一种芯片验证方法及系统技术方案

技术编号:46624180 阅读:1 留言:0更新日期:2025-10-14 21:19
本申请公开了一种芯片验证方法及系统,涉及芯片仿真验证技术领域。该方法为:从获取到的测试用例中解析出测试场景特征;根据预先设置的场景特征与配置特征之间的对应关系,确定与所述测试场景特征相匹配的目标配置特征;将所述目标配置特征输出至所述芯片测试平台外接的可执行工具中;获取所述可执行工具对所述目标配置特征进行解析得到的配置文件;将所述配置文件对应的配置信息输入至所述芯片测试平台中的被测芯片中,以对所述被测芯片进行芯片仿真验证。由此,实现了在硅前验证环境下提升芯片的验证速度的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片仿真验证,尤其涉及一种芯片验证方法及系统


技术介绍

1、当前芯片的规模和复杂度越来越大,验证环境的规模和复杂度也随之提升,如何快速完成验证环境的搭建和调试,如何有效开发验证用例,尤其是有效的随机用例,对于验证的快速收敛至关重要,对于芯片的开发周期也是至关重要的。

2、现有芯片硅前电子设计自动化(eda)验证环境的调试是基于二步法,验证环境是基于system verilog或verilog语言搭建的,因此,在验证环境进行芯片仿真验证时需要先编译后仿真,涉及验证环境变化的情况都需要重新编译,尤其对于大型芯片,硬件描述语言(hdl)编译时间随代码规模呈非线性增长,调试效率低下,每次小的寄存器配置改动都需要浪费一次编译时间。此外,大型芯片还有个痛点,整个芯片的寄存器配置和接口驱动较为复杂,每个测试用例(testcase)的开发难度都比较大,复杂场景的testcase开发效率低,进而影响大型芯片的仿真验证。

3、因此,如何在硅前验证环境下提升芯片的验证速度是值得考虑的技术问题之一。


>技术实现思路本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片验证方法,其特征在于,应用于芯片测试平台中,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个场景特征对应至少一种配置特征,每种配置特征对应一个子特征范围;

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述目标配置特征具有多种时,所述配置文件包括多种配置特征对应的配置文件;

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述配置特征至少包括寄存器配置特征和激励配置特征;所述配置文件至少包括寄存器配置文件和激励配置文件;

6.一种芯片验证系统,其特征在于,包括...

【技术特征摘要】

1.一种芯片验证方法,其特征在于,应用于芯片测试平台中,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个场景特征对应至少一种配置特征,每种配置特征对应一个子特征范围;

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述目标配置特征具有多种时,所述配置文件包括多种配置特征对应的配置文件;

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述配置特征至少包括寄存器配置特征和激励配置特征;所述配置文件至少包括寄存器配置文件和激励配置文件;

6.一种芯片验证系统,其特征在于,包括芯片测试...

【专利技术属性】
技术研发人员:邹建涛张栗榕慕长林
申请(专利权)人:格创通信浙江有限公司
类型:发明
国别省市:

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