【技术实现步骤摘要】
本技术涉及反射光谱测量，尤其是涉及一种反射光谱测量光路。
技术介绍
1、反射光谱测量是光谱仪最常见的应用之一，其基本结构为光源照射物体，然后用光谱仪接收经过物体漫反射回来的光，并用光谱仪对收集来的光进行光谱分析。
2、目前市场上主流反射光谱测量光路主要采用倾斜照明倾斜采集、垂直照明倾斜采集或者倾斜照明垂直采集的方式，这些照明采集方式均存在着两个比较大的缺陷：
3、其一，照明区域和采集区域在不同工作距离上无法重合，照明、采集区域不重合不但造成了照明能量的浪费，也可能会使光谱仪采集到未被指定光源照明的区域的信息，从而影响光谱数据的准确性。
4、其二，照明光不均匀，一个均匀照明光源经过倾斜照明之后，会出现靠近光源一侧的光功率密度较高，远离光源一侧的光功率密度较低的现象；
5、从不同方向再增加照明光源数量会一定程度上增加光束的均匀性，但理论上依然很难做到整个照明区域的均匀照明。
6、其三，参考校准板放置位置受限，在传统倾斜照明或倾斜采集的装置中，因为照明区域光谱采集区域存在不重合的情况...
【技术保护点】
1.一种反射光谱测量光路，包括光谱仪(1)、光纤(2)和反射镜(3)，其特征在于：光源发出的照明光打到所述反射镜(3)上，经反射镜(3)反射后使照明光垂直向下照射，并且在反射镜(3)的下方设置管道(4)，管道(4)内置一根光纤(2)，光纤(2)的入光端位于样品上方，光纤(2)的出光端连接在光谱仪(1)上，光纤(2)用于收集从样品漫反射回来的携带光谱信息的光，并将光传输到光谱仪(1)进行分析。
2.根据权利要求1所述的反射光谱测量光路，其特征在于：所述反射镜(3)为平面镜。
3.根据权利要求2所述的反射光谱测量光路，其特征在于：所述管道(4)的下...
【技术特征摘要】
1.一种反射光谱测量光路，包括光谱仪(1)、光纤(2)和反射镜(3)，其特征在于：光源发出的照明光打到所述反射镜(3)上，经反射镜(3)反射后使照明光垂直向下照射，并且在反射镜(3)的下方设置管道(4)，管道(4)内置一根光纤(2)，光纤(2)的入光端位于样品上方，光纤(2)的出光端连接在光谱仪(1)上，光纤(2)用于收集从样品漫反射回来的携带光谱信息的光，并将光传输到光谱仪(1)进行分析。
2.根据权利要求1所述的反射光谱测量光路，其特征在于：所述反射镜(3)为平面镜。
3.根据权利要求2所述的反射光谱测量光路，其特征在于：所述管道(4)的下端安装有耦合透镜(6)，耦合透镜(6)位于光纤(2)的入光端前，耦合透镜(6)用于调整光纤(2)采集角度。
4.根据权利要求3所述的反射光谱测量光路，其特征在于：在所述耦合透镜(6)参数确定后，根据照明区域需求选择合适耦合透镜(6)焦距，实现照明光束和采集区域的长距离匹配。
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【专利技术属性】
技术研发人员：万文武，吴晋龙，刘海军，
申请(专利权)人：上海昊量光电设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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