【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的非限制性实例和实施例涉及一种光学传感器装置,该光学传感器装置可用于例如测量物体的一个或多个表面特性,例如到被定位在传感器装置的测量范围内的物体的表面的距离和/或物体的表面的光学特性。
技术介绍
1、本领域已知的适用于测量到被研究物体的距离和/或被研究物体的形状的光学位移传感器应用各种光学设计和技术,其中最合适的光学设计和技术可以至少部分地取决于利用光学位移传感器的测量仪器的要求和预期应用。然而,例如测量结果的可靠性和准确性、相对简单的设计和小尺寸典型地是针对任何光学位移传感器的一般要求,以确保其在广泛的不同应用中的使用,而光学位移传感器的设计上的任何改进都是高度期望的,该改进有助于在不显著增加光学设计的尺寸和/或复杂性的情况下提供改进的测量准确性和可靠性并且/或者有助于在实现较小和/或简化的光学设计的情况下提供测量结果的不受影响的准确性和可靠性。
技术实现思路
1、本专利技术的一个目的是提供一种光学传感器装置,该光学传感器装置表现出相对简单的设计和相对小的物理尺寸,同时使得能够
...【技术保护点】
1.一种用于确定被定位在测量范围内的物体(180)的表面的至少一个特性的光学传感器装置(110),所述传感器装置(110)包括:
2.根据权利要求2所述的光学传感器装置(110),其中所述检测器组件(170)被布置成基于跨所述传感器平面上沿着所述轴(y')的所述一个或多个位置子范围的所述横向分散的光的一个或多个局部强度最大值来确定以下项中的一项或多项:
3.根据权利要求2所述的光学传感器装置(110),其中所述检测器组件(170)被布置成经由标识所述一个或多个候选距离来确定到所述物体(180)的所述表面的所述距离,所述一个或多个候选距离分别对应
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于确定被定位在测量范围内的物体(180)的表面的至少一个特性的光学传感器装置(110),所述传感器装置(110)包括:
2.根据权利要求2所述的光学传感器装置(110),其中所述检测器组件(170)被布置成基于跨所述传感器平面上沿着所述轴(y')的所述一个或多个位置子范围的所述横向分散的光的一个或多个局部强度最大值来确定以下项中的一项或多项:
3.根据权利要求2所述的光学传感器装置(110),其中所述检测器组件(170)被布置成经由标识所述一个或多个候选距离来确定到所述物体(180)的所述表面的所述距离,所述一个或多个候选距离分别对应于所述传感器平面上沿着所述轴(y')的所述一个或多个位置子范围中的相应位置子范围内的所述横向分散的光的所述一个或多个局部强度最大值的相应位置。
4.根据权利要求2或3所述的光学传感器装置(110),其中所述检测器组件(170)被布置成基于所述一个或多个候选距离来确定到所述物体(180)的所述表面的所述距离,所述一个或多个候选距离分别对应于所述一个或多个波长,所述一个或多个波长对应于所述传感器平面上沿着所述轴(y')的所述一个或多个位置子范围中的相应位置子范围内的所述横向分散的光的所述一个或多个局部强度最大值的相应位置。
5.根据权利要求3或4所述的光学传感器装置(110),其中所述检测器组件(170)被布置成:
6.根据权利要求3至5中任一项所述的光学传感器装置(110),其中
7.根据权利要求6所述的光学传感器装置(110),其中所述预定义波长范围跨越在10纳米至150纳米的范围内的带宽。
8.根据权利要求3至5中任一项所述的光学传感器装置(110),其中
9.根据权利要求8所述的光学传感器装置(110),其中所述预定义波长范围跨越具有在10纳米至50纳米的范围内的宽度的带。
10.根据权利要求8或9所述的光学传感器组件(110),其中所述预定义波长范围介于420纳米与480纳米之间。
11.根据权利要求2至10中任一项所述的光学传感器组件(110),其中所述检测器组件(170)被布置成基于跨所述传感器平面上沿着所述轴(y')的所述一个或多个位置子范围的所述横向分散的光的...
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