光学系统技术方案

本发明专利技术涉及一种光学系统，包括具有光轴的显微镜、用于显微镜的照明源和自参考相位成像系统。照明源被配置为照射物空间。显微镜被配置为使物空间的物平面与像平面共轭，自参考相位成像系统被布置在像平面中或像平面附近。自参考相位成像系统被配置为产生物平面在强度和相位上的实像。照明源的时间相干(TC)在0.4％和6％之间，并且照明源在自参考相位成像系统的水平处的空间相干(SC)在0.4％和10％之间。光学系统还包括处理单元，该处理单元被配置为沿着光轴使实像数值传播。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本申请涉及一种光学系统。特别地，这种系统使得测量纳米颗粒的浓度成为可能，而无需对纳米颗粒的先验知识并且无需对颗粒或其介质进行改性。

技术介绍

1、在现有技术中，纳米颗粒浓度的光学测量遇到了提供工具以确定纳米颗粒在其中成像的测量体积的问题。实际上，在其中能够检测到纳米颗粒的体积取决于纳米颗粒的尺寸和性质以及光学系统。因此，在没有纳米颗粒物理性质的先验知识的情况下，难以光学地测量纳米颗粒的浓度，并且需要一种能够促进该测量的光学系统。

2、为了本申请的目的，适用以下定义：

3、-光源的“时间相干tc”：光源的波长范围除以其中心波长的比率。

4、-光学系统中的光源的“空间相干sc”：光学系统的照明的数值孔径与收集的数值孔径的比率。

5、-“自参考相位成像系统”：除了光强度之外还提供入射波的相位的自参考检测系统或检测器。该系统是自参考的，因为它不使用单独的光学臂作为参考。

6、“实像”：由所使用的自参考相位成像系统捕获的物平面中波场的强度和相位的图像。

7、“数值传播图像”：平行于物平面的平面中本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光学系统，其包括具有光轴的显微镜、用于所述显微镜的照明源以及自参考相位成像系统，

2.根据权利要求1所述的光学系统，其中所述照明源的所述时间相干(TC)接近2.2％，并且所述照明源在所述自参考相位成像系统的水平处的所述空间相干(SC)接近2.5％。

3.根据权利要求1或2所述的光学系统，其中所述照明源是照射带通滤波器的白光激光器。

4.根据权利要求1或2所述的光学系统，其中所述照明源是照射带通滤波器的白色等离子体源。

5.根据权利要求1或2所述的光学系统，其中所述照明源是激光二极管。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种光学系统，其包括具有光轴的显微镜、用于所述显微镜的照明源以及自参考相位成像系统，

2.根据权利要求1所述的光学系统，其中所述照明源的所述时间相干(tc)接近2.2％，并且所述照明源在所述自参考相位成像系统的水平处的所述空间相干(sc)接近2.5％。

3.根据权利要求1或2所述的光学系统，其中所述照明源是照射带通滤波器的白光激光器。

4.根据权利要求1或2所述的光学系统，其中所述照明源是照射带通滤波器的白色等离子体源。

5.根据权利要求1或2所述的光学系统，其中所述照明源是激光二极管。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的光学系统，其中所述照明源被配置为照射纳米颗粒溶液中的物空间，并且其中所述处理单元被配置为：

【专利技术属性】
技术研发人员：P·伯恩，M·C·阮，
申请(专利权)人：米利亚德公司，
类型：发明
国别省市：

全部详细技术资料下载 我是这个专利的主人