一种高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法及溶液样品的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法及溶液样品的检测方法，涉及表面等离子共振检测技术领域。包括：制作氧化铁颗粒，所述氧化铁颗粒的直径为500nm～2μm，所述氧化铁颗粒中同时存在二价铁和三价铁；将所述氧化铁颗粒溶解在水中，用超声波装置打散以得到氧化铁颗粒溶液；将所述氧化铁颗粒溶液滴在基片上，静置第一时间段将其晾干，所述第一时间段为40h～56h；采用蒸镀法在所述氧化铁颗粒上包覆金属薄膜，所述金属薄膜的厚度为150nm～200nm。其可以制作出高磁敏性的检测芯片，并能对溶液样品中的磁性物质进行有效地检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及表面等离子共振检测，具体涉及一种高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法及溶液样品的检测方法。

技术介绍

1、表面等离子共振(surface plasma resonance，简写为spr)是一种光学物理现象。与其相关的表面等离子共振光谱技术是一种表面分析技术，具有实时监测、高灵敏度以及无需标记的特点，被广泛地应用于生物传感、环境监测、药物筛选、临床诊断、食品工程等方向。表面等离子共振光谱技术的检测原理为：由光源产生探测光，经过光路系统最终被棱镜折射到检测芯片上的金属薄膜，从而激发金属薄膜表面spr辐射，棱镜另一侧的探测器会实时监测反射光的光谱。与此同时，金属薄膜的另一侧与样品池接触，在流动系统的控制下从进液口导入检测液体，检测液体中的待测物质(如有机分子链、细胞等)会黏附在金属薄膜表面并改变界面折射率和介电常数。通过对比进样前后光谱(峰值位置、强度、线宽、线形等信息)随时间的变化，可以分析待测物质的物化性质，如成分、尺寸等信息。

2、现有的表面等离子共振检测芯片，磁敏感性较低，无法对溶液样品中的磁性物质(如铅、锰颗粒等)进行较为本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法，其特征在于，所述金属薄膜包括一层银薄膜和一层金薄膜，所述银薄膜与金薄膜的厚度之和为150nm～200nm；所述采用蒸镀法在所述氧化铁颗粒上包覆金属薄膜具体包括：

3.如权利要求1所述的高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法，其特征在于，所述制作氧化铁颗粒具体包括：

4.如权利要求3所述的高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法，其特征在于，所述氧化铁颗粒的直径为2μm，所述第一比例为：2.4g FeCl3·6H2O：1...

【技术特征摘要】

1.一种高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法，其特征在于，所述金属薄膜包括一层银薄膜和一层金薄膜，所述银薄膜与金薄膜的厚度之和为150nm～200nm；所述采用蒸镀法在所述氧化铁颗粒上包覆金属薄膜具体包括：

3.如权利要求1所述的高磁敏性表面等离子共振检测芯片的制作方法，其特征在于，所述制作氧化铁颗粒具体包括：

4.如权利要求3所述的高磁敏...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫其庚，王斯媛，张凯，赵一民，李嘉珣，任浩宁，石守教，李思贤，
申请(专利权)人：保定学院，
类型：发明
国别省市：