【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路板抗震性能设计，具体而言，涉及一种电路板光谱信号分选方法及系统。
技术介绍
1、在电子设备可靠性测试领域，电路板震动实验是评估其抗震性能的核心手段，现有技术主要依赖人工目检或二维图像对比检测元器件偏移，存在显著缺陷，如人工测量难以量化毫米级位移及微倾斜角（如电解电容小于5°的倾角，且易受主观判断影响，其次传统方法无法系统性关联元器件装配参数（如引脚长度、焊盘尺寸）与震动后的实际偏移量，导致抗震设计优化缺乏数据支撑。
2、尤其对于高惯性器件（电解电容、大功率电感等），其偏移模式复杂（包含倾斜、本体位移），现有技术无法精确解析多维偏移特征。因此，亟需一种能自动、高精度解析元器件震动形变，并关联装配参数与抗震性能的智能分选方法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种电路板光谱信号分选方法及系统，以改善上述人工测量难以量化电路板震动实验后的毫米级位移及微倾斜角的问题。
2、为了实现上述目的，本申请实施例提供了如下技术方案：
3、一方面...
【技术保护点】
1.一种电路板光谱信号分选方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的电路板光谱信号分选方法，其特征在于，基于每个关键元器件区域的光谱子图计算关键元器件的偏移参数，包括：
3.根据权利要求2所述的电路板光谱信号分选方法，其特征在于，电解电容的抗震指数计算方式为：获取电解电容装配参数中的引脚长度，并基于引脚长度配置垂直夹角与倾斜角度的权重，然后基于垂直夹角和倾斜角度通过加权算法计算得到电解电容在当前引脚长度下的抗震指数。
4.一种电路板光谱信号分选系统，其特征在于，所述系统包括：
【技术特征摘要】
1.一种电路板光谱信号分选方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的电路板光谱信号分选方法，其特征在于，基于每个关键元器件区域的光谱子图计算关键元器件的偏移参数，包括：
3.根据权利要求2所述的电路板光谱信号分选方法，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏昌军，林永浩，刘俊君，
申请(专利权)人：成都凌亚科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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