【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体器件制造,尤其涉及一种高精密半导体设备压板式喷镀工艺。
技术介绍
1、半导体器件制造过程中,薄膜沉积是关键工艺步骤之一,直接影响器件的性能和可靠性。随着集成电路特征尺寸不断缩小和三维结构日益复杂化,对薄膜沉积工艺提出了更高要求,尤其是在薄膜均匀性、覆盖率、材料利用率和精确控制等方面。目前,半导体行业常用的薄膜沉积技术主要包括物理气相沉积(pvd)、化学气相沉积(cvd)、原子层沉积(ald)等,而喷镀技术作为一种特殊的物理沉积方法,因其设备结构简单、工艺参数易控、材料选择范围广等优点,在特定应用领域得到了广泛应用。
2、传统的喷镀技术主要包括常压喷镀、减压喷镀和超声波辅助喷镀等。常压喷镀技术操作简单,但沉积膜层均匀性难以控制,通常仅用于对精度要求不高的场合。减压喷镀通过在低压环境下进行喷镀,可改善薄膜质量,但仍面临边缘效应明显、阶梯覆盖率低等问题。超声波辅助喷镀通过引入超声波振动提高材料雾化效率,但对复杂结构表面的适应性不足。
3、现有技术在以下几个方面仍存在明显不足:
4、传统喷
...【技术保护点】
1.一种高精密半导体设备压板式喷镀工艺,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述智能动态压板系统包括:
3.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述脉冲交替喷镀系统包括:
4.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述工艺还包括多相流体通道系统,其包括:
5.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述在线监测系统包括:
6.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述等离子体活化处理采用高纯惰性气体,气压为5-15Pa,射频功率为100-300W,处理时间为30-60秒。
...【技术特征摘要】
1.一种高精密半导体设备压板式喷镀工艺,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述智能动态压板系统包括:
3.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述脉冲交替喷镀系统包括:
4.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述工艺还包括多相流体通道系统,其包括:
5.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述在线监测系统包括:
6.根据权利要求1所述的工艺,其特征在于,所述等离子体活化处理采用高纯惰性气体,气...
【专利技术属性】
技术研发人员:吉学东,陆建军,
申请(专利权)人:南通通州东大机械有限公司,
类型:发明
国别省市:
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