm。专利摘要本技术公开了一种硅单晶棒测试样片制取装置,应用于金刚带锯切割机,所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒(3)的横截面切割硅单晶棒测试样片,所述的硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘(1),所述的橡胶吸盘(1)的外形为锥形,其锥形的大端面上设有锥形的内凹。采用上述技术方案,避免操作人员的手与金刚带锯条接触,用橡胶吸盘和橡胶托杆托杠完成测试样片的取片操作,提高了金刚带锯切割机在切割测试样片操作的安全性,避免出现生产事故;使取片操作更加简单、方便;提高一次生产成功率,避免废品的产生,降低生产成本。文档编号G01N1/06GK201555728SQ20092004626公开日2010年8月18日 申请日期2009年6月3日 优先权日2009年6月3日专利技术者张笑天, 马四海 申请人:芜湖升阳光电科技有限公司本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种硅单晶棒测试样片制取装置,应用于金刚带锯切割机,所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒(3)的横截面切割硅单晶棒测试样片,其特征在于:所述的硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘(1),所述的橡胶吸盘(1)的外形为锥形,其锥形的大端面上设有锥形的内凹。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:马四海张笑天
申请(专利权)人:芜湖升阳光电科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:34[中国|安徽]

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