测色装置、数据处理装置、测量校正方法以及程序制造方法及图纸

本申请涉及测色装置、数据处理装置、测量校正方法以及程序。测色装置具备：照明部(11)、(12)，对测量物(100)进行照明；二维的光电转换部(133)，将来自由照明部照明的测量物表面的多个位置的光按照每个波长进行分光并接收并转换为电信号；计算单元(14)，基于光电转换部对在测量面的各部中亮度均匀且测量面中的亮度不同的多个样品的受光结果，计算用于对由测色装置(1)内的再照明引起的每个像素的误差进行校正的回归照明校正系数；以及校正单元(14)，使用由计算单元计算出的回归照明校正系数，对测量物的测量值进行校正。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及适合于测量例如具有纹理等二维构造的测量物的颜色、反射率的测色装置、数据处理装置、测量校正方法以及程序。

技术介绍

1、作为能够简便地测量具有纹理等二维构造的样品的颜色、光谱反射率的测色装置，已知二维的测色装置。该二维的测色装置具备对测量物进行照明的照明部、和将来自由照明部照明的测量物表面的多个位置的反射光按照每个波长进行分光并转换为电信号的二维的光电转换部。

2、用户能够通过使用该测色装置，将来自测量物表面的多个位置的反射光按照每个波长进行分光并进行测量，从而得到每个波长的空间性的亮度分布、色度分布。

3、这样，在使用二维的测色装置的情况下，主要目的是获取每个波长的空间性的分布。因此，作为测色装置，可举出在测量面的各部中测量值没有误差、换言之面内均匀性来作为重要的性能。

4、即，在对在测量面的各部中亮度均匀且每个波长的测量值的分布被视为大致均匀的测量物进行测量时，理想情况下，要求在二维的光电转换部的各像素得到完全相同的测量结果。然而，在实际的测色装置中，由于以下所代表的面内均匀性的阻碍因素，仅通过硬件上的努本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测色装置，其中，具备：

2.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

3.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

4.根据权利要求2所述的测色装置，其中，

5.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

6.根据权利要求2所述的测色装置，其中，

7.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

8.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

9.根据权利要求2所述的测色装置，其中，

10.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

11.根据权利要求2所述的测色装置，其中，

12....

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种测色装置，其中，具备：

2.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

3.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

4.根据权利要求2所述的测色装置，其中，

5.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

6.根据权利要求2所述的测色装置，其中，

7.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

8.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

9.根据权利要求2所述的测色装置，其中，

10.根据权利要求1所述的测色装置，其中，

11.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：田中宏树，寺冈良隆，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：